可靠性溫度測(cè)試在電子設(shè)計(jì)流程中非常重要。它有助于在早期檢測(cè)產(chǎn)品故障；確定合理的校準(zhǔn) / 保修時(shí)間；了解產(chǎn)品在極端溫度條件下的長(zhǎng)期性能。電子行業(yè)把溫度劃分為三個(gè)等級(jí)。首先是所謂的標(biāo)準(zhǔn)范圍或商用級(jí)，在 0 oC 至+40 oC 范圍內(nèi)產(chǎn)品可以獲得全面的質(zhì)保。-45oC 至 +80 oC 是一個(gè)更嚴(yán)苛的溫度范圍，通常用于消費(fèi)電子產(chǎn)品的極限測(cè)試。最后是極限溫度范圍，通常用于軍事、汽車(chē)和航空航天行業(yè)，范圍為 –55 oC 至 +150 oC，在對(duì)電子產(chǎn)品執(zhí)行環(huán)境測(cè)試時(shí)，測(cè)試工程師通常面臨著一個(gè)困境：探測(cè)系統(tǒng)必須能夠像產(chǎn)品一樣適應(yīng)嚴(yán)峻的環(huán)境條件。例如，車(chē)載設(shè)備的強(qiáng)化壽命測(cè)試需要在 -55 oC 至 +150 oC 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行。迄今為止，極限溫度測(cè)試要求工程師在非指定溫度范圍內(nèi)使用探頭，從而會(huì)損壞探頭。無(wú)論是有源還是無(wú)緣探頭，大部分探頭具有指定的工作溫度范圍，從 0 oC 至 +50oC。同軸電纜介質(zhì)材料的熱膨脹會(huì)使這些常規(guī)探頭受損。塑料外殼在 +60 oC 以上的溫度就會(huì)開(kāi)始變形。隨著溫度向極限范圍靠攏，有源探頭放大器的頻率響應(yīng)開(kāi)始下降。圖 1 顯示了在高溫老化測(cè)試之后，普通同軸電纜的外部屏蔽出現(xiàn)故障。

　　圖 2 顯示了在環(huán)境艙內(nèi)進(jìn)行多次熱循環(huán)之后，對(duì)探頭連接器進(jìn)行 X 光纖檢測(cè)。同軸電纜中的介質(zhì)材料會(huì)收縮，把中心探針從插座中拔出。最終會(huì)引起直流不連續(xù)性。