近日，廈門大學(xué)科研團隊在微型LED非接觸檢測技術(shù)研究方向取得重要進展，在國際頂級期刊IEEE Transactions on Industrial Electronics上發(fā)表題為 A Noncontact Photoelectric Joint Detection Method for Mini-LEDs Based on the Photovoltaic Effect 的研究論文。該論文第一作者為廈門大學(xué)電子科學(xué)與技術(shù)學(xué)院電子科學(xué)系博士生鐘晨明和助理教授郭偉杰，通訊作者為廈門大學(xué)電子科學(xué)與技術(shù)學(xué)院的陳忠教授和呂毅軍教授。

論文鏈接

https://doi.org/10.1109/TIE.2023.3270507

研究背景

微型LED作為新一代的顯示技術(shù)，將LED結(jié)構(gòu)進行微小化而來，繼承了LED的特點，具備低功耗、高亮度、超高分辨率與色彩飽和度、反應(yīng)速度快等優(yōu)點。微型LED未來將擴展到可穿戴/可植入器件、AR/VR/MR等多個領(lǐng)域。為了提升并確保LED顯示器的良率以及成本控制，芯片檢測是制程中不可或缺的關(guān)鍵步驟。微型LED芯片的傳統(tǒng)檢測方法采用探針接觸，但當(dāng)芯片尺寸小于30微米時，電極尺寸僅有幾微米大小，探針檢測方法難以滿足要求且存在諸多問題，如探針接觸易損壞LED芯片，檢測速度緩慢，不支持批量檢測。

研究內(nèi)容

該研究工作提出了一種基于光生伏特效應(yīng)和電磁耦合理論的非接觸方法來測量Mini-LED的光電特性，其中包括I-V特性、反向飽和電流和增強KGD檢測。開發(fā)并搭建一體化非接觸檢測Mini-LED光電特性的測試系統(tǒng)。系統(tǒng)采用405 nm激光器激發(fā)Mini-LED產(chǎn)生光生電流，通過正交微型線圈獲取感應(yīng)信號，并送入數(shù)字鎖相放大器進行信號提取，然后實現(xiàn)目標(biāo)參數(shù)的測量。所提方法可以有效地解決由于鍵合線斷裂或芯片虛焊而導(dǎo)致的KGD檢測失效等問題，具有在大規(guī)模微型LED生產(chǎn)中應(yīng)用部署的潛力。

近年來，廈門大學(xué)半導(dǎo)體照明與顯示實驗室依托國家集成電路產(chǎn)教融合創(chuàng)新平臺、福建省LED照明與顯示行業(yè)技術(shù)開發(fā)基地、福建省半導(dǎo)體照明工程技術(shù)研究中心、福建省光電照明與顯示企業(yè)服務(wù)型制造公共服務(wù)平臺等科研平臺；在微型LED器件特性綜合表征方法研究及應(yīng)用領(lǐng)域，取得了一系列研究成果；與三安光電、乾照光電、晶能光電、友達光電、信達光電、開發(fā)晶、特儀科技、致晶科技等相關(guān)企業(yè)開展了卓有成效的產(chǎn)學(xué)合作。該研究工作得到了國家自然基金、福建省自然科學(xué)基金、福建省技術(shù)創(chuàng)新重點攻關(guān)及產(chǎn)業(yè)化項目、廈門市科技重大專項、深圳市自然科學(xué)基金等經(jīng)費資助。

技術(shù)更新是行業(yè)進步的最大動力，中國照明學(xué)會半專委主任唐國慶為鼓勵企業(yè)堅持“技術(shù)創(chuàng)新”“產(chǎn)品創(chuàng)新”，為行業(yè)技術(shù)先鋒企業(yè)設(shè)立首創(chuàng)獎，目前第十屆中國LED首創(chuàng)獎申報平臺已啟動，其金獎按細(xì)分領(lǐng)域的技術(shù)或產(chǎn)品綜合評估，頒獎典禮將于6月9日在光亞展同期活動第十屆中國LED首創(chuàng)大會暨中國照明學(xué)會半專委年會上舉行，企業(yè)可自主掃碼申報。

審核編輯 ：李倩