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探索 onsemi FDS4435BZ P 溝道 MOSFET:特性、規(guī)格與應(yīng)用解析

我快閉嘴 ? 2026-04-20 17:20 ? 次閱讀
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探索 onsemi FDS4435BZ P 溝道 MOSFET:特性、規(guī)格與應(yīng)用解析

在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率開關(guān)元件,其性能直接影響著電路的效率與穩(wěn)定性。今天,我們將深入探討 onsemi 公司的 FDS4435BZ P 溝道 MOSFET,了解其特性、規(guī)格以及適用的應(yīng)用場景。

文件下載:FDS4435BZ-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

FDS4435BZ 是一款采用 onsemi 先進(jìn) POWERTRENCH 工藝生產(chǎn)的 P 溝道 MOSFET。該工藝經(jīng)過特別優(yōu)化,旨在最大程度地降低導(dǎo)通電阻,使其在功率管理和負(fù)載開關(guān)應(yīng)用中表現(xiàn)出色,尤其適用于筆記本電腦和便攜式電池組等設(shè)備。

二、產(chǎn)品特性

  1. 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=-10 V)、(I{D}=-8.8 A) 的條件下,最大 (R{DS(on)}) 僅為 20 mΩ;在 (V{GS}=-4.5 V)、(I{D}=-6.7 A) 時,最大 (R{DS(on)}) 為 35 mΩ。這種低導(dǎo)通電阻特性有助于減少功率損耗,提高電路效率。
  2. 擴(kuò)展的 (V_{GSS}) 范圍:具備 -25 V 的擴(kuò)展 (V_{GSS}) 范圍,適用于電池應(yīng)用,增強(qiáng)了器件在不同電池電壓下的適應(yīng)性。
  3. ESD 保護(hù):典型的 HBM ESD 保護(hù)等級為 ±3.8 kV,有效保護(hù)器件免受靜電放電的損害,提高了產(chǎn)品的可靠性。
  4. 高性能溝槽技術(shù):采用高性能溝槽技術(shù),實(shí)現(xiàn)極低的 (R_{DS(on)}),同時具備高功率和高電流處理能力。
  5. 環(huán)保合規(guī):該器件符合無鉛和 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

三、規(guī)格參數(shù)

1. 最大額定值

參數(shù) 符號 額定值 單位
漏源電壓 (V_{DS}) -30 V
柵源電壓 (V_{GS}) ±25 V
連續(xù)漏極電流((T_{A}=25^{circ}C)) (I_{D}) -8.8 A
脈沖漏極電流 (I_{D}) -50 A
功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) (P_{D}) 2.5 W
功率耗散(特定條件) (P_{D}) 1.0 W
單脈沖雪崩能量 (E_{AS}) 24 mJ
工作和存儲結(jié)溫范圍 (T{J}, T{STG}) -55 至 +150 °C

2. 電氣特性

  • 關(guān)斷特性
    • 漏源擊穿電壓 (BVDSS):在 (I{D}=-250 A)、(V{GS}=0 V) 時為 -30 V。
    • 擊穿電壓溫度系數(shù) (BVDSS / TJ):為 -21 mV/°C。
    • 零柵壓漏極電流 (IDSS):在 (V{DS}=-24 V)、(V{GS}=0 V) 時為 1 A。
    • 柵源泄漏電流 (IGSS):在 (V{GS}=±25 V)、(V{DS}=0 V) 時為 ±10 A。
  • 導(dǎo)通特性
    • 柵源閾值電壓 (VGS(th)):在 (VGS = VDS)、(ID = -250 A) 時,范圍為 -1 至 -3 V。
    • 柵源閾值電壓溫度系數(shù) (VGS(th) / TJ):為 6 mV/°C。
    • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (RDS(on)):在不同 (V{GS}) 和 (I{D}) 條件下有不同值,如 (V{GS}=-10 V)、(I{D}=-8.8 A) 時為 16 - 20 mΩ。
    • 正向跨導(dǎo) (gFS):在 (V{DS}=-5 V)、(I{D}=-8.8 A) 時為 24 S。
  • 動態(tài)特性
    • 輸入電容 (Ciss):在 (V{DS}=-15 V)、(V{GS}=0 V)、(f = 1MHz) 時為 1385 - 1845 pF。
    • 輸出電容 (Coss):為 275 - 365 pF。
    • 反向傳輸電容 (Crss):為 230 - 345 pF。
    • 柵極電阻 (Rg):在 (f = 1MHz) 時為 4.5。
  • 開關(guān)特性
    • 導(dǎo)通延遲時間 (td(on)):在 (VDD = -15 V)、(ID = -8.8 A)、(VGS = -10 V)、(RGEN = 6) 時為 10 - 20 ns。
    • 上升時間 (tr):為 6 - 12 ns。
    • 關(guān)斷延遲時間 (td(off)):為 30 - 48 ns。
    • 下降時間 (tf):為 12 - 22 ns。
    • 總柵極電荷 (Qg):在不同 (V_{GS}) 條件下有不同值,如 (VGS = 0 V) 至 -10 V 時為 28 - 40 nC。
    • 柵源電荷 (Qgs):在 (VDD = -15 V)、(ID = -8.8 A) 時為 5.2 nC。
    • 柵漏“米勒”電荷 (Qgd):為 7.4 nC。
  • 漏源二極管特性
    • 源漏二極管正向電壓 (VSD):在 (VGS = 0V)、(IS = -8.8A) 時為 -0.9 至 -1.2 V。
    • 反向恢復(fù)時間 (trr):在 (IF = -8.8 A)、(di/dt = 100 A/ s) 時為 29 - 44 ns。
    • 反向恢復(fù)電荷 (Qrr):為 23 - 35 nC。

四、典型特性曲線

文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線有助于工程師更直觀地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn),從而更好地進(jìn)行電路設(shè)計。

五、應(yīng)用場景

由于 FDS4435BZ 具有低導(dǎo)通電阻、高功率和高電流處理能力等特性,它非常適合用于筆記本電腦和便攜式電池組的功率管理和負(fù)載開關(guān)應(yīng)用。在這些應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻可以減少功率損耗,延長電池續(xù)航時間;高電流處理能力則能夠滿足設(shè)備的功率需求。

六、注意事項(xiàng)

  1. 應(yīng)力超過最大額定值可能會損壞器件,使用時應(yīng)確保工作條件在額定范圍內(nèi)。
  2. 產(chǎn)品性能可能會因測試條件的不同而有所差異,實(shí)際應(yīng)用中需要根據(jù)具體情況進(jìn)行驗(yàn)證。
  3. 該器件不適用于生命支持系統(tǒng)或 FDA 3 類醫(yī)療設(shè)備等關(guān)鍵應(yīng)用。

總之,onsemi 的 FDS4435BZ P 溝道 MOSFET 是一款性能出色、應(yīng)用廣泛的功率開關(guān)元件。電子工程師在進(jìn)行相關(guān)電路設(shè)計時,可以充分利用其特性和規(guī)格,提高電路的性能和可靠性。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似 MOSFET 的使用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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