哈哈哈哈哈操欧洲电影,久草网在线,亚洲久久熟女熟妇视频,麻豆精品色,久久福利在线视频,日韩中文字幕的,淫乱毛视频一区,亚洲成人一二三,中文人妻日韩精品电影

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

電子顯微鏡下觀察英特爾的14nm與臺積電的7nm差異

如意 ? 來源:快科技 ? 作者:萬南 ? 2020-09-24 10:02 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

這些年在制程工藝上,Intel老是被詬病慢半拍,其實評價也不客觀,畢竟Intel對制程節(jié)點的命名更嚴lao肅shi,所以才有Intel的10nm相當于甚至更優(yōu)于臺積電/三星7nm的說法。

想要從微觀上鑒別制程差異,加拿大Up主Der8auer找來電子顯微鏡探究了一番,此次選取的對象是Intel 14nm+++工藝的酷睿i9-10900K和臺積電7nm的AMD 銳龍9 3950X處理器。

開蓋當然是基本操作了,還要盡可能把處理器搞得支離破碎,最后用導電膠固定在支架上,以便電鏡X射線工作。

為了方便對比,特別選取的是各自處理器的L2緩存部分,這往往是工藝水準的集中體現。

簡單來說,Intel 14nm芯片晶體管的柵極寬度為24nm,而AMD芯片的柵極寬度為22 nm,柵高也相當相似。

雖然乍一看兩者并沒有太大不同,但仔細一瞧,臺積電的節(jié)點仍然比英特爾的密度要大得多,畢竟名義上領先一代。

電子顯微鏡下觀察英特爾的14nm與臺積電的7nm差異


責編AJX

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 英特爾
    +關注

    關注

    61

    文章

    10316

    瀏覽量

    181025
  • 臺積電
    +關注

    關注

    44

    文章

    5807

    瀏覽量

    176997
  • 電子顯微鏡
    +關注

    關注

    1

    文章

    126

    瀏覽量

    10700
  • 14nm
    +關注

    關注

    2

    文章

    135

    瀏覽量

    83176
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    一文讀懂透射電子顯微鏡(TEM)

    在我們肉眼無法觸及的微觀世界里,在那里,原子是基石,它們的排列方式、相互作用,共同決定了材料的一切宏觀性能。為了研究這個尺度,科學家們開發(fā)了透射電子顯微鏡(TEM)。TEM是一種電子光學儀器,它使
    的頭像 發(fā)表于 03-23 15:38 ?103次閱讀
    一文讀懂透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM)

    簡儀PCIe-9604DC模塊在掃描電子顯微鏡中的應用

    掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,簡稱SEM)是電子顯微鏡的重要類別。它擅長捕捉樣品表面的微觀形貌,能清晰呈現納米級別的表面起伏、結構細節(jié),比如觀察金屬材料的斷口形態(tài)、生物細胞的表面紋理。
    的頭像 發(fā)表于 10-24 14:30 ?902次閱讀
    簡儀PCIe-9604DC模塊在掃描<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>中的應用

    如何選擇合適的顯微鏡(光學顯微鏡/透射電鏡/掃描電子顯微鏡

    合適的顯微鏡成為許多科研工作者關心的問題。透射電子顯微鏡當研究需要觀察納米尺度(通常小于100納米)的結構細節(jié)時,透射電子顯微鏡(TEM)無疑是首選工具。這種
    的頭像 發(fā)表于 09-28 23:29 ?1258次閱讀
    如何選擇合適的<b class='flag-5'>顯微鏡</b>(光學<b class='flag-5'>顯微鏡</b>/透射電鏡/掃描<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>)

    共聚焦顯微鏡電子顯微鏡有什么區(qū)別?

    在現代科研與高端制作領域,微觀探索依賴高分辨率成像技術,共聚焦顯微鏡電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測中,二者均突破傳統(tǒng)光學顯微鏡局限,但在原理、性能及應用場景上差異顯著,適配不
    的頭像 發(fā)表于 09-18 18:07 ?1259次閱讀
    共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>和<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>有什么區(qū)別?

    掃描透射電子顯微鏡的三種模式

    很多人以為穿透式電子顯微鏡TEM就是倍率比較高的掃描式電子顯微鏡SEM,但其實TEM擁有許多強大的應用,是科技業(yè)不可或缺的研發(fā)檢測工具。
    的頭像 發(fā)表于 08-26 09:37 ?2264次閱讀

    壓電物鏡定位器讓冷凍電子顯微鏡中的原子清晰可見

    項技術的核心挑戰(zhàn)之一,便是在原子冷凍的狀態(tài),也能實現極高的成像精度。 一、冷凍電子顯微鏡:窺探原子結構的眼睛 冷凍電子顯微鏡(Cryo-electron microscopy,簡稱cryo-EM)是一種利用
    的頭像 發(fā)表于 08-22 08:55 ?1346次閱讀
    壓電物鏡定位器讓冷凍<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>中的原子清晰可見

    電子顯微鏡配哪樣的UPS不間斷電源比較好 優(yōu)比施UPS電源為您解答

    在科研實驗室和高端制造領域,電子顯微鏡是不可或缺的重要設備。這類精密儀器對電力供應的穩(wěn)定性和純凈度要求極高,任何電壓波動或電力中斷都可能導致設備損壞或數據丟失。因此,為電子顯微鏡配置合適的UPS
    的頭像 發(fā)表于 08-14 09:00 ?865次閱讀
    <b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>配哪樣的UPS不間斷電源比較好 優(yōu)比施UPS電源為您解答

    掃描電鏡與掃描電子顯微鏡:解析二者的關系與區(qū)別

    密不可分的關系,同時在使用場景等方面又存在一定差異。從名稱來看,“掃描電鏡”是“掃描電子顯微鏡”的簡稱。就像“計算機”常被簡稱為“電腦”一樣,這是一種為了方便交流和
    的頭像 發(fā)表于 07-25 10:42 ?1276次閱讀
    掃描電鏡與掃描<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>:解析二者的關系與區(qū)別

    透射電子顯微鏡(TEM)的工作原理

    什么是透射電子顯微鏡?透射電子顯微鏡(TEM)的原理根基在于電子與物質的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束,經由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速,達到高能
    的頭像 發(fā)表于 07-07 15:55 ?2233次閱讀
    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM)的工作原理

    什么是透射電子顯微鏡?

    透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡)是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,通過電子與樣品原子的碰撞產生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關
    的頭像 發(fā)表于 05-23 14:25 ?1663次閱讀
    什么是透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>?

    透射電子顯微鏡在金屬材料的研究

    價值的指導。透射電子顯微鏡的工作原理與強大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品,并通過電磁透鏡進行成像與分析的精密設備。其工作原理基于電子與物質之間的相互
    的頭像 發(fā)表于 05-22 17:33 ?1220次閱讀
    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>在金屬材料的研究

    電子顯微鏡中的磁透鏡設計

    十九世紀末,科學家首次觀察到軸對稱磁場對陰極射線示波器中電子束產生的聚焦作用,這種效應與光學透鏡對可見光的聚焦作用驚人地相似?;诖?,Ruska等人在1938年發(fā)明了利用電子束作為光源的電子顯
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:38 ?3244次閱讀
    <b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>中的磁透鏡設計

    透射電子顯微鏡(TEM)與聚焦離子束技術(FIB)在材料分析中的應用

    什么是透射電子顯微鏡(TEM)透射電子顯微鏡(TEM)是一種功能強大的分析工具,可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術獲得固態(tài)樣品的化學信息:能量色散X射線分析(EDX)、電子
    的頭像 發(fā)表于 05-09 16:47 ?1164次閱讀
    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM)與聚焦離子束技術(FIB)在材料分析中的應用

    關鍵尺寸掃描電子顯微鏡技術解讀

    計量學是推動當前及未來幾代半導體器件開發(fā)與制造的重要基石。隨著技術節(jié)點不斷縮小至100納米,甚至更小的線寬,以及高深寬比結構的廣泛應用,掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其高分辨率和多功能性,依然在全球半導體制造的多個階段中占據核心地位。
    的頭像 發(fā)表于 05-07 15:18 ?1963次閱讀
    關鍵尺寸掃描<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>技術解讀

    什么是透射電子顯微鏡(TEM)?

    透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM,是一種高分辨率的微觀分析儀器,自1933年發(fā)明以來,已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境,電子槍發(fā)射
    的頭像 發(fā)表于 04-25 17:39 ?5080次閱讀
    什么是透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM)?
    日照市| 齐齐哈尔市| 天峨县| 甘孜县| 岳阳市| 铜山县| 澳门| 江阴市| 永清县| 贵德县| 凤凰县| 高淳县| 贡山| 怀集县| 五台县| 龙里县| 仙游县| 酒泉市| 辉县市| 宜川县| 霍山县| 白河县| 都昌县| 镇远县| 尚志市| 文昌市| 香港 | 乐业县| 深州市| 太康县| 都兰县| 瓦房店市| 雅安市| 巴里| 剑川县| 晋州市| 新安县| 荥经县| 花莲县| 保定市| 汪清县|