介電耐壓與擊穿試驗(yàn)的區(qū)別及測(cè)試設(shè)備選擇

耐壓測(cè)試是一種非常通用的測(cè)試，可用于多種應(yīng)用，從研發(fā)和型式測(cè)試，到生產(chǎn)線末端甚至維修后驗(yàn)證電氣安全。

在這篇文章中，我們來(lái)看看兩種最常見的耐壓測(cè)試之間的差異，即介電耐壓測(cè)試和介電擊穿測(cè)試。

原則上，這兩種測(cè)試在被測(cè)器件（DUT）上的應(yīng)用幾乎相同，但測(cè)試結(jié)果往往不同。

耐壓測(cè)試通常包括兩個(gè)測(cè)試端子、一個(gè)輸出電壓源和一個(gè)回流端子，泄漏電流流入回流端子并由測(cè)試設(shè)備測(cè)量。

介電耐壓試驗(yàn)

介電耐壓試驗(yàn)是耐壓試驗(yàn)中最常見的一種。它涉及施加規(guī)定的電壓，對(duì)于由電源電壓供電的設(shè)備，通常在1000V或更高的范圍內(nèi)。

測(cè)試（輸出）電壓施加一段規(guī)定的時(shí)間（保持時(shí)間），從型式測(cè)試的幾分鐘到生產(chǎn)（常規(guī)）測(cè)試的低至一秒不等。

通常，測(cè)試的成功結(jié)果將由在返回端子中檢測(cè)到的電流量來(lái)確定。如果電流過多（跳閘電流），則測(cè)試將作為故障中止。

電流的大小通常以毫安為單位測(cè)量，并將設(shè)置一個(gè)電流閾值來(lái)確定測(cè)試是否通過。同樣，根據(jù)應(yīng)用的不同，該值可能會(huì)有所不同。型式試驗(yàn)場(chǎng)景的限值在100mA范圍內(nèi)是相當(dāng)常見的，在這種情況下，試驗(yàn)是在更可控的實(shí)驗(yàn)室型環(huán)境中進(jìn)行的。當(dāng)在生產(chǎn)線上進(jìn)行測(cè)試時(shí)，為了確保測(cè)試操作員的安全，這些限制通常要低得多，在5mA范圍內(nèi)是可以接受的。

這種類型的測(cè)試通常沒有破壞性，除非設(shè)備中已經(jīng)存在故障，因此它在生產(chǎn)環(huán)境中是如此常見的測(cè)試。然而，作為型式試驗(yàn)的一部分進(jìn)行的較長(zhǎng)試驗(yàn)可能會(huì)削弱絕緣材料的完整性。因此，作為型式試驗(yàn)一部分進(jìn)行試驗(yàn)的產(chǎn)品通常不適合銷售。

電介質(zhì)擊穿試驗(yàn)

電介質(zhì)擊穿測(cè)試以與上述相同的方式進(jìn)行，但是在該特定測(cè)試中沒有規(guī)定最大電壓，并且通常沒有保持時(shí)間。

相反，電壓逐漸增加，直到被測(cè)產(chǎn)品的絕緣體不能再承受電壓并發(fā)生擊穿為止。該電壓是絕緣體變得導(dǎo)電的點(diǎn)。

在這種情況下，關(guān)鍵參數(shù)是擊穿點(diǎn)的記錄電壓。

如上所述，這種測(cè)試的本質(zhì)可以被視為破壞性的，其目的是迫使DUT達(dá)到擊穿點(diǎn)。因此，這種類型的測(cè)試僅在研發(fā)環(huán)境中進(jìn)行，不適合用于常規(guī)測(cè)試，因?yàn)檫@會(huì)使設(shè)備處于不安全狀態(tài)。

結(jié)論

可以看出，這兩種測(cè)試方法在確定產(chǎn)品的整體安全性方面都有一席之地，但這些測(cè)試仍然需要選擇正確的時(shí)間和地點(diǎn)?？紤]到這一點(diǎn)，很明顯，為什么僅在研發(fā)型環(huán)境中使用介電擊穿測(cè)試，并且在測(cè)試后按預(yù)期使用產(chǎn)品的情況下，介電耐壓測(cè)試是證明安全性的更可接受的方法。

測(cè)試方案

5kV AC / 6kV DC→絕緣耐壓測(cè)試設(shè)備 HAL101/103/104、Sentinel、ST HV（DC）

3kV AC→ Supernova Elite（Class II）、STM/L（Class II）

2.5kV AC→ 絕緣耐壓測(cè)試設(shè)備PROFITEST PRIME AC、SafeCheck 8（Class II）

審核編輯 黃宇