電子元器件失效分析技術(shù)
以失效分析為目的的電測技術(shù)
電測在失效分析中的作用
重現(xiàn)失效現(xiàn)象，確定失效模式，縮小故障隔離區(qū)，確定失效定位的激勵條件，為進行信號尋跡法失效定位創(chuàng)造條件
電測的種類和相關(guān)性
連接性失效、電參數(shù)失效和功能失效
審核編輯：黃飛
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
電子元器件
+關(guān)注
關(guān)注
134文章
3957瀏覽量
114402 -
MOS
+關(guān)注
關(guān)注
32文章
1755瀏覽量
101191 -
失效分析
+關(guān)注
關(guān)注
18文章
255瀏覽量
67893
原文標題：【經(jīng)典】電子元器件失效分析及案例
文章出處：【微信號：現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)交流平臺，微信公眾號：現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)交流平臺】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點推薦
電子元器件失效分析與典型案例（全彩版）
本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇，主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇，主要介紹了九類
發(fā)表于 04-10 17:43
中國測試技術(shù)研究院電子元器件失效分析
了廣泛的技術(shù)合作與業(yè)務(wù)聯(lián)系，具備面向電子元器件設(shè)計、制造、銷售、使用企業(yè)開展電子元器件失效
發(fā)表于 06-01 10:42
電子元器件失效分析技術(shù)
本PPT培訓(xùn)資料共有87頁。 失效定義 1 特性劇烈或緩慢變化 2 不能正常工作 3 不能自愈 失效種類 1 致命性失效：如過電應(yīng)力損傷 2 緩慢退化：如MESFET的IDSS下降 3 間歇失
發(fā)表于 05-05 16:20
?0次下載
電子元器件失效分析技術(shù)
發(fā)表于 03-08 16:52
?0次下載
電子元器件失效分析技術(shù)詳解
發(fā)表于 10-21 10:52
?0次下載
了解電子元器件失效的機理、模式以及分析技術(shù)等
對電子元器件的失效分析技術(shù)進行研究并加以總結(jié)。方法 通過對電信器類、電阻器類等電子
電子元器件失效分析
失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用，在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。金鑒實驗室提供電子
發(fā)表于 11-01 10:56
?2114次閱讀
評論