優(yōu)秀的產(chǎn)品離不開(kāi)完善的測(cè)試，即使一個(gè)簡(jiǎn)單的USB接口也要確保穩(wěn)定性及兼容性。不同的U盤在ARM+Linux板卡下的兼容性、速率怎么樣呢？本文將為大家提供測(cè)試參考數(shù)據(jù)及詳細(xì)測(cè)試步驟！

1. 測(cè)試準(zhǔn)備

主控選用最近發(fā)布的64位Cortex-A55核心板，搭載16 bit高速DDR4 內(nèi)存，最高配置為1G內(nèi)存+8G存儲(chǔ)，工作溫度滿足-40~85℃等級(jí)。該系列核心板外設(shè)資源豐富，支持千兆網(wǎng)x 2、USB2.0 x 2、UART x 5、CAN-FD x 2、SPI x 3、I2C x 2、I2S x 4、ADC x 2 等。

圖1 HD-G2UL系列核心板

U盤選用市面上常見(jiàn)的?？怠㈤W迪、愛(ài)國(guó)者、金士頓品牌，部分U盤支持USB3.0模式，但受制于ARM處理器的USB2.0，其均只能工作在USB2.0模式。

2. 測(cè)試原理

2.1dd命令

1.Linux dd 命令用于讀取、轉(zhuǎn)換并輸出數(shù)據(jù)。

2.dd 可從標(biāo)準(zhǔn)輸入或文件中讀取數(shù)據(jù)，根據(jù)指定的格式來(lái)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，再輸出到文件、設(shè)備或標(biāo)準(zhǔn)輸出。

3.測(cè)試指令如下：

2.2dd的相關(guān)解釋

2.3開(kāi)始測(cè)試

將U盤插入U(xiǎn)SB口后開(kāi)發(fā)板會(huì)打印插入U(xiǎn)盤時(shí)的調(diào)試信息，并自動(dòng)掛載到/run/media/sda1目錄下。按照測(cè)試原理中的測(cè)試方法逐個(gè)測(cè)試U盤，并記錄數(shù)據(jù)。

2.3.1海康威視 USB3.0 64GB

2.3.2閃迪USB3.0 16GB

2.3.3愛(ài)國(guó)者USB3.0 64GB

2.3.4金士頓USB3.0 32GB

2.3.5閃迪 USB2.0 1GB

2.3.6愛(ài)國(guó)者USB2.0 32GB

3. 測(cè)試結(jié)果

注：受測(cè)試環(huán)境影響，本數(shù)據(jù)可能存在偏差，僅供開(kāi)發(fā)者參考。