現(xiàn)代制造工藝日趨精密復(fù)雜，推動(dòng)鑄件尺寸向大型化、整體化不斷演進(jìn)。傳統(tǒng)檢測手段已難以滿足靈活高效的現(xiàn)代化生產(chǎn)需求。蔡司延續(xù)BOSELLO系列產(chǎn)品的技術(shù)理念，推出新一代大型部件自動(dòng)化X射線檢測設(shè)備ZEISS OMNIA GC 220-180，專為應(yīng)對未來制造挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)，致力于為大型乃至超大型組件提供更先進(jìn)、更可靠的檢測方案。

專為大型部件檢測設(shè)計(jì)

ZEISS OMNIA GC專為汽車等行業(yè)大型鑄件檢測打造，搭載高品質(zhì)X射線與精密工程系統(tǒng)，即便面對超大型部件，也能在效率、準(zhǔn)確性與成像之間實(shí)現(xiàn)完美平衡。其智能設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜特征掃描全覆蓋，在維持高準(zhǔn)確性的同時(shí)大幅縮短檢測時(shí)間。

單門或雙門解決方案

適配多樣化需求

ZEISS OMNIA GC提供高度靈活的配置方案，精準(zhǔn)匹配不同產(chǎn)能需求。單門系統(tǒng)可無縫集成至現(xiàn)有生產(chǎn)線中，適用于中低產(chǎn)能連續(xù)任務(wù)的在線或線邊檢測場景。產(chǎn)能爬升時(shí)，可升級為高產(chǎn)能雙門系統(tǒng)，通過多托盤并行操作，實(shí)現(xiàn)裝卸與檢測同步的快速在線自動(dòng)化解決方案，助力制造商靈活配置資源，高效應(yīng)對未來挑戰(zhàn)。

多角度檢測的笛卡爾

坐標(biāo)軸設(shè)計(jì)

蔡司X射線檢測系統(tǒng)通過高精度笛卡爾機(jī)械臂的平滑的線性運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)部件關(guān)鍵區(qū)域的全方位成像，可精準(zhǔn)完成傾斜、變焦及定位操作，確保系統(tǒng)能夠觸及復(fù)雜鑄件中最具挑戰(zhàn)性的檢測區(qū)域。配備±60°檢測傾角的X射線光束及最高15米/分鐘的運(yùn)動(dòng)速度，ZEISS OMNIA GC可從任意角度快速、靈活且無碰撞地執(zhí)行檢測任務(wù)。

ADR（自動(dòng)缺陷識(shí)別）

ZEISS OMNIA GC配備先進(jìn)的ADR（自動(dòng)缺陷識(shí)別）功能，可實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化的檢測與缺陷評估，可根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)對氣孔、夾雜物或裂紋等缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測與評估。