Saniffer從2019年11月到2020年4月間組織了六次針對SSD測試相關(guān)的技術(shù)講座，分別邀請了全球業(yè)內(nèi)知名的技術(shù)專家依次講述了并且演示了NAND測試，PCIe Gen 4 NVMe SSD性能、功能、協(xié)議兼容性、故障注入測試，SSD熱插拔、電壓拉偏和功耗測試，PCIe Gen 4和Gen 5協(xié)議分析和問題診斷，UFS 3.0/3.1協(xié)議分析，以及UNH IOLLabs針對NVMe 1.4 spec的兼容性測試的詳細(xì)解讀等主題。

Saniffer現(xiàn)在將上述六次講座的內(nèi)容匯總后重新上傳，全部提供1080P高清視頻，可以在手機(jī)端高清觀看，有進(jìn)一步興趣了解更多內(nèi)容的朋友可以聯(lián)系下面圖片中的郵箱，或者點擊左下角“閱讀原文”留言獲取原始PPT文檔或者高清視頻，或者告知我們你們未來希望希望獲得哪些方面的測試技術(shù)講座，我們后續(xù)會繼續(xù)聯(lián)系國外專家盡量滿足大家的需求。

插播：

Saniffer公司邀請了Prodigy公司UFS協(xié)議分析專家于2021/3/16日下午 3:30 - 4:30進(jìn)行Prodigy UFS 4.0協(xié)議分析儀技術(shù)講座，有需要參加的可以點擊左下角“閱讀原文”留言，我們會提前發(fā)送會議邀請連接。下面是技術(shù)講座內(nèi)容：

1. Overview of UFS2.1 and UFS 3.1

2. Debugging UFS Protocol host and device.

3. Discussion on Upcoming Features on UFS 4.0

4. UFS Protocol Analyzer features: powerful trigger capabilities, segmented memory and continuous streaming

5. Live Demo

SSD測試技術(shù)講座第一期：NAND特性分析技術(shù)分享2019.11.16

意大利NplusT公司專家Tamas Kerekes圍繞針對SSD設(shè)計非常重要的NAND Flash的特性分析和測試進(jìn)行的技術(shù)分享，包括如何測試NAND在不同溫度下的誤碼率（BER）分布曲線，這對于從事ECC/LDPC算法優(yōu)化的工程師比較有幫助。主題如下：?為什么需要NAND特性分析?NAND特性分析的流程講解?針對NAND特性分析的工具要求?測試產(chǎn)品相關(guān)技術(shù)?現(xiàn)場技術(shù)演示?Q&A問題答疑

SSD測試技術(shù)講座第二期：PCIE GEN 3/4 NVME SSD測試技術(shù)分享 2019.11.23

本次Seminar主題是美國SanBlaze公司針對PCIe Gen 3/4 NVMe SSD的測試：?性能和延遲測試?數(shù)據(jù)一致性測試?600+個自動化定制腳本NVMe測試腳本oNVMe通用命令oNVMe I/O測試oNVMe ResetoNVMe namespace管理oNVMe 基本管理命令oNVMe-MI 完整命令集測試oNVMe dual port 測試oNVMe 熱插拔和鏈路測試oNVMe Quarch信號毛刺注入測試oNVMe其它指令測試，例如SR-IOVoUNH IOL NVMe 1.4認(rèn)證測試oUNH IOL NVMe-MI 認(rèn)證測試oSSD Endurance JEDEC Spec長時間測試?電壓/電流/功耗測試?完整Quarch熱插拔集成?NVMe 1.4規(guī)范完整支持?SGL/PRP支持可變block size/metadata/Bit Buck?掉電測試，支持?jǐn)?shù)據(jù)校驗/Atomicity校驗?針對VF的完整SR-IOV支持?支持VDM，SRIS/SNRS, ZNS, TCP等測試?針對NVMe SSD和盤柜的環(huán)境測試支持（-5C to 75C）?純軟件方案/基于定制的硬件環(huán)境?制動選擇Single或者Dual Port NVMe SSD?基于Web的GUI管理?... ...

SSD測試技術(shù)講座第三期：NVME SSD 熱插拔和電壓拉偏及功耗測試_2019.11.30

本次SSD測試技術(shù)分享為邀請全球SSD熱插拔自動化測試以及電壓拉偏和功耗測試領(lǐng)域排名#1的英國Quarch公司總部CTO, Andy Norrie進(jìn)行技術(shù)分享。

本次技術(shù)分享將圍繞PCIe/NVMe Gen3/4 SSD的熱插拔測試和電壓拉偏測試，該技術(shù)也可以應(yīng)用于傳統(tǒng)的SAS/SATA SSD的測試。

技術(shù)分享內(nèi)容主題概略如下：

為什么針對熱插拔和電壓拉偏需要自動化測試

關(guān)于熱插拔和電壓拉偏測試人們需要了解什么

熱插拔技術(shù)分享以及演示

電壓拉偏技術(shù)分享

Python腳本支持介紹

熱插拔和電壓拉偏視頻演示

Introduction to Hot-swap & fault injection testing

Introduction to power analysis for storage devices

Introduction to Quarch Compliance Suite

FMS 2019_ Automated hot-swap & fault injection

FMS 2019_ Automated power_performance testing

Quarch Power Studio - Integration with Iometer

Quarch Hotplug module and array controller demo

Q&A

SSD測試技術(shù)講座第四期：PCIE GEN4&5協(xié)議分析診斷測試技術(shù)分享_2019.12.7

本次PCIe Gen 4/5協(xié)議分析主題為SerialTek/Ellisys公司的革命性架構(gòu)設(shè)計介紹以及l(fā)ive demo，SerialTek Gen 5 x16協(xié)議分析儀以及Gen 4協(xié)議分析儀獲得國外如Intel, Broadcom, Micron, Microsoft, Phison, Kioxia，以及國內(nèi)如Memblaze, YMTC, Dputech, Inspur等知名公司的應(yīng)用，該設(shè)計徹底解決了傳統(tǒng)Gen 4/5協(xié)議分析儀的固有弊端，在協(xié)議解碼速度（1秒鐘解碼144GB buffer trace），Interposer信號高保真，無需抓取bootup過程（反復(fù)上下電不會解碼錯誤），trace保存速度（保存144GB僅需要6分鐘），隨時斷網(wǎng)，遠(yuǎn)程協(xié)助，四合一interposer設(shè)計（U.2/U.3/singe port/dual port）等方面獲得業(yè)內(nèi)用戶的廣泛認(rèn)同，同時也提供了極高的性價比。

PCIe Gen 4/5協(xié)診斷和分析不僅適合從事NVMe SSD的firmware開發(fā)/測試(FW, FTE – Firmware Testing Engineering)部門學(xué)習(xí)，也適合于NVMe SSD架構(gòu)設(shè)計(Architect)，產(chǎn)品驗證(Product Validation Engineering,或Test Engineering)，應(yīng)用工程（AE），技術(shù)支持（FAE – Field Application Engineer），失效分析（FAE – Failure Analysis Engineer）等部門。同時，該技術(shù)講座也適合用研發(fā)/測試各類通用PCIe Gen 4/5控制器和板卡類工程師學(xué)習(xí)，例如顯卡，RAID卡，HBA卡，網(wǎng)卡（含有線以及M.2WIFI網(wǎng)卡），等等各種用途板卡。本次技術(shù)分享內(nèi)容主題概略如下：?Gen4/5協(xié)議分析需要了解的幾個痛點?Gen4/5協(xié)議分析認(rèn)識的幾個誤區(qū)?Gen4/5協(xié)議分析儀購買的幾個陷阱?Gen4/5協(xié)議分析儀產(chǎn)品介紹?Gen4/5協(xié)議分析Live Demoo環(huán)境搭建oGUI界面介紹oTrace分析?Q&A答疑

SSD測試技術(shù)講座第五期：UFS 3.0協(xié)議分析診斷測試技術(shù)分享_2019.12.21

本次UFS 3.0/3.1協(xié)議分析技術(shù)講座邀請了Prodigy公司專家Godfree，通過PPT以及實際演示展示了其分析儀的強(qiáng)大功能，目前該分析儀已經(jīng)應(yīng)用于業(yè)內(nèi)知名的公司如：Qualcomm, Samsung, Micron, Toshiba/Kioxia以及國內(nèi)從事UFS Host和device的知名公司。

UFS 2.1存儲已經(jīng)廣泛應(yīng)用中高端手機(jī)里面，現(xiàn)在或明年一些新發(fā)布的手機(jī)將采用更快的UFS3.0存儲。同時，UFS存儲從2017年起已經(jīng)成為SATA SSD或者NVMeSSD的一個可選替代產(chǎn)品開始應(yīng)用在一些筆記本電腦上面。所以，對于從事SSD的工程師也需要關(guān)注了解UFS3.0協(xié)議的發(fā)展?fàn)顩r。

本次UFS 3.0協(xié)議診斷和分析不僅適合從事UFS3.0的固件開發(fā)/測試學(xué)習(xí)，也適合UFS3.0架構(gòu)設(shè)計，產(chǎn)品驗證，應(yīng)用工程（AE），技術(shù)支持，失效分析等部門工程師。

本次技術(shù)分享內(nèi)容主題如下：

MPHY，UniPro, UFS以及SCSI協(xié)議介紹

UFS3.0和UFS2.0/2.1的區(qū)別，UFS3.1 Spec

UFS3.0協(xié)議在移動市場的應(yīng)用

UFS3.0協(xié)議分析Live Demo

環(huán)境搭建

GUI界面介紹

Trace分析

SSD測試技術(shù)講座第六期：UNH IOL NVME 1.4 CTS測試分享_2020.4.11

本次技術(shù)講座分成兩個部分，總計2.5小時，其中前面1小時15分鐘我們邀請了UNH IOL實驗室主任David Woolf講述一下關(guān)于最新的UNH IOL針對NVMe 1.4 spec的兼容性測試認(rèn)證，后面的1小時15分鐘我們邀請了SanBlaze工程師演示了SanBlaze系統(tǒng)測試PCIe Gen 4 NVMe SSD的強(qiáng)大功能，SanBlaze提供的600+以上的NVMe全面測試用例，以及緊跟UNH IOL最新的NVMe 1.4 spec推出最新的兼容性測試用例。9:00 – 10:15 UNH IOL, David Woolf關(guān)于UNH-IOL (3 min)自我介紹 UNH IOL是誰？關(guān)于NVMe兼容性測試項目(5 min)兼容性測試的目的和要求 UNH-IOL和NVMe Org官方組織如何合作什么是Integrators List如何認(rèn)證產(chǎn)品并加入Integrators ListNVMe Spec規(guī)范(10 min) NVMe 1.4和1.3的區(qū)別NVMe SSD測試概述(15 min) NVMe兼容性測試涉及范圍，需要測試哪些項目？ NVMe互操作性測試，如何測試？ NVMe-MINVMe-oF測試概述(10 min) NVMe-oF涉及哪些底層傳輸技術(shù)？ NVMe-oF兼容性測試涉及范圍，需要測試哪些項目？ NVMe-oF互操作性測試UNH-IOL NVMe Test Tools (20 min)測試內(nèi)容以及工具使用 IOL INTERACT NVMe Testing Software ver 12.0 --> 13.0增加哪些條目視頻演示 Demo license試用 //*發(fā)給參會者Working with UNH-IOL (10 min)遠(yuǎn)程私有測試安排 Plugfests會員費(fèi)用，臨時會員費(fèi)用以及相關(guān)策略重點回顧和答疑10:15 – 11:30 SanBlaze, StephenHynesNVMe以及SBexpress/SANalze Certified概述(10 min)UNH IOL Conformance Test演示(35 min): SBExpress測試腳本/UNH IOL測試腳本裝載，執(zhí)行，結(jié)果以及報告分析 NVMe其它測試功能概述

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