資料介紹
隨著支持IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描芯片的廣泛應(yīng)用,傳統(tǒng)的電路板測(cè)試方法如使用萬用表、示波器"探針",已不能滿足板級(jí)測(cè)試的需求,相反一種基于板級(jí)測(cè)試的邊界掃描技術(shù)得到了迅速發(fā)展。對(duì)邊界掃描測(cè)試技術(shù)的原理進(jìn)行了剖析,根據(jù)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)的使用規(guī)則對(duì)板級(jí)測(cè)試方法進(jìn)行了分析、提出了整體測(cè)試流程,最后在通用測(cè)試的基礎(chǔ)上進(jìn)行了二次開發(fā),提出了提高電路板測(cè)試覆蓋率的方法。


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