EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶(hù)服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。
EM科特（EmCrafts）Cube系列提供5軸共心樣品臺(tái)（電動(dòng)或手動(dòng)）的臺(tái)式SEM。中心傾斜對(duì)于3D重構(gòu)功能至關(guān)重要。
產(chǎn)品特點(diǎn)
l高分辨率,與傳統(tǒng)SEM一樣優(yōu)異
l高空間利用率和便攜性，易于移動(dòng)?？砂惭b在任何地方
l無(wú)需等待：抽氣90秒/排氣10秒
l高度可靠的高壓組件
l無(wú)需對(duì)準(zhǔn)電子槍
技術(shù)參數(shù)
審核編輯 黃宇
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀(guān)點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
掃描電鏡
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
120瀏覽量
9971
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
從五大角度分析SEM和TEM的區(qū)別
掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別：掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是兩種常用的電子顯微鏡，它們?cè)谟^(guān)察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)方面各有特點(diǎn)。以下是對(duì)
淺談掃描電鏡的分辨率概念
掃描電鏡（SEM）的分辨率是指其能夠分辨樣品表面兩點(diǎn)之間的最小距離，是衡量其成像能力的關(guān)鍵指標(biāo)。
蚊子翅膀不用噴金也能看？聊聊掃描電鏡用“鏡筒內(nèi)加減速”死磕低電壓成像
，直接通過(guò)低電壓還原樣品的原始狀態(tài)。
2、讓電鏡回歸測(cè)量工具的嚴(yán)謹(jǐn)
掃描電鏡不僅僅是照相機(jī)，對(duì)很多半導(dǎo)體和金相客戶(hù)來(lái)說(shuō)，它更是精密尺子。但很多電鏡在低倍率下存在場(chǎng)曲（邊緣模糊），或者X/Y軸比例不一致
發(fā)表于 12-09 17:42
聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）的三大應(yīng)用技術(shù)
聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的多維表征平臺(tái)。該系統(tǒng)將聚焦離子束的精準(zhǔn)加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機(jī)結(jié)合，為從微觀(guān)到納米尺度的材料結(jié)構(gòu)解析提供了
一文看懂掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）
從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀(guān)察微觀(guān)世界的能力不斷提升，推動(dòng)了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進(jìn)展。本文將講解現(xiàn)代微觀(guān)分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射
中圖儀器CEM3000臺(tái)式掃描電鏡測(cè)量電容陶瓷斷面的應(yīng)用視頻 #掃描電鏡 #電子顯微鏡
測(cè)試儀
中圖儀器
發(fā)布于 :2025年11月05日 10:32:09
一文讀懂！掃描電鏡mapping圖如何助力靜電紡絲纖維結(jié)構(gòu)觀(guān)察
在微觀(guān)世界的探索中，材料的宏觀(guān)性能究竟由其微觀(guān)世界中哪些區(qū)域的哪些元素所決定？掃描電鏡mapping圖為我們深入了解材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)和成分分布提供了獨(dú)特視角，尤其在靜電紡絲纖維結(jié)構(gòu)觀(guān)察方面，有著
掃描電鏡使用方法：靜電紡絲纖維觀(guān)測(cè)案例 #掃描電鏡 CEM3000臺(tái)式掃描電鏡應(yīng)用案例 #使用教程
測(cè)試儀
中圖儀器
發(fā)布于 :2025年08月18日 10:54:37
掃描電鏡與掃描電子顯微鏡：解析二者的關(guān)系與區(qū)別
在科研、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域，“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)經(jīng)常被提及。對(duì)于剛接觸相關(guān)領(lǐng)域的人來(lái)說(shuō)，很容易對(duì)它們產(chǎn)生困惑，不清楚二者之間究竟存在怎樣的聯(lián)系和區(qū)別。其實(shí)，從本質(zhì)上來(lái)說(shuō)，二者有著
FIB-SEM的常用分析方法
聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀(guān)分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。掃描電子顯微鏡（SEM）工作機(jī)制掃描電子顯微鏡（SEM）的核心成像邏輯并非
什么是聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）？
工作原理聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀(guān)分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。1.離子束原理離子束部分的核心是液態(tài)金屬離子源，通常使用鎵離子。在強(qiáng)電
掃描電鏡在微納加工中的應(yīng)用
本文是A. N. BROERS關(guān)于掃描電鏡在微納加工中應(yīng)用的研究回顧，重點(diǎn)記錄了他從1960年代開(kāi)始參與電子束加工技術(shù)開(kāi)發(fā)的歷程。文章詳細(xì)記錄了EBL技術(shù)從概念萌芽到工業(yè)應(yīng)用的完整發(fā)展歷程，為理解現(xiàn)代電子束光刻技術(shù)的原理、局限性和發(fā)展方向提供了寶貴的歷史視角和技術(shù)洞察。
掃描電鏡(SEM)的工作原理和主要成像模式
掃描電鏡的概念和技術(shù)起源于20世紀(jì)30年代，最早是由德國(guó)物理學(xué)家Max Knoll和Ernst Ruska首次提出了掃描電子顯微鏡的概念，經(jīng)過(guò)科學(xué)家們不斷研究與技術(shù)革新，第一臺(tái)實(shí)用化的商品掃描電子顯微鏡在英國(guó)誕生。2002 年，
掃描電鏡：打開(kāi)微觀(guān)世界的“超維相機(jī)”，科學(xué)家如何用它破解納米謎題？
傳統(tǒng)顯微鏡受限于可見(jiàn)光波長(zhǎng)，放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針"，通過(guò)電磁透鏡操控電子軌跡，突破衍射極限，分辨率可達(dá)1納米以下。
評(píng)論