Analog Devices Inc. ADMX2001B阻抗分析儀測(cè)量模塊特性/應(yīng)用/布局
Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析儀測(cè)量模塊簡(jiǎn)化了阻抗測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)，也可用于增強(qiáng)現(xiàn)有測(cè)試平臺(tái)的功能。ADMX2001B采用高性能混合信號(hào)和處理算法，可測(cè)量小至0.1fF的電容變化，電阻值高達(dá)1GΩ，通常用于測(cè)試半導(dǎo)體器件、電子元件和傳感器。此外，得益于內(nèi)置測(cè)量算法，Analog Devices Inc. ADMX2001B能夠提供各種格式的完全校準(zhǔn)的復(fù)雜阻抗或?qū)Ъ{測(cè)量結(jié)果，其中包括電阻、電容和電感的并聯(lián)和串聯(lián)組合。
特性
- 復(fù)雜阻抗測(cè)量：0.2Hz至10MHz
- 高吞吐量
- 測(cè)量時(shí)間：2.7ms
- 基本相對(duì)精度：0.05%
- 寬測(cè)量范圍
- 電阻范圍：100μΩ至1GΩ
- 電容范圍：100aF至10F
- 電感范圍：10pH至100H
- 可編程測(cè)試信號(hào)
- 16位幅度調(diào)整高達(dá)2.4V
- 頻率分辨率：0.2Hz
- 16位直流偏置設(shè)置高達(dá)±2.4V
- 直流電阻測(cè)量
- 18種阻抗測(cè)量格式，用于C、R、L、Z和Y
- 自動(dòng)多點(diǎn)和參數(shù)掃描
- 校準(zhǔn)和夾具補(bǔ)償功能
- 自動(dòng)校準(zhǔn)例程，用于測(cè)量可追溯性
- 非易失性存儲(chǔ)器中的校準(zhǔn)系數(shù)存儲(chǔ)
- 補(bǔ)償消除了夾具寄生效應(yīng)
應(yīng)用
- 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備
- 半導(dǎo)體特性
- 晶圓驗(yàn)收測(cè)試
- 電阻抗頻譜分析
- 阻抗網(wǎng)絡(luò)分析
- 電池測(cè)試
板布局
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