利用磁光克爾效應(yīng)，對(duì)鐵磁、人工反鐵磁、二維材料和微電子器件的磁性進(jìn)行高精度表征。能同時(shí)施加面內(nèi)和垂直磁場(chǎng)，對(duì)面內(nèi)磁化分量和垂直磁化分量進(jìn)行同時(shí)掃描，即能夠同時(shí)獲得面內(nèi)磁場(chǎng)/垂直磁場(chǎng)-面內(nèi)分量/垂直分量任意組合的磁滯回線?？藸栟D(zhuǎn)角檢出精度高達(dá)0.3mdeg（RMS），可檢測(cè)單原子層磁化強(qiáng)度。

提供可綁線樣品托，可進(jìn)行電學(xué)-磁光特性的表征。

產(chǎn)品由本公司自主研發(fā)，穩(wěn)定性強(qiáng)、可擴(kuò)展性良好，提供定制服務(wù);與同行類似設(shè)備相比，磁場(chǎng)更大，精度更高，無需更換光路即可實(shí)現(xiàn)面內(nèi)和垂直磁滯回線測(cè)量，激光自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)，高度智能的軟件支撐。

該產(chǎn)品作為高速、高精度、非破壞測(cè)量物質(zhì)磁性的理想工具，可以為高端科研與企業(yè)生產(chǎn)研發(fā)提供更多的選擇與助力。

審核編輯：黃飛