微電子領(lǐng)域的焊點(diǎn)正在快速減少。減少焊點(diǎn)的主要原因是使印刷電路板（PCB）能夠承受，熱力學(xué)，電氣和機(jī)械負(fù)載。其中一個(gè)原因是提高其可靠性。許多電子封裝技術(shù)，如球柵陣列（BGA），芯片級(jí)封裝（CSP）和表面貼裝技術(shù)（SMT）等，都需要在各種材料或元件之間實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的機(jī)械和電氣連接。焊接的幫助，提供可靠的連接，確保高質(zhì)量的電子產(chǎn)品。如果發(fā)生單個(gè)焊點(diǎn)失效，則整個(gè)產(chǎn)品可能會(huì)發(fā)生故障。因此，在現(xiàn)代電子電氣產(chǎn)品中確保焊點(diǎn)的質(zhì)量非常重要。

< strong>傳統(tǒng)焊點(diǎn)的代理商

傳統(tǒng)或普通焊點(diǎn)的鉛（Pb）與少量其他化學(xué)品混合。結(jié)果化合物毒性很大，其長(zhǎng)期應(yīng)用帶來了各種問題，包括對(duì)人類健康危害和破壞環(huán)境。在現(xiàn)代，無(wú)鉛焊接技術(shù)正在取代鉛焊接，因?yàn)樗哂泻芨叩膬?yōu)點(diǎn)，對(duì)人類和環(huán)境沒有影響。但是，無(wú)鉛和鉛焊接頭的制造工藝存在差異。在將某些參數(shù)應(yīng)用于PCB之前，需要對(duì)其進(jìn)行修改。

鉛和無(wú)鉛焊點(diǎn)的比較

的1。無(wú)鉛焊點(diǎn)的熔點(diǎn)高于鉛焊點(diǎn)。

（1）傳統(tǒng)的鉛焊接點(diǎn)熔點(diǎn)約為183°C 。

（2）現(xiàn)代無(wú)鉛焊接接頭的熔點(diǎn)約為217°C。

如上述事實(shí)所示，無(wú)鉛焊點(diǎn)的熔點(diǎn)比傳統(tǒng)的鉛焊技術(shù)高出近33°C。因此，以下是其主要關(guān)注點(diǎn)。

（1）鉛焊料被各種化合物氧化后的溫度升高在金屬中迅速增長(zhǎng)。

（2）由于溫度升高，電解電容器或塑料封裝等部件受到影響最大。

（3）由于介電常數(shù)較低，SAC合金會(huì)給元件帶來應(yīng)變

（4）在元件的無(wú)鉛表面上有許多焊接表面。在焊接中使用錫是因?yàn)槠涑杀据^低。然而，有一層薄薄的氧化層傾向于在錫的表面上產(chǎn)生。此外，電鍍會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力。

2。無(wú)鉛焊接的最差潤(rùn)濕性

當(dāng)將無(wú)鉛焊接與鉛焊接技術(shù)進(jìn)行比較時(shí)，它具有較低的潤(rùn)濕性。無(wú)鉛焊接的潤(rùn)濕性低于鉛焊接。與鉛焊接頭的自校準(zhǔn)能力，剪切強(qiáng)度和抗拉強(qiáng)度相比，不良潤(rùn)濕性使得焊接接頭表現(xiàn)不佳并且不能滿足要求。此外，無(wú)鉛焊接的不良潤(rùn)濕性也會(huì)導(dǎo)致焊接時(shí)的剔除率更高。

無(wú)鉛和鉛焊接接頭的物理特性比較

以下表格說明了鉛和無(wú)鉛焊點(diǎn)的各種物理特性的比較。

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上表生病了由于與傳統(tǒng)焊接相比性能不同，無(wú)鉛焊接技術(shù)對(duì)焊點(diǎn)的可靠性產(chǎn)生了負(fù)面影響。然而，當(dāng)考慮機(jī)械影響時(shí)，與傳統(tǒng)的鉛焊相比，無(wú)鉛焊接非常困難。此外，它產(chǎn)生表面氧化物，合金殘留物和助焊劑污染物，并導(dǎo)致差的電性能和增加接觸電阻。因此，可以說電子產(chǎn)品的焊接技術(shù)從鉛到無(wú)鉛焊接的轉(zhuǎn)換并不是一個(gè)解決方案，而是由于文章中提到的不同問題。

鉛焊接更柔軟，因此焊接接頭是通過相對(duì)較硬的無(wú)鉛焊接機(jī)制產(chǎn)生的，這導(dǎo)致較小的轉(zhuǎn)變和高強(qiáng)度，導(dǎo)致無(wú)鉛焊點(diǎn)的更高可靠性。由于無(wú)鉛焊接的潤(rùn)濕性差，因此會(huì)產(chǎn)生某些缺陷，例如墓穴位置，空位和位移等。

將所有東西分開，最關(guān)注的事實(shí)是當(dāng)從鉛轉(zhuǎn)向無(wú)鉛焊接技術(shù)時(shí)，凸起的差異在于錫含量高于95％。這是錫的高晶須生長(zhǎng)，詳細(xì)說明如下。

錫須生長(zhǎng)

< p>錫晶須從較弱的氧化層部分生長(zhǎng)為單晶錫，并以圓柱形絲或圓柱形狀進(jìn)行。以下是預(yù)期的損失。

存在導(dǎo)致相鄰引腳之間出現(xiàn)捷徑的危險(xiǎn)。

也有可能對(duì)高頻應(yīng)用的功能產(chǎn)生不良影響。

金屬枝晶的生長(zhǎng)

金屬枝晶的特征與錫須不同。前者是電化學(xué)中離子電遷移的結(jié)果，而金屬枝晶將導(dǎo)致各種捷徑，這將進(jìn)一步導(dǎo)致電路失效。

導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）生成

CAF的產(chǎn)生是電化學(xué)反應(yīng)的另一個(gè)失敗。 CAF發(fā)生在印刷電路板的內(nèi)部，是由于導(dǎo)電燈絲含有從陽(yáng)極側(cè)向陰極側(cè)生長(zhǎng)的銅而引起的。

CAF正在增長(zhǎng)陰極和陽(yáng)極短路連接，發(fā)生在兩個(gè)不同的極點(diǎn)之間，導(dǎo)致災(zāi)難性的災(zāi)難。 CAF被認(rèn)為是具有高密度組裝的PCB以及具有高溫的無(wú)鉛焊接的災(zāi)難，使得該問題大量且容易地發(fā)生。

RayPCB提供無(wú)鉛和無(wú)鉛焊接

RayPCB了解每個(gè)項(xiàng)目的要求。在RayPCB，我們意識(shí)到不同的項(xiàng)目有不同的焊接要求。因此，為了滿足客戶的需求，我們提供PCB制造的無(wú)鉛和鉛焊接技術(shù)。