不采用DCDC為ADC進(jìn)行供電的原因分析 (2)
Engineer It 系列是一個(gè)教育解說性質(zhì)的課程，在這里 TI 德州儀器的技術(shù)專家們講解了各種基礎(chǔ)知識和解決方案，以此來幫助大家處理設(shè)計(jì)過程中出現(xiàn)的各種挑戰(zhàn)。
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
德州儀器
+關(guān)注
關(guān)注
123文章
2046瀏覽量
145510 -
ti
+關(guān)注
關(guān)注
114文章
8084瀏覽量
220031 -
adc
+關(guān)注
關(guān)注
100文章
7946瀏覽量
556896
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
有沒有關(guān)于如何繞過集成轉(zhuǎn)換器并僅使用外部轉(zhuǎn)換來提供電源的指南？
雖然MCU集成了LDO和DCDC轉(zhuǎn)換器，為內(nèi)核供電。有沒有關(guān)于如何繞過集成轉(zhuǎn)換器并僅使用外部轉(zhuǎn)換來提供電源的指南？我知道數(shù)據(jù)表和 HDG 提到可以繞過
發(fā)表于 04-21 06:10
S32M27x - ADC轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)與ADC輸入電壓不匹配如何解決？
= VREFH = 3.3V).但是，當(dāng)將ADC數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為電壓時(shí)，該值與ADC輸入電壓不匹配。
For example:
如果我向 ADC0 施加
發(fā)表于 04-06 07:43
Enpirion EP53x2QI DCDC 轉(zhuǎn)換器模塊評估板使用指南
Enpirion EP53x2QI DCDC 轉(zhuǎn)換器模塊評估板使用指南 一、引言 作為電子工程師，在電源設(shè)計(jì)中，選擇合適的 DCDC 轉(zhuǎn)換器并進(jìn)行準(zhǔn)確評估至關(guān)重要。Altera Enp
總線驅(qū)動器回零軸不運(yùn)動原因及解決方法
總線驅(qū)動器回零軸不運(yùn)動的五大典型原因，并提供針對性的解決方案，同時(shí)結(jié)合典型案例和預(yù)防措施，為工程師提供系統(tǒng)性的故障處理指南。
無源晶振不起振的原因有哪些？
一般情況下，晶振不起振的原因歸納如下：一、晶片斷裂分析：晶片的化學(xué)成分為二氧化硅，與玻璃相同，屬于清脆易碎品，在承受較大沖撞、跌落、強(qiáng)震動、溫度環(huán)境極速變化等外力作用的情況下有可能產(chǎn)生破裂、破碎等
有源晶振不起振的原因深度分析與排查方案
? 有源晶振（AXO）是設(shè)備時(shí)鐘信號核心，不起振會導(dǎo)致設(shè)備死機(jī)、功能失效。以下從 4 大維度總結(jié)關(guān)鍵原因，附 3 步排查方案。 一、4 大核心不起振原因 1. 硬件連接問題（占比 40
今天來看看為應(yīng)對不接地（IT）直流系統(tǒng)的安全的解決方案
隨著工業(yè)的發(fā)展，很多用電設(shè)備和工廠設(shè)備采用直流系統(tǒng)供電，直流系統(tǒng)的正極和負(fù)極不接地。對于不接地（IT）配電系統(tǒng)，應(yīng)該進(jìn)行絕緣電阻的監(jiān)控以保證供電
PSoC6 ADC不工作的原因？
我正在嘗試使用CY8CEVAL-062S2 套件上的 P10.0 讀取模擬電壓。以下是我的 SAR ADC 代碼。我嘗試使用設(shè)備配置器和/或手動設(shè)置代碼中的參數(shù)，但即使電壓發(fā)生變化，ADC 也只顯示
發(fā)表于 07-22 07:13
幾種晶振失效，不起振原因分享
一般情況下，晶振不起振的原因歸納如下： 1、晶片斷裂 分析：晶片的化學(xué)成分為二氧化硅，與玻璃相同，屬于清脆易碎品，在承受較大沖撞、跌落、強(qiáng)震動（如超聲波）、溫度環(huán)境極速變化等外力作用的情況下有可能
STM32多通道FFT運(yùn)算異常的原因？怎么解決？
使用）
一、問題描述
當(dāng)前項(xiàng)目中，ADC采樣率為 960kHz，共 16個(gè)通道。采樣數(shù)據(jù)通過DMA搬運(yùn)至內(nèi)存，隨后對每個(gè)通道數(shù)據(jù)進(jìn)行FFT頻譜分析。
實(shí)際測試中，只處理1個(gè)通道FFT
發(fā)表于 06-19 06:27
ADC測試新選擇：A10音頻分析儀
對準(zhǔn)確性和可靠性的需求。如何從噪聲干擾、信號失真、環(huán)境波動等諸多影響因素中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的ADC測試？音頻分析儀A10為工程師們提供了一個(gè)不錯(cuò)的ADC測試解決方案。
通過USB對I2C進(jìn)行編程，CONTROL IN傳輸失敗的原因？怎么解決？
我正在嘗試通過 USB 對 I2C 進(jìn)行編程。 該板包含 CX3 并連接了我們的相機(jī)。 但由于某種原因，CONTROL IN 傳輸失敗，錯(cuò)誤代碼：997。
此外，只有 Cypress USB 2.0
發(fā)表于 05-13 07:54
BGA底部填充膠固化異常延遲或不固化原因分析及解決方案
針對BGA（球柵陣列）底部填充膠（Underfill）固化異常延遲或不固化的問題，需從材料、工藝、設(shè)備及環(huán)境等多方面進(jìn)行綜合分析。以下為常見原因及解決方案一、
DCDC BUCK通過加RC Snubber解決EMI輻射超標(biāo)的仿真和實(shí)測數(shù)據(jù)分析
分別控制PMOS和NMOS打開，調(diào)節(jié)輸出到LX的信號占空比，通過不同的占空比最終實(shí)現(xiàn)負(fù)載端輸出不同的穩(wěn)定電壓。 DCDC的MOS開關(guān)工作為開關(guān)模式，因此通過管子上的電流是不連續(xù)的。如下圖，為BUCK
發(fā)表于 04-27 15:44
評論