本文演示了靈活，可擴(kuò)展PXI平臺的開放式體系結(jié)構(gòu)和其硬件與軟件的優(yōu)勢，用于半導(dǎo)體測試

被測設(shè)備

目標(biāo)設(shè)備是具有802.11n和藍(lán)牙功能的WiFi IC。在查看了目標(biāo)IC規(guī)范后，確定了一組測試IC的資源要求，并將其與PXI尺寸中可用的儀器相匹配。被測設(shè)備（DUT）需要四個電源，并且在給DUT上電時必須按特定順序?qū)﹄娫催M(jìn)行排序。

此外，盡管DUT的IDD非常低，但在初始化DUT時，其中一個電源的浪涌電流可能會超過1A。電源要求強(qiáng)制使用可編程電源，并且必須容納1A的浪涌電流。初始加電時，DUT處于低功率空閑狀態(tài)，因此可以進(jìn)行通信。DUT上有兩個通信端口：JTAG端口和掃描端口。JTAG端口用于配置和初始化DUT，并執(zhí)行IO的初始結(jié)構(gòu)測試。掃描端口用于配置DUT的運行并完成結(jié)構(gòu)IO測試。還可以使用“掃描”端口控制DUT進(jìn)行其他功能測試。

由于DUT已經(jīng)在UltraFlex系統(tǒng)上進(jìn)行測試，因此DUT有一套經(jīng)過驗證的測試模板，可用于PXI系統(tǒng)。Marvin Test Solutions的文件轉(zhuǎn)換工具可用于將ATP文件轉(zhuǎn)換為硬件特定的模式，數(shù)字測試儀器滿足準(zhǔn)確表示ATP模式文件參數(shù)所需的速度、信道密度、模式深度和定時能力。

測試系統(tǒng)

為了代替與UltraFlex系統(tǒng)相關(guān)的IC處理器，需要一種與DUT進(jìn)行接口的方法。設(shè)計了專用的DUT板，并通過電纜將其連接到演示系統(tǒng)的儀器。DUT板設(shè)計經(jīng)過模塊化處理，可以輕松擴(kuò)展測試站點的數(shù)量，并展示多站點測試功能。

測試系統(tǒng)

所示的系統(tǒng)設(shè)計包括GX7100BPXI 3U / 6U組合式智能機(jī)箱。需要3U和6U PXI插槽的組合以容納兩個GX7400A可編程電源。每個GX7400A在三個6U插槽中提供兩個150W可編程電源。

選擇了四個GX5296PXI模塊作為DUT的數(shù)字測試儀器。GX5296每塊卡提供32個IO通道，每個通道具有完整的PMU功能，64M模式深度，125 MHz時鐘速率，1nS邊沿時序分辨率，每個引腳的時序以及DUT響應(yīng)數(shù)據(jù)的實時比較。使用MTS的GtDio6x-FIT文件轉(zhuǎn)換工具，從UltraFlex ATP模式文件轉(zhuǎn)換了數(shù)字測試模板，并進(jìn)行了格式化，以使每個DUT的模式都駐留在兩個GX5296儀器上。將功能從測試一個DUT擴(kuò)展到兩個DUT只需添加第二組GX5296儀器，并將這些模塊連接到第二個DUT測試板即可。

測試軟件

使用ATEasy開發(fā)環(huán)境編寫了用于控制加載轉(zhuǎn)換后的ATP測試模板，運行模擬接觸測試，執(zhí)行測試模板并將測試結(jié)果報告給操作員的軟件，并使用集成的Test Executive GUI控制了測試執(zhí)行。還編寫了演示，以顯示針對半導(dǎo)體測試應(yīng)用使用開放式體系結(jié)構(gòu)硬件和軟件工具的總體多功能性。

責(zé)任編輯：xj

原文標(biāo)題：解決方案聚焦：如何使用PXI儀器進(jìn)行高級數(shù)字測試

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