onsemi SI4532DY雙N和P溝道增強(qiáng)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管介紹
在電子工程領(lǐng)域,場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)是極為重要的元件,廣泛應(yīng)用于各種電路設(shè)計(jì)中。今天,我們來(lái)詳細(xì)了解一下安森美(onsemi)的SI4532DY雙N和P溝道增強(qiáng)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管。
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一、產(chǎn)品概述
SI4532DY采用了安森美的專(zhuān)有高密度DMOS技術(shù)生產(chǎn)。這種高密度工藝專(zhuān)門(mén)用于最小化導(dǎo)通電阻,并提供出色的開(kāi)關(guān)性能。該產(chǎn)品特別適用于低電壓應(yīng)用,如筆記本電腦電源管理以及其他需要快速開(kāi)關(guān)、低在線功率損耗和抗瞬態(tài)能力的電池供電電路。
二、產(chǎn)品特性
2.1 電氣性能
- N溝道參數(shù):最大連續(xù)漏極電流為3.9A,漏源電壓為30V。在不同柵源電壓下,導(dǎo)通電阻不同,當(dāng)$V{GS}=10V$時(shí),$R{DS(ON)}=0.065 Omega$;當(dāng)$V{GS}=4.5V$時(shí),$R{DS(ON)}=0.095 Omega$。
- P溝道參數(shù):最大連續(xù)漏極電流為 -3.5A,漏源電壓為 -30V。當(dāng)$V{GS}=-10V$時(shí),$R{DS(ON)}=0.085 Omega$;當(dāng)$V{GS}=-4.5V$時(shí),$R{DS(ON)}=0.190 Omega$。
2.2 設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)
- 高密度單元設(shè)計(jì):能夠?qū)崿F(xiàn)極低的$R_{DS(ON)}$,降低功率損耗。
- 高功率和電流處理能力:采用廣泛使用的表面貼裝封裝,方便在電路板上進(jìn)行安裝。
- 雙MOSFET集成:在一個(gè)表面貼裝封裝中集成了N和P溝道MOSFET,節(jié)省電路板空間。
- 環(huán)保特性:該器件無(wú)鉛且無(wú)鹵化物,符合環(huán)保要求。
三、產(chǎn)品規(guī)格
3.1 絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | N溝道 | P溝道 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓$V_{DSS}$ | 30 | -30 | V |
| 柵源電壓$V_{GSS}$ | 20 | -20 | V |
| 連續(xù)漏極電流$I_{D}$ | 3.9 | -3.5 | A |
| 脈沖漏極電流 | 20 | -20 | A |
| 雙路操作功率耗散$P_{D}$ | 2 | - | W |
| 單路操作功率耗散 | 1.6(注1a) 1(注1b) 0.9(注1c) |
- | W |
| 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍$T{J},T{STG}$ | -55 至 +150 | - | °C |
3.2 熱特性
- 結(jié)到環(huán)境熱阻$R{theta JA}$:在特定條件下為78°C/W。這里需要注意的是,$R{theta JA}$是結(jié)到殼和殼到環(huán)境電阻之和,其中殼熱參考定義為漏極引腳的焊接安裝表面。$R{JC}$由設(shè)計(jì)保證,而$R{theta CA}$由用戶(hù)的電路板設(shè)計(jì)決定。例如,當(dāng)安裝在0.05英寸的2盎司銅焊盤(pán)上時(shí)為78°C/W;安裝在0.02英寸的2盎司銅焊盤(pán)上時(shí)為125°C/W;安裝在最小安裝焊盤(pán)上時(shí)為135°C/W。
- 結(jié)到殼熱阻$R_{JC}$:為40°C/W。
3.3 電氣特性
3.3.1 關(guān)斷特性
包括漏源擊穿電壓$B{VDSS}$、零柵壓漏極電流$I{DSS}$、柵體正向和反向泄漏電流$I{GSSF}$、$I{GSSR}$等參數(shù)。例如,N溝道的$B{VDSS}$在$V{GS}=0V$,$I_{D}=250mu A$時(shí)為30V。
3.3.2 導(dǎo)通特性
有柵閾值電壓$V{GS(th)}$、靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻$R{DS(on)}$、導(dǎo)通狀態(tài)漏極電流$I{D(on)}$、正向跨導(dǎo)$g{FS}$等參數(shù)。如N溝道在$V{GS}=10V$,$I{D}=3.9A$時(shí),$R_{DS(on)}$最小值為0.053Ω,典型值為0.065Ω。
3.3.3 動(dòng)態(tài)特性
包含輸入電容$C{iss}$、輸出電容$C{oss}$、反向傳輸電容$C{rss}$等。例如N溝道在特定測(cè)試條件下$C{iss}$典型值為235pF。
3.3.4 開(kāi)關(guān)特性
有導(dǎo)通延遲時(shí)間$t{d(on)}$、導(dǎo)通上升時(shí)間$t{r}$、關(guān)斷延遲時(shí)間$t{d(off)}$、關(guān)斷下降時(shí)間$t{f}$、漏源反向恢復(fù)時(shí)間$t{rr}$、總柵極電荷$Q{g}$、柵源電荷$Q{gs}$、柵漏電荷$Q{gd}$等。例如N溝道的導(dǎo)通延遲時(shí)間$t_{d(on)}$典型值為13ns。
3.4 漏源二極管特性和最大額定值
- 最大連續(xù)漏源二極管正向電流$I_{S}$:N溝道為1.7A,P溝道為 -1.7A。
- 漏源二極管正向電壓$V_{SD}$:在特定條件下,N溝道典型值為0.75V。
四、封裝與訂購(gòu)信息
該產(chǎn)品采用SOIC8封裝,為無(wú)鉛封裝,每卷帶盤(pán)裝2500個(gè)。
五、總結(jié)
SI4532DY雙N和P溝道增強(qiáng)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管憑借其出色的性能和特性,在低電壓應(yīng)用領(lǐng)域具有很大的優(yōu)勢(shì)。電子工程師在進(jìn)行相關(guān)電路設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)具體的應(yīng)用場(chǎng)景和需求,綜合考慮其各項(xiàng)參數(shù),合理使用該產(chǎn)品。同時(shí),在使用過(guò)程中要注意其絕對(duì)最大額定值,避免因超出限制而損壞器件。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中有沒(méi)有遇到過(guò)類(lèi)似場(chǎng)效應(yīng)晶體管的應(yīng)用難題呢?歡迎一起交流探討。
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場(chǎng)效應(yīng)晶體管
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