產(chǎn)品簡介
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普密斯3D白光干涉輪廓儀Meter View 系列 WLI-1000能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率實(shí)現(xiàn)“面”測(cè)量，非接觸式測(cè)量樣品表面形貌，不損傷產(chǎn)品本身。
廣泛應(yīng)用于光學(xué)，半導(dǎo)體，材料，精密機(jī)械等等領(lǐng)域，用于表面形貌紋理，微觀結(jié)構(gòu)分析。
產(chǎn)品特點(diǎn)
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1. 表征微觀形貌的粗糙度測(cè)量;
2. 臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量;
3. 自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;
4. 校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等數(shù)據(jù)處理功能;
5. 對(duì)比分析和多文件分析等輔助分析功能。
應(yīng)用領(lǐng)域
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對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表?的平?度、粗糙度、波紋度、?形輪廓、表?缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階?度、彎曲變形情況、加?情況等表?形貌特征進(jìn)?測(cè)量和分析。
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