太赫茲成像系統(tǒng)經(jīng)過過去十來年的發(fā)展業(yè)已成熟。推動其發(fā)展的一個重要驅動力是集成光學技術在通信領域的使用，實現(xiàn)了緊湊型、高性能時域光譜（TDS）系統(tǒng)。

在現(xiàn)代太赫茲TDS系統(tǒng)中，光纖耦合集成元件已經(jīng)完全取代了分布式自由空間光學器件。這不僅意味著在空間需求方面具有優(yōu)勢，也有利于將太赫茲測量性能集成到各種類型的科學和工業(yè)應用系統(tǒng)中。具體來說，晶圓分析系統(tǒng)就可以利用太赫茲微探針來實現(xiàn)高分辨率近場成像。

據(jù)麥姆斯咨詢報道，位于德國慕尼黑的Toptica Photonics公司TeraFlash系統(tǒng)是一種基于光纖結構的太赫茲TDS模塊，將光學和電子元件高度集成一體。整個系統(tǒng)包括一個飛秒級脈沖激光器、光學延遲元件以及數(shù)據(jù)采集和控制單元，全部集成在一個19英寸大小的機架安裝盒中。唯一的外部元件是兩個光纖耦合光導（PC）天線，用于產(chǎn)生和探測由TDS模塊光激發(fā)產(chǎn)生的太赫茲輻射。

商業(yè)整合

通過光纖/電纜連接外部太赫茲天線元件和TDS系統(tǒng)，得益于其較小的空間尺寸和免受射頻（RF）信號干擾能力，將把太赫茲檢測引入新的應用環(huán)境。

我們的太赫茲系統(tǒng)工作波長為1550nm，將Toptica的TDS模塊與PC近場探針結合在一起，可使光纖中的信號色散最小化，并將光學采樣脈沖的持續(xù)時間保持在100fs以下。所得到的太赫茲系統(tǒng)只需20ms就可記錄完整的太赫茲時域瞬態(tài)，這對于許多需要連續(xù)太赫茲測量的應用是一個很大的優(yōu)勢，諸如在線質量檢測、無損檢測和基于光柵掃描的太赫茲（近場）成像。

與標準配置的自由空間傳輸測量相反（其中發(fā)射器天線產(chǎn)生的太赫茲輻射被準直發(fā)射并聚焦到遠場探測器天線上），我們基于光纖結構的太赫茲TDS系統(tǒng)將TeraFlash源模塊與Protemics TeraCube近場掃描系統(tǒng)整合在一起，其中后者包括一個用于太赫茲探測和成像的PC近場探針（Protemics TeraSpike TD-800-X-HR-WT）（見圖1）。

圖1 光學時域光譜單元（a）產(chǎn)生超快泵浦/探測信號，而近場掃描單元（b）包括太赫茲發(fā)射器和近場探測器元件，以及用于高分辨率測繪的平移臺；被測試的樣品或器件將加載到近場掃描單元中。

計算機單元控制TDS模塊以及近場成像系統(tǒng)。在測量過程中，光柵掃描系統(tǒng)的運動控制單元將樣本的當前位置信息連續(xù)傳送給數(shù)據(jù)采集單元，將其與每個位置記錄的太赫茲數(shù)據(jù)結合。具有高采樣率的TDS模塊可以在連續(xù)運動下（無停止和中斷）進行表面掃描，實現(xiàn)完整的太赫茲瞬態(tài)探測。

PC近場探針由一個1μm厚的低溫生長而成砷化鎵（GaAs）懸臂組成，該懸臂具有一對錐形電極，在探針尖端形成PC開關。它可探測靠近樣品表面的太赫茲透射場。與近場電光晶體探針相比，它具有非破壞性和高靈敏度的特點。

散射型探針只能探測樣品垂直方向的z場矢量，而孔徑型探針只能探測水平方向的（x，y）場矢量。相比之下，我們的PC近場探測器可對x、y或z軸方向的場矢量分量選擇性敏感。

科學應用

當懸停在被測樣品表面幾微米處進行測試時，憑借3~10μm的最大空間分辨率， Protemics太赫茲成像儀在工業(yè)和科學領域有了新的應用可能。

例如，在科學領域，荷蘭基礎能源研究所（DIFFER）的研究人員發(fā)現(xiàn)，超材料的共振頻率在遠場測量的數(shù)值與近場的測量結果相差很大。在他們的研究中表明，在1μm近距離檢測的頻率值為0.62THz，而在遠場距離（約24cm）則變?yōu)?.85THz。