音樂(lè)邏輯測(cè)試筆,Logic test circuits
關(guān)鍵字:邏輯測(cè)試電路圖,HY88
電路如圖所示。由一對(duì)互補(bǔ)型信號(hào)檢測(cè)控制管VT1、VT2及一片8聲效音樂(lè)集成電路HY-88等組成,采用微型揚(yáng)聲器發(fā)聲,根據(jù)不同音樂(lè)來(lái)判斷被測(cè)邏輯狀態(tài)。
電路原理:電路中.HY-88是一片采用PCB(印刷線路板式軟封裝)封裝的8聲效音樂(lè)集成電路,它有s1~s8共8個(gè)觸發(fā)控制端,低電平觸發(fā)有效,對(duì)應(yīng)著內(nèi)部ROM(只讀存儲(chǔ)器)預(yù)先存儲(chǔ)的8種動(dòng)物叫聲,分別是蟲(chóng)叫、蟋蟀、青蛙、布谷鳥(niǎo)、貓、狗、牛及馬蹄聲。調(diào)整振蕩電阻R4可改變叫聲音調(diào),音頻信號(hào)經(jīng)VT3放大后驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器BL發(fā)聲。VD1、VD2是降壓二極,以使其Vdd,Vss間的工作電壓符合2.5V~4.5V范圍要求。該邏輯筆的檢測(cè)狀態(tài)為:(1)當(dāng)探針T未接觸電路或檢測(cè)到“懸空”時(shí),VT1和VT2均截止,Ic的觸發(fā)端s1、s2分別被R3、R2上拉為“1”,IC不工作,BL無(wú)聲;(2)當(dāng)探針T檢測(cè)到“O”時(shí),VT1截止,VT2導(dǎo)通,s2為“1”,s1被“0”觸發(fā),BL發(fā)出蟲(chóng)鳴聲;(3)當(dāng)探針T檢測(cè)到“1”時(shí),VT1導(dǎo)通,VT2截止,S1為“1”,S2被“0”觸發(fā),BL發(fā)出蟋蟀叫聲;(4)當(dāng)探針T檢測(cè)到“CP”脈沖時(shí),、VT1、VT2輪流導(dǎo)通,s1、S2被交替觸發(fā),BL產(chǎn)生蟋蟀和蟲(chóng)兩種嗚叫聲。
作者:沈左

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
Cirrus Logic WM8955 產(chǎn)品停產(chǎn)通知解讀
Cirrus Logic WM8955 產(chǎn)品停產(chǎn)通知解讀 在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,產(chǎn)品的生命周期管理是我們工程師必須關(guān)注的重要方面。最近,Cirrus Logic 發(fā)布了關(guān)于 WM8955 產(chǎn)品的停產(chǎn)通知
Parasoft C/C++test:嵌入式安全關(guān)鍵行業(yè)的一體化軟件測(cè)試解決方案
縫融入 DevOps 的自動(dòng)化測(cè)試工具。Parasoft C/C++test 正是為解決這一痛點(diǎn)而生,它是面向嵌入式安全關(guān)鍵行業(yè)的集成軟件測(cè)試解決方案,憑借全面的自動(dòng)化能力與深度流程適配能力,成為行業(yè)內(nèi)高質(zhì)量開(kāi)發(fā)與合規(guī)落地的首選
芯片邏輯內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)的工作原理與核心架構(gòu)
隨著半導(dǎo)體工藝的不斷進(jìn)步,芯片集成度呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng),測(cè)試成本與測(cè)試效率已成為行業(yè)面臨的核心挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)依賴外部自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的方法不僅費(fèi)用高昂,且難以覆蓋芯片內(nèi)部大量不可直接訪問(wèn)的電路節(jié)點(diǎn)。
芯片測(cè)試覆蓋率99%就夠了嗎?給DFT設(shè)計(jì)提個(gè)醒
%。需與設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)協(xié)同,通過(guò)測(cè)試壓縮(Test Compression)、邏輯自建(Logic BIST) 等技術(shù),在保持覆蓋率的同時(shí)減少測(cè)試
發(fā)表于 02-06 11:06
【「龍芯之光 自主可控處理器設(shè)計(jì)解析」閱讀體驗(yàn)】--LoongArch邏輯綜合、芯片設(shè)計(jì)
本篇講述學(xué)習(xí)LoongArch邏輯綜合、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、物理設(shè)計(jì)章節(jié)內(nèi)容。
一.邏輯綜合
邏輯綜合(logic synthesis)是將電路的
發(fā)表于 01-18 14:15
連接器-TERM-50W-183S+ Mini-Circuits RF端接器
and partners like family. 20,000+ customers prefer Mini-Circuits for the demanding quality standards
發(fā)表于 11-26 11:39
在verilog testbench中運(yùn)行測(cè)試用例時(shí),運(yùn)行到make run_test出錯(cuò)怎么解決?
按照胡老師書(shū)上的在verilog testbench中運(yùn)行測(cè)試用例時(shí),在運(yùn)行到make run_test步驟時(shí)出錯(cuò),查了很多方案沒(méi)有解決。
發(fā)表于 11-11 06:52
Texas Instruments 5-8-NL-LOGIC-EVM邏輯轉(zhuǎn)換評(píng)估模塊技術(shù)解析
Texas Instruments 5-8-NL-LOGIC-EVM邏輯和轉(zhuǎn)換評(píng)估模塊 (EVM) 設(shè)計(jì)用于支持任何邏輯或轉(zhuǎn)換器件。它支持DTT (X1QFN-8)、DRY (USON-6)、DPW
半導(dǎo)體WAT測(cè)試的常見(jiàn)結(jié)構(gòu)
WAT(Wafer Acceptance Test)測(cè)試,也叫PCM(Process Control Monitoring),對(duì)Wafer 劃片槽(Scribe Line)測(cè)試鍵(Test
音樂(lè)盒芯片方案——N9305音樂(lè)芯片
音樂(lè)盒芯片方案開(kāi)發(fā)音樂(lè)盒,作為一種融合藝術(shù)與機(jī)械智慧的精巧物件,散發(fā)著獨(dú)特魅力。它以靈動(dòng)的音符為載體,承載著人們的情感、回憶與祝福。從孩童手中開(kāi)啟夢(mèng)幻世界的木質(zhì)八音盒,到戀人間傳遞愛(ài)意的精致音樂(lè)
功率循環(huán)測(cè)試(Power Cycling Test)概論
1. 定義與目的 功率循環(huán)測(cè)試是一種可靠性測(cè)試方法,通過(guò)反復(fù)施加和切斷功率(如電流、電壓或溫度變化),模擬電子器件在實(shí)際工作中的開(kāi)關(guān)狀態(tài),評(píng)估其在熱機(jī)械應(yīng)力下的耐久性和失效機(jī)制。 核心目標(biāo): 檢測(cè)
【硬件方向】名企面試筆試真題:大疆創(chuàng)新校園招聘筆試題
名企面試筆試真題:大疆創(chuàng)新校園招聘筆試題-硬件
是幾年前的題目,不過(guò)值得參考一下哦
純分享貼,有需要可以直接下載附件獲取完整資料!
(如果內(nèi)容有幫助可以關(guān)注、點(diǎn)贊、評(píng)論支持一下哦~)
發(fā)表于 05-16 17:31
CAN芯片邏輯響應(yīng)驗(yàn)證測(cè)試
在CAN芯片研發(fā)階段,需要做諸多涉及通訊錯(cuò)誤管理驗(yàn)證的問(wèn)題。在ISO-16845國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)定完善的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),如錯(cuò)誤幀檢測(cè),傳輸幀相關(guān)檢測(cè),錯(cuò)誤管理邏輯驗(yàn)證等,本文主要分享有效便捷的方法來(lái)完成測(cè)試
LMS Test.Lab:振動(dòng)噪聲測(cè)試領(lǐng)域的全能王者
LMS Test.Lab 是西門子旗下(原比利時(shí)LMS國(guó)際公司開(kāi)發(fā))的一款領(lǐng)先的振動(dòng)噪聲(NVH,Noise, Vibration, and Harshness)測(cè)試與分析系統(tǒng)。它廣泛應(yīng)用于汽車
發(fā)表于 04-23 15:25
音樂(lè)邏輯測(cè)試筆,Logic test circuits
評(píng)論