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從原理到檢測設(shè)備:全方位解讀球柵陣列(BGA)測試流程

科準(zhǔn)測控 ? 來源:科準(zhǔn)測控 ? 作者:科準(zhǔn)測控 ? 2025-01-09 10:39 ? 次閱讀
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近期,小編接到一些來自半導(dǎo)體行業(yè)的客戶咨詢,他們希望了解如何進(jìn)行球柵陣列(BGA)測試,包括應(yīng)該使用哪些設(shè)備和具體的操作方法。

球柵陣列(BGA)作為電子封裝技術(shù)的一種,具有高密度、高可靠性和優(yōu)良的電性能等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、微電子器件等領(lǐng)域.然而,在BGA的生產(chǎn)和應(yīng)用過程中,可能會出現(xiàn)各種質(zhì)量問題,如焊球共面性不良、焊球拉脫力不足等,這些問題會嚴(yán)重影響產(chǎn)品的性能和可靠性。

因此,對BGA進(jìn)行嚴(yán)格的測試和質(zhì)量控制至關(guān)重要。本文科準(zhǔn)測控小編將詳細(xì)介紹球柵陣列(BGA)的測試方法,以確保其質(zhì)量和可靠性。

一、測試原理

球柵陣列(BGA)測試原理主要涉及對BGA封裝芯片的焊球共面性和焊球拉脫力進(jìn)行綜合評估。焊球共面性測試通過測量焊球頂點(diǎn)與基準(zhǔn)平面之間的距離差值,確保焊球與基板接觸良好,避免焊接缺陷;而焊球拉脫力測試則通過施加垂直于器件表面的拉力,測量焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度,以評估焊接質(zhì)量和可靠性。通過這兩種測試方法,可以全面檢測BGA封裝芯片的質(zhì)量,確保其在電子設(shè)備中的穩(wěn)定性和可靠性,并根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行工藝優(yōu)化、材料控制和設(shè)備維護(hù)等質(zhì)量控制措施,提高產(chǎn)品的性能和可靠性。

二、檢測內(nèi)容

1、焊球共面性測試

1) 測試目的

焊球共面性測試的目的是測定BGA焊球的共面度,即焊球頂點(diǎn)與基準(zhǔn)平面之間的距離差值.共面度是衡量BGA焊接質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)之一,共面度不良會導(dǎo)致焊接時焊球與基板接觸不良,進(jìn)而引發(fā)焊接缺陷,如虛焊、短路等,影響電子器件的性能和可靠性.

2)檢測設(shè)備

a、Beta S100推拉力測試機(jī)
image.png

Beta S100推拉力測試機(jī)是用于為微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測試及其失效分析領(lǐng)域的專用動態(tài)測試儀器,常見的測試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測試需要更換相對應(yīng)的測試模組,系統(tǒng)自動識別模組量程??梢造`活得應(yīng)用到不同產(chǎn)品的測試,每個工位獨(dú)立設(shè)置安全高度位及安全限速,防止誤操作對測試針頭造成損壞。且具有測試動作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣的特點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體IC封裝測試、LED 封裝測試、光電子器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究。

b、設(shè)備特點(diǎn)
image.png

采用Beta S100推拉力測試機(jī)進(jìn)行焊球共面性測試.Beta S100推拉力測試機(jī)是一種高精度的動態(tài)測試儀器,能夠準(zhǔn)確測量焊球共面度,設(shè)備測量準(zhǔn)確度應(yīng)在規(guī)定偏差的±10%以內(nèi),能夠滿足BGA焊球共面性測試的精度要求.

C、測試方法

樣品準(zhǔn)備:將待測BGA器件小心放置在測試平臺上,確保焊球朝上,避免對焊球造成損傷.

基準(zhǔn)平面建立:選擇三個具有到植球面最大垂直距離的焊球頂點(diǎn),這三個點(diǎn)形成基準(zhǔn)平面.由焊球形成的三角形基準(zhǔn)平面應(yīng)包括器件重心,如果構(gòu)建的基準(zhǔn)平面不包括器件重心,則使用下一個和植球面具有最大垂直距離的焊球來構(gòu)建有效的基準(zhǔn)平面 .

測量共面度:使用Beta S100推拉力測試機(jī)的測量工具,測量每個焊球頂點(diǎn)和基準(zhǔn)平面之間的距離,記錄最大測量差值,即為共面度。

2、焊球拉脫力測試

1) 測試目的

焊球拉脫力測試的目的是測量BGA焊球的抗拉脫能力,即焊球在受到垂直于器件表面的拉力作用下,焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度.焊球拉脫力是評估BGA焊接質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)之一,拉脫力不足會導(dǎo)致焊球在受到外力作用時脫落,影響電子器件的正常工作 .

2)測試設(shè)備

同樣采用Beta S100推拉力測試機(jī)進(jìn)行焊球拉脫力測試.Beta S100推拉力測試機(jī)配備有校準(zhǔn)的負(fù)載單元和傳感器,能夠提供并記錄施加于焊球的拉力,并對負(fù)載提供規(guī)定的移動速率,滿足焊球拉脫力測試的需求.

3)測試方法

a、樣品制備:在測試前,應(yīng)對焊球進(jìn)行目檢,以保證它們的形狀完好,無焊劑殘留或污染物.如果在不去除鄰近焊球的情況下,拉力爪不能夾住焊球,這時應(yīng)使用工具,如鋒利的刀片,去除臨近的焊球。

b、安裝拉力爪:根據(jù)受試焊球的尺寸選擇合適的拉力爪,并設(shè)置相應(yīng)的拉力爪的鎖定壓力.合適的拉力爪是指使焊球產(chǎn)生形變的程度小。

c、施加拉力:選擇并安裝和焊球直徑相匹配的拉力爪,并在Beta S100推拉力測試機(jī)上夾住受試樣品,以使焊球可以在垂直于樣品表面的方向上被拉起.啟動測試機(jī),逐漸增加拉力,直至引線斷裂或焊點(diǎn)脫落,記錄此時的最大拉力值。

d、記錄與分析:記錄失效數(shù)據(jù),包括失效時的最大拉力值和失效的分離模式.根據(jù)記錄的拉力值和失效模式,對比相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求,判斷焊球拉脫力是否滿足規(guī)范。

3、測試結(jié)果分析與質(zhì)量控制

1)數(shù)據(jù)分析

完成測試后,整理并分析所有樣品的測試數(shù)據(jù),進(jìn)行綜合評估.對于焊球共面性測試,分析共面度數(shù)據(jù)的分布情況,找出共面度不良的樣品,并分析其可能的原因,如焊接工藝參數(shù)不當(dāng)、焊球質(zhì)量不穩(wěn)定等.對于焊球拉脫力測試,分析拉脫力數(shù)據(jù)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差,建立有代表性的基于平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差的失效判據(jù)。

2)質(zhì)量控制措施

工藝優(yōu)化:根據(jù)測試結(jié)果,對焊接工藝參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,如調(diào)整焊接溫度、時間、壓力等,以提高焊球共面性和拉脫力.對于共面性不良的樣品,可以調(diào)整焊接設(shè)備的精度和穩(wěn)定性,確保焊球的均勻性和一致性。

材料控制:加強(qiáng)對焊球材料的質(zhì)量控制,確保焊球的成分、尺寸和形狀符合要求.對于拉脫力不足的樣品,可以更換焊球材料或改進(jìn)焊球的表面處理工藝,以提高焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度。

設(shè)備維護(hù):定期對Beta S100推拉力測試機(jī)進(jìn)行維護(hù)和校準(zhǔn),確保設(shè)備的精度和穩(wěn)定性,避免因設(shè)備故障導(dǎo)致測試結(jié)果的偏差。

通過以上測試方法和質(zhì)量控制措施,可以有效地檢測和控制球柵陣列(BGA)的質(zhì)量,提高產(chǎn)品的可靠性和性能,滿足電子行業(yè)對高質(zhì)量電子器件的需求。

以上就是小編介紹的有關(guān)于球柵陣列(BGA)測試相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭?!如果您還想了解更多關(guān)于推拉力測試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻,焊接強(qiáng)度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。

審核編輯 黃宇

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