日置IM3536是一款高頻LCR測(cè)試儀，支持DC至8MHz寬頻測(cè)量，具備±0.05%精度和1ms高速測(cè)試特性，廣泛應(yīng)用于電子元件研發(fā)與產(chǎn)線檢測(cè)。 日置IM3536核心參數(shù) ?測(cè)量范圍?：DC、4Hz至8MHz，覆蓋主流電子元件測(cè)試頻段。?? 1?? 2 ?精度與速度?：±0.05%基本精度，最快1ms單次測(cè)量。?? 1?? 2 ?低阻測(cè)量?：1mΩ以上精度保證，支持DC偏壓模擬工況測(cè)試。?? 1?? 2 ?數(shù)據(jù)存儲(chǔ)?：內(nèi)置32000組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，支持USB導(dǎo)出分析。?? 3 日置IM3536應(yīng)用場(chǎng)景 ?電容器評(píng)估?：依據(jù)JIS標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量電解電容/陶瓷電容隨頻率/電壓變化的容值特性。?? 1?? 2 ?電源電感測(cè)試?：8MHz高頻特性適配下一代電源元器件開發(fā)。?? 3?? 4 ?產(chǎn)線兼容性?：標(biāo)配治具需額外選配，支持快速切換測(cè)試條件適配產(chǎn)線需求
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