Agilent4155A參數分析儀安捷倫4155A
安捷倫4155A半導體參數分析儀
4155A 是安捷倫的半導體參數分析儀。半導體參數分析儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導體參數分析儀可以測量和分析多種電子設備、材料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師使用這臺測試設備來監(jiān)測不同類型設備中的電流和電壓響應附加的功能：
I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度）
V：1 微 V 至 100 V
采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU
同步壓力/測量功能
兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (+/- 40 V)
時域測量：60 微秒 - 可變間隔高達 10,001 點
易于使用的旋鈕掃描，類似于曲線跟蹤器
自動分析功能
內置安捷倫/惠普儀器 BASIC
觸發(fā) I/Q 能力
Agilent 4155A 半導體參數分析儀提供高分辨率/準確度和寬范圍；I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU，同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (+/- 40 V)，時域測量：60 微秒 - 可變間隔，最多 10,001 個點，易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能和自動化：內置 HP儀器 BASIC，觸發(fā) I/Q 功能。
審核編輯 黃宇
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