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電子行業(yè)缺陷檢測(cè)之外觀Logo缺陷檢測(cè)說明

朗銳智科 ? 2019-10-08 16:00 ? 次閱讀
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可應(yīng)用在電子行業(yè)內(nèi)的缺陷檢測(cè),例如可穿戴產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)、平板電腦Logo缺陷檢測(cè)等,同時(shí)也可應(yīng)用在醫(yī)療器械等高亮度、鏡面缺陷檢測(cè)。

目前,主流的產(chǎn)品logo都是噴印在產(chǎn)品上的,但由于工藝的原因,印制的logo通常都存在一定的印刷不良,如印刷錯(cuò)位、漏印、錯(cuò)印等,這嚴(yán)重影響了產(chǎn)品的外觀及品牌的整體形象, 針對(duì)此類問題,很多企業(yè)采用人工檢測(cè)的方式來檢測(cè)印制品的質(zhì)量,但是由于人檢測(cè)過程中不可避免的失誤,會(huì)導(dǎo)致大量漏檢、錯(cuò)檢和人工損傷,愈來愈高的人力成本也成為生產(chǎn)廠家規(guī)模擴(kuò)張的一大制約因素。
在工業(yè)中使用高光面材質(zhì)加工一些平整度較高,且表面要求較高的工件,如手機(jī)logo,軍用設(shè)備中的導(dǎo)光板等產(chǎn)品, 如蘋果LOGO瑕疵檢測(cè)。
此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等。

難點(diǎn),問題點(diǎn):
反光問題:由于材質(zhì)表面光潔度很高,已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面,光源即使在很弱的狀態(tài)下,表面的反光也會(huì)有非常強(qiáng)的對(duì)比度,這種對(duì)比度會(huì)把表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋,使得視覺拍照無法檢測(cè)出零件表面缺陷。
倒影問題:由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面,一般的光學(xué)鏡頭和視覺光源的燈珠等都會(huì)在材質(zhì)表面形成倒影,這個(gè)倒影會(huì)成像在最后的檢測(cè)畫面上,會(huì)嚴(yán)重影響材質(zhì)表面的成像效果,造成檢測(cè)無法進(jìn)行。
朗銳智科根據(jù)多年機(jī)器視覺檢測(cè)項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),總結(jié)出的成熟系統(tǒng)解決方案,主要用來解決電子產(chǎn)品表面Logo缺陷檢測(cè),目前主要應(yīng)用在國(guó)內(nèi)產(chǎn)品Logo和手機(jī)外殼Logo表面缺陷檢測(cè)。



碰傷、擊傷、缺口瑕疵檢測(cè)
刮傷瑕疵檢測(cè)
壓傷、凹痕瑕疵檢測(cè)
針孔瑕疵檢測(cè)
腐蝕點(diǎn)、白點(diǎn)、麻點(diǎn)瑕疵檢測(cè)
臟污瑕疵檢測(cè)
研磨痕瑕疵檢測(cè)
料線、料紋瑕疵檢測(cè)
凸包瑕疵檢測(cè)等
可應(yīng)用在電子行業(yè)內(nèi)的缺陷檢測(cè),例如可穿戴產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)、平板電腦Logo缺陷檢測(cè)等,同時(shí)也可應(yīng)用在醫(yī)療器械等高亮度、鏡面缺陷檢測(cè)。


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