冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

型號： TS系列

--- 產(chǎn)品詳情 ---

簡單介紹

TS系列冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber 的詳細(xì)介紹

TS系列冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減??；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；

冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法107 溫度沖擊試驗

主要技術(shù)指標(biāo):

兩箱式高低溫沖擊試驗箱
型號			CTS-50	CTS-120	CTS-180
HxWxD(mm)		內(nèi)	300x460x350	500x610x400	600x660x450
		外	2250x1200x1950	2720x1050x1950	2920x1100x2150
性能參數(shù)	高溫室	溫度暴露范圍	﹢60℃ ～ ﹢200℃
		預(yù)熱溫度上限	200℃
		升溫時間	R.T→﹢200℃約40min
	低溫室	溫度暴露范圍	0 ～ ﹣75℃
		預(yù)熱溫度下限	﹣75℃
		降溫時間	R.T→﹣70℃約60min
	提籃	溫度范圍	﹣65 ～ 150℃
		溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）
		溫度偏差	≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）
	轉(zhuǎn)換時間		≤5S
	溫度回復(fù)時間		≤5min
結(jié)構(gòu)	外箱材質(zhì)		冷軋鋼板表面噴塑（象牙白）
	內(nèi)箱材質(zhì)		#304鏡面不銹鋼（1.2mm）
	隔熱材料		非危廢類環(huán)保型玻璃纖維保溫層
制冷	制冷方式		風(fēng)冷或水冷
	制冷機		進口壓縮機
溫度傳感器			鎧裝鉑電阻
控制器			西門子PLC模塊（含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式PLC控制軟件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶觸摸控制屏（含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式觸摸屏控制軟件PlatinumV1.0）。
數(shù)據(jù)存儲于功能接口			USB數(shù)據(jù)接口：設(shè)備帶有USB存儲接口，存儲信息包括試驗時間、試驗?zāi)繕?biāo)值和試驗實測值等主要運行參數(shù)，存儲格式為.csv格式，此文件可由宏展公司上位機通訊軟件直接生產(chǎn)曲線，該USB接口不支持熱插拔及下載功能，如要用U盤存儲試驗數(shù)據(jù)，需一直讓U盤處于正常聯(lián)接狀態(tài)。 TCP/IP通訊接口：試驗箱帶有RJ45數(shù)據(jù)接口，后期如購買上位機通訊功能后（含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式計算機軟件PlatinumV1.0），即可聯(lián)接此接口以實現(xiàn)計算機管理功能，單臺試驗箱支持5臺計算機同時訪問、上位機軟件*大可管理32臺試驗箱。
裝機功率（KVA）			19.7	32	36
電源			AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標(biāo)配配置			產(chǎn)品使用說明書、試驗報告1份、合格證及質(zhì)量保證書各1份、隔板2層、帶腳輪
滿足標(biāo)準(zhǔn)			GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2
詳細(xì)參數(shù)以對應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書為準(zhǔn)

三箱式冷熱沖擊試驗箱
型號			TSL-80A	TSL-150A	TSL-225A	TSL-408A
			TSU-80W	TSU-150W	TSU-225W	TSU-408W
			TSS-80W	TSS-150W	TSS-225W	TSS-408W
內(nèi)部尺寸（mm）		W	500	600	750	850
		H	400	500	500	600
		D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）		W	1460	1560	1710	1880
		H	1840	1940	1940	2040
		D	1500	1600	1700	1900
試驗方式			氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能	高溫室	預(yù)熱溫度范圍	﹢60℃ ～ ﹢200℃
	高溫室	升溫速率	﹢60→＋200℃≤20分鐘
	低溫室	預(yù)冷溫度范圍	﹣78－0℃
	低溫室	降溫速率	﹢20→－75℃≤80分鐘
	試驗室	溫度偏差	±2℃
		溫度范圍	TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃ TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃ TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		溫度恢復(fù)時間	5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力（kg）			30
試樣重量（kg）			7.5	7.5	10	10
注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升溫速率和降溫速率（溫度上升和溫度下降均為試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能）；溫度恢復(fù)條件（室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路）
詳細(xì)參數(shù)以對應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書為準(zhǔn)

冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗規(guī)范

駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時間(Min)
(exposure time)

覆歸時間
(recovery time)

周期
或次數(shù)

試驗起
始點

備注

適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)

+85

+10

----

-55

≧10min
≦15min

----

含駐留時間&
轉(zhuǎn)換時間≦15min

*少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)

實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

----

+125

+15

◎

----

-10

+150

+15

◎

----

+150

+15

-65

◎

----

-10

MIL-STD-202F
(Method No.107G)

+83

-25

+10

-55

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過5 min

◎

-3

+125

-65

◎

----

-5

+125

-65

◎

----

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義

手動轉(zhuǎn)
移時間
2～3Min

為駐留時間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec

★

◎

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗結(jié)束
點在高溫)

Transfer time
不超過2 min

★

-0

-5

+85

-40

◎

-0

-5

+105

-55

◎

．

-0

-5

+105

-65

．

----

-0

-5

+105

．

----

-0

IPC 2.6.6

+85

-25

+10

-55

30 Min

10-15
Min

5 cycle

◎

-0

-5

+125

-5

-65

◎

----

-0

-5

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

≧10min
≦15min

----

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

◎

+80

±2

◎

JESD22
A104-A

+125

+10

-40

≦15min

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

-0

-10

+85

+10

-55

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

◎

．

----

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