IEEE國際可靠性物理研討會(IRPS)于4月14日在美國德州達拉斯拉開帷幕。60年來，IRPS一直是國際上工程師和科學家在集成電路可靠性領(lǐng)域的盛會，吸引了來自美國、歐洲、亞洲和世界其他地區(qū)的與會者，旨在通過對應(yīng)用環(huán)境的理解，提高半導體器件、集成電路和微電子組件的可靠性。作為國內(nèi)首家EDA上市公司，關(guān)鍵核心技術(shù)具備國際市場競爭力的EDA領(lǐng)軍企業(yè)，概倫電子亮相此次盛會，現(xiàn)場發(fā)布了其從測試系統(tǒng)、EDA工具到技術(shù)開發(fā)的一站式可靠性解決方案。

隨著新型技術(shù)和市場不斷興起，芯片的復(fù)雜性和集成度不斷提升，更先進的制程工藝、更高的良率、更佳的性能成為半導體行業(yè)迫切需要面對和解決的問題。概倫電子提供的一站式可靠性解決方案就是為應(yīng)對半導體行業(yè)在先進工藝和新型材料研發(fā)、器件表征、電路及芯片系統(tǒng)設(shè)計中面臨的可靠性挑戰(zhàn)。該解決方案包括材料與器件特性測試芯片設(shè)計、特征參數(shù)量測、可靠性建模及PDK開發(fā)、針對可靠性設(shè)計、高良率設(shè)計及噪聲分析的仿真驗證、完整的ESD防護設(shè)計驗證和車規(guī)級設(shè)計流程及IP開發(fā)服務(wù)。根據(jù)客戶需求，實現(xiàn)從設(shè)計到驗證的全流程覆蓋，確保從器件到產(chǎn)品的整體可靠性和最佳性能。

從測試系統(tǒng)、EDA工具到技術(shù)開發(fā)的一站式可靠性解決方案融合了概倫電子行業(yè)黃金標準的9812系列低頻噪聲測試系統(tǒng)，基于FS-Pro和LabExpress的晶圓級多點位可靠性測試系統(tǒng)，可支持1/f噪聲、RTN噪聲、BTI/HCI/TDDB老化效應(yīng)及自熱效應(yīng)等自動化量測和并行量測，提升測試效率?？蛻艨墒褂酶艂愲娮右訠SIMProPlus為代表的行業(yè)領(lǐng)先的SPICE模型建模平臺，高效準確的完成包括基于AgeMOS和MOSRA老化模型提取和噪聲模型參數(shù)提取以及建模工作，ME-Pro驗證平臺則助力客戶完成全面的可靠性模型QA。

同時概倫電子提供的電路仿真分析解決方案，為客戶設(shè)計可靠性綜合分析提供了便捷，NanoYield用于高西格瑪分析，ESDi可用于ESD防護電路的驗證分析?？蛻艨墒褂酶艂愲娮拥慕鉀Q方案確保設(shè)計在可靠性和噪聲方面的精確性以及量產(chǎn)良率的可預(yù)測性，并優(yōu)化產(chǎn)品以滿足最嚴苛的行業(yè)標準。此外，概倫電子也提供標準單元庫、GPIO、SRAM編譯器、eFUSE宏模塊等基礎(chǔ)IP開發(fā)服務(wù)，助力客戶的高可靠性和安全性設(shè)計，提升市場競爭力。

概倫電子的一站式可靠性解決方案可廣泛應(yīng)用于消費電子、汽車電子、通信和航空航天等半導體工藝器件及芯片設(shè)計領(lǐng)域，確保產(chǎn)品在面對各種復(fù)雜工作條件和嚴苛環(huán)境挑戰(zhàn)時的穩(wěn)定性和可靠性，助力產(chǎn)品在開發(fā)周期中實現(xiàn)更高的質(zhì)量和更低的風險。

審核編輯：劉清