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電子發(fā)燒友網(wǎng)>新品快訊>TI推出顯著降低上表面熱阻的功率MOSFET DualCoo

TI推出顯著降低上表面熱阻的功率MOSFET DualCoo

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2025-06-20 23:01:45646

東芝推出兩項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)提升碳化硅功率器件性能

日本川崎——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(簡稱“東芝”)研發(fā)了一項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù),該技術(shù)可在增強(qiáng)溝槽型碳化硅(SiC)MOSFET[2]的UIS耐用性[3]的同時,顯著降低其因?qū)娮鑋1]而產(chǎn)生的損耗
2025-06-20 14:18:50956

如何避免體積表面電阻率測試儀中的“假高”現(xiàn)象?

在材料電性能測試領(lǐng)域,體積表面電阻率是衡量絕緣材料、半導(dǎo)體材料等導(dǎo)電性的關(guān)鍵指標(biāo)。然而,在實(shí)際測試過程中,“假高” 現(xiàn)象(即測試所得電阻值虛高,與材料真實(shí)性能不符)頻發(fā),嚴(yán)重干擾測試結(jié)果的準(zhǔn)確性
2025-06-16 09:47:57569

丹佛斯DCM1000功率模塊的封裝技術(shù)演進(jìn)

丹佛斯(Danfoss)的DCM(Direct Cooled Module直接冷卻模塊)是業(yè)內(nèi)首創(chuàng)的一款針對于車規(guī)級功率模塊的封裝設(shè)計(jì),其核心創(chuàng)新在于直接水冷散熱設(shè)計(jì),通過取消傳統(tǒng)基板,將功率單元直接焊接在散熱器上,顯著降低。
2025-06-14 09:39:382613

導(dǎo)熱材料亂象多,金鑒導(dǎo)熱系數(shù)/鑒定一統(tǒng)江湖

眾所周知,隨著溫度升高,電子器件可靠性和壽命將呈指數(shù)規(guī)律下降。對于LED產(chǎn)品和器件來說,選用導(dǎo)熱系數(shù)和盡可能小的原材料是改善產(chǎn)品散熱狀況、提高產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。在LED產(chǎn)品中,經(jīng)常
2025-06-11 12:48:42497

LED封裝器件測試與散熱能力評估

概念與重要性是衡量熱量在熱流路徑上所遇阻力的物理量,它反映了介質(zhì)或介質(zhì)間傳熱能力的強(qiáng)弱,具體表現(xiàn)為1W熱量引起的溫升大小,單位為℃/W或K/W??梢詫崃勘茸麟娏?,溫差比作電壓,那么
2025-06-04 16:18:53681

初級元器件知識之功率MOSFET

什么是功率 MOSFET? 我們都懂得如何利用二極管來實(shí)現(xiàn)開關(guān),但是,我們只能對其進(jìn)行開關(guān)操作,而不能逐漸控制信號流。此外,二極管作為開關(guān)取決于信號流的方向;我們不能對其編程以通過或屏蔽一個信號
2025-06-03 15:39:43

MOSFET參數(shù)解讀

MOSFET(Rth)用來表征器件散熱的能力,即芯片在工作時內(nèi)部結(jié)產(chǎn)生的熱量沿著表面金屬及塑封料等材料向散熱器或者環(huán)境傳遞過程中所遇到的阻力,單位是℃/W,其值越小越好。
2025-06-03 15:30:161915

使用 N-MOSFET 作為功率吸收路徑有哪些優(yōu)點(diǎn)?

CCG8 使用 GPIO 來控制 FET 柵極驅(qū)動器的功率吸收路徑, 我可以使用 P-MOSFET 作為電源接收路徑嗎? 使用 N-MOSFET 作為功率吸收路徑有哪些優(yōu)點(diǎn)?
2025-05-28 06:51:33

圣邦微電子推出30V單N溝道功率MOSFET SGMNQ36430

圣邦微電子推出 SGMNQ36430,一款 30V 單 N 溝道功率 MOSFET(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)。該器件可應(yīng)用于 CPU 電源傳輸、DC/DC 轉(zhuǎn)換器、功率負(fù)載開關(guān)以及筆記本電池管理等領(lǐng)域。
2025-05-09 16:57:26971

AOS推出第三代1200V aSiC MOSFET,專為高功率應(yīng)用能效優(yōu)化而生

日前,集設(shè)計(jì)研發(fā)、生產(chǎn)和全球銷售為一體的著名功率半導(dǎo)體及芯片解決方案供應(yīng)商 Alpha and Omega Semiconductor Limited(AOS, 納斯達(dá)克代碼:AOSL)推出其新一代
2025-05-07 10:56:10728

MOSFET柵極應(yīng)用電路分析匯總(驅(qū)動、加速、保護(hù)、自舉等等)

MOSFET是一種常見的電壓型控制器件,具有開關(guān)速度快、高頻性能、輸入阻抗高、噪聲小、驅(qū)動功率小、動態(tài)范圍大、安全工作區(qū)域(SOA)寬等一系列的優(yōu)點(diǎn),因此被廣泛的應(yīng)用于開關(guān)電源、電機(jī)控制、電動工具等
2025-05-06 17:13:58

MOSFET講解-17(可下載)

接下來接著看 12N50 數(shù)據(jù)手冊上面這個參數(shù)是 MOSFET,RBJC 表示 MOS 管結(jié)溫到表面,這里我們知道 RBJC=0.75。的計(jì)算公式:RBJC = Tj?Tc P
2025-04-22 13:29:185

CSD17581Q3A 30V、N 通道 NexFET? 功率 MOSFET技術(shù)手冊

這款 30V、3.2mΩ、SON 3.3mm × 3.3mm NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉(zhuǎn)換損耗 應(yīng)用。 *附件:CSD17581Q3A 30V N 溝道
2025-04-16 11:25:34775

CSD18513Q5A 40V、N 通道 NexFET? 功率 MOSFET數(shù)據(jù)手冊

這款 40V、2.8mΩ、5mm × 6mm SON NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中的損耗。 *附件:CSD18513Q5A 40V N 溝道 NexFET
2025-04-16 10:54:00755

CSD18511Q5A 40V、N通道 NexFET? 功率 MOSFET,單 SON 5mm x 6mm,2.3mOhm技術(shù)手冊

時為1.9mΩ,有助于減少功率損耗。 ? 低熱 ?:結(jié)到殼RθJC為1.2°C/W,有助于散熱。 ? 雪崩能力 ?:支持雪崩模式工作,具有較高的耐雪崩能量。 ? 邏輯電平 ?:適合邏
2025-04-16 10:45:52677

CSD18543Q3A 60V、N 通道 NexFET? 功率 MOSFET數(shù)據(jù)手冊

這款 60V、8.1mΩ、SON 3.3mm × 3.3mm NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉(zhuǎn)換中的損耗 應(yīng)用。 *附件:CSD18543Q3A 60V N 溝道
2025-04-16 10:35:32787

CSD18512Q5B 40V、N 溝道 NexFET? 功率 MOSFET數(shù)據(jù)手冊

這款 40 V、1.3 mΩ、5 mm × 6 mm NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中的損耗。 *附件:CSD18512Q5B 40 V N 溝道 NexFET
2025-04-16 10:20:33782

CSD18510KCS 40V、N 溝道 NexFET? 功率 MOSFET,單 TO-220,1.7mOhm數(shù)據(jù)手冊

電荷 ?:Qg(總柵極電荷)在VGS=10V時為118nC,有助于減少開關(guān)損耗。 ? 低導(dǎo)通電阻 ?:RDS(on)(漏源導(dǎo)通電阻)在VGS=10V時為1.4mΩ,有助于降低傳導(dǎo)損耗。 ? 低熱 ?:結(jié)到殼
2025-04-16 10:13:57763

CSD18510Q5B 40V、N 溝道 NexFET? 功率 MOSFET技術(shù)手冊

這款 40V、0.79mΩ、SON 5mm × 6mm NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中的損耗。 *附件:CSD18510Q5B N 溝道 NexFET 功率
2025-04-16 10:05:07663

CSD18511KCS 40V、N 溝道 NexFET? 功率 MOSFET技術(shù)手冊

這款 40V、2.1mΩ、TO-220 NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地減少功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中的損耗。 *附件:CSD18511KCS 40V N 溝道 NexFET 功率
2025-04-15 16:23:11772

MOSFET 數(shù)據(jù)手冊,試試這樣看!

通過系統(tǒng)電路可以進(jìn)行修正。 表示熱傳導(dǎo)的難易程度,分為溝道-環(huán)境之間的、溝道-封裝之間的,越小,表示散熱性能越好。 純分享貼,有需要可以直接下載附件獲取完整資料! (如果內(nèi)容有幫助可以關(guān)注、點(diǎn)贊、評論支持一下哦~)
2025-04-11 11:04:25

Wurth Elektronik推出的一款可降低損耗的功率電感器——78477620

78477620型號簡介       78477620是Wurth Elektronik推出的一款功率電感,這款功率電感器的直流電阻只有 0.2 歐姆,意味著
2025-03-28 14:39:47

Vishay推出第4.5代650V E系列高效能電源MOSFET

和計(jì)算領(lǐng)域的功率轉(zhuǎn)換效率和功率密度,顯著改善了前代產(chǎn)品的性能。SiHK050N65E采用了先進(jìn)的n-channel設(shè)計(jì),與之前的MOSFET相比,具備48.2%的導(dǎo)
2025-03-27 11:49:46945

MOSFET與IGBT的區(qū)別

飛兆半導(dǎo)體的IGBT器件FGP20N6S2 (屬于SMPS2系列)和MOSFET器件 FCP11N60(屬于SuperFET 產(chǎn)品族)。這些產(chǎn)品具有相近的芯片尺寸和相同的阻抗RθJC,代表了功率
2025-03-25 13:43:17

MOSFET開關(guān)損耗計(jì)算

MOSFET 而言,其最大功率損耗是由溫度及結(jié)-包裝外殼間之所決定的,即: 由上式可知,若能夠有效減少,則 Power MOSFET 所能承受之的最大功率損耗就可以獲得提升。圖 1 為
2025-03-24 15:03:44

羅德與施瓦茨推出全新NRP140TWG(N)功率傳感器

羅德與施瓦茨(以下簡稱“R&S”)推出全新R&S NRP140TWG(N)功率傳感器,采用高性能WR 8波導(dǎo)連接器,專為滿足F頻段應(yīng)用日益增長的需求而打造。該傳感器完全可溯源至德
2025-03-21 16:09:52912

Nexperia推出高效耐用的1200 V SiC MOSFET,采用創(chuàng)新X.PAK封裝技術(shù)

近日,Nexperia宣布推出一系列新型的1200V碳化硅(SiC)MOSFET,專為滿足工業(yè)應(yīng)用中的高效能和耐用性需求而設(shè)計(jì)。這些新產(chǎn)品不僅具備卓越的溫度穩(wěn)定性,還采用了先進(jìn)的表面貼裝(SMD
2025-03-20 11:18:11963

CAB450M12XM3工業(yè)級SiC半橋功率模塊CREE

的應(yīng)用,CAB450M12XM3的體積和重量僅為傳統(tǒng)62mm模塊的一半,完美適配空間受限的安裝環(huán)境。 低電感架構(gòu):其6.7nH的低電感設(shè)計(jì)優(yōu)化了功率總線布局,顯著降低了開關(guān)過程中的能量損耗。 高溫穩(wěn)定運(yùn)行:支持連續(xù)工作結(jié)溫高達(dá)
2025-03-17 09:59:21

VirtualLab Fusion應(yīng)用:光學(xué)系統(tǒng)中的透鏡

Fusion中,這些效應(yīng)是通過連接表面算子和非均質(zhì)介質(zhì)的求解器來處理的。我們在材料加工應(yīng)用中常見的各種光學(xué)元件(如透鏡和激光棒)中演示了這些效應(yīng)。 透鏡導(dǎo)致的焦點(diǎn)移動研究 在這個用例中,我們展示了由
2025-03-13 08:57:22

VirtualLab Fusion應(yīng)用:應(yīng)用一個透鏡對高斯光束聚焦

摘要 透鏡效應(yīng)描述了由高功率入射激光束的熱力梯度引起的介質(zhì)折射率的不均勻性。對于具有特定參數(shù)的高斯光束,折射率在數(shù)學(xué)上表示為溫度和輸入功率的函數(shù)[W. Koechener, Appl. Opt.
2025-03-13 08:52:49

人形機(jī)器人設(shè)計(jì)中,哪些關(guān)鍵部位需要功率器件?典型電壓/電流參數(shù)如何設(shè)計(jì)?

我們正在研究人形機(jī)器人,想了解在關(guān)節(jié)驅(qū)動、電源管理、控制等子系統(tǒng)中使用功率器件(如MOSFET、IGBT、IPM)。目前遇到以下問題: ? 功率器件分布不明確 :不清楚哪些關(guān)鍵部位必須使用高功率
2025-03-12 14:05:28

VirtualLab Fusion應(yīng)用:透鏡引起焦點(diǎn)偏移的研究

摘要 隨著材料加工技術(shù)的發(fā)展,高功率激光光源的應(yīng)用越來越廣泛。這在光學(xué)系統(tǒng)的各個元件中產(chǎn)生大量的熱量,可能引入各種光學(xué)效應(yīng),如透鏡效應(yīng),它將改變透鏡的焦距。在這個用例中,我們演示了由聚焦透鏡
2025-03-12 09:43:29

基于RCSPICE模型的GaNPX?和PDFN封裝的特性建模

GaN Systems提供RC模型,使客戶能夠使用SPICE進(jìn)行詳細(xì)的模擬。 模型基于有限元分析(FEA)模擬創(chuàng)建,并已由GaN Systems驗(yàn)證。 選擇了考爾(Cauer)模型,使客戶
2025-03-11 18:32:031433

60V耐壓降壓芯片內(nèi)置MOS管 SL3037B替代TPS54240

滿足高壓需求。 內(nèi)置功率MOS管設(shè)計(jì)? SL3037B集成?0.9Ω低MOSFET?,無需外置MOS管,外圍電路僅需6個元件?;TPS54240需外接MOS管,增加設(shè)計(jì)復(fù)雜度和BOM成本。 輸出
2025-03-07 16:24:10

一文帶你讀懂MOSFET開關(guān)損耗計(jì)算!?。夥e分)

)對 Power MOSFET 而言,其最大功率損耗是由溫度及結(jié)-包裝外殼間之所決定的,即: 由上式可知,若能夠有效減少,則 Power MOSFET 所能承受之的最大功率損耗就可以獲得提升。圖 1
2025-03-06 15:59:14

新潔能推出HO系列MOSFET產(chǎn)品

隨著市場對高性能功率半導(dǎo)體器件寬SOA MOSFET需求的日益增長,新潔能(NCE)產(chǎn)品研發(fā)部門推出HO系列MOSFET產(chǎn)品,優(yōu)化了SOA工作區(qū)間,可滿足熱插拔、緩啟動、電子保險絲、電機(jī)驅(qū)動、BMS
2025-03-04 14:40:341237

國產(chǎn)碳化硅MOSFET全面開啟對超結(jié)MOSFET的替代浪潮

MOSFET的開關(guān)頻率(如B3M040065H的開關(guān)時間低至14ns)遠(yuǎn)超SJ 超結(jié)MOSFET,可減少電源系統(tǒng)中的磁性元件體積,提升功率密度(如數(shù)據(jù)手冊中提到的“開關(guān)能量降低至160μJ”)。 高溫可靠性
2025-03-02 11:57:01899

應(yīng)用資料#QFN12x12封裝600V GaN功率級熱性能總結(jié)

的快速轉(zhuǎn)變率和高開關(guān)頻率能力中獲得顯著優(yōu)勢,并由于其大的暴露墊而提高其熱性能,顯示出比其他流行的表面貼裝封裝(如to lead-Less和D2PAK)更好的功耗能力,這些封裝廣泛用于分立功率器件。通過
2025-02-25 10:36:391037

SOT8038-1塑料增強(qiáng)型表面貼裝封裝

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《SOT8038-1塑料增強(qiáng)型表面貼裝封裝.pdf》資料免費(fèi)下載
2025-02-19 16:28:460

Wolfspeed發(fā)布第4代MOSFET技術(shù)平臺

的領(lǐng)導(dǎo)者,Wolfspeed的第4代MOSFET技術(shù)平臺不僅降低了系統(tǒng)成本,還顯著縮短了開發(fā)時間。該平臺專為簡化大功率設(shè)計(jì)中的復(fù)雜開關(guān)行為和設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì),為設(shè)計(jì)師們提供了更加高效、可靠的解決方案。 此外,Wolfspeed的第4代MOSFET技術(shù)平臺還為公司的各類產(chǎn)品制定了
2025-02-17 10:28:44943

的基礎(chǔ)知識

工藝的核心材料。它由高分子樹脂、光敏劑、溶劑及添加劑組成。其特性直接影響芯片圖形化的精度。 ? 光的作用: 圖形轉(zhuǎn)移:通過曝光顯影,在硅片表面形成納米級圖案,作為后續(xù)刻蝕或離子注入的掩膜。 保護(hù)作用:阻擋刻蝕劑或離子對非目標(biāo)區(qū)域的損傷
2025-02-13 10:30:233887

濕度大揭秘!如何影響功率半導(dǎo)體器件芯片焊料

。特別是濕度對功率半導(dǎo)體器件芯片焊料的影響,已成為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界關(guān)注的焦點(diǎn)。本文將深入探討濕度對功率半導(dǎo)體器件芯片焊料的影響機(jī)理,以期為功率半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)、制
2025-02-07 11:32:251527

功率器件設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識

功率器件設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC等高功率密度器件可靠運(yùn)行的基礎(chǔ)。掌握功率半導(dǎo)體的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識,不僅有助于提高功率器件的利用率和系統(tǒng)可靠性,還能有效降低系統(tǒng)成本。本文將從設(shè)計(jì)的基本概念、散熱形式、與導(dǎo)熱系數(shù)、功率模塊的結(jié)構(gòu)和分析等方面,對功率器件設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識進(jìn)行詳細(xì)講解。
2025-02-03 14:17:001354

瑞薩電子推出全新100V大功率MOSFET

全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體解決方案提供商瑞薩電子,近日宣布了一項(xiàng)重要技術(shù)創(chuàng)新——基于其全新的MOSFET晶圓制造工藝REXFET-1,成功推出了兩款100V大功率N溝道MOSFET:RBA300N10EANS
2025-01-22 17:04:06991

SGT MOSFET的優(yōu)勢解析

SGT MOSFET,即屏蔽柵溝槽MOSFET,是一種先進(jìn)的功率半導(dǎo)體器件。這種技術(shù)改變了MOSFET內(nèi)部電場的形態(tài),將傳統(tǒng)的三角形電場進(jìn)一步的變更為類似壓縮的梯形電場,可以進(jìn)一步減小EPI層的厚度,降低導(dǎo)通電阻Rds(on)。
2025-01-22 13:55:545890

SemiQ推出1700 V SiC MOSFET系列,助力中壓大功率轉(zhuǎn)換領(lǐng)域

近日,全球知名碳化硅(SiC)功率半導(dǎo)體制造商SemiQ正式發(fā)布了一款1700 V SiC MOSFET系列新品,專為中壓大功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用設(shè)計(jì)。
2025-01-22 11:03:221221

功率器件設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(十三)——使用系數(shù)Ψth(j-top)獲取結(jié)溫信息

/前言/功率半導(dǎo)體熱設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎(chǔ),只有掌握功率半導(dǎo)體的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識,才能完成精確設(shè)計(jì),提高功率器件的利用率,降低系統(tǒng)成本,并保證系統(tǒng)的可靠性。功率器件
2025-01-20 17:33:501975

功率器件設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(十二)——功率半導(dǎo)體器件的PCB設(shè)計(jì)

/前言/功率半導(dǎo)體熱設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎(chǔ),只有掌握功率半導(dǎo)體的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識,才能完成精確設(shè)計(jì),提高功率器件的利用率,降低系統(tǒng)成本,并保證系統(tǒng)的可靠性。功率器件
2025-01-13 17:36:111819

瑞薩電子推出新型 100V 高功率 MOSFET,助力多領(lǐng)域應(yīng)用

MOSFET的核心亮點(diǎn)在于采用了瑞薩電子創(chuàng)新的晶圓制造工藝——REXFET-1。這項(xiàng)技術(shù)有效降低MOSFET的導(dǎo)通電阻(Rdson)高達(dá)30%,從而顯著減少了功率損耗,為
2025-01-13 11:41:38957

Simcenter Micred T3STER瞬態(tài)測試儀

SimcenterMicredT3STER瞬態(tài)測試儀通過高精度、可重復(fù)的瞬態(tài)測試技術(shù)和結(jié)構(gòu)功能分析,對封裝半導(dǎo)體器件進(jìn)行熱表征。為何選擇SimcenterMicredT3STER
2025-01-08 14:27:211788

功率器件設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(十一)——功率半導(dǎo)體器件的功率端子

/前言/功率半導(dǎo)體熱設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎(chǔ),只有掌握功率半導(dǎo)體的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識,才能完成精確設(shè)計(jì),提高功率器件的利用率,降低系統(tǒng)成本,并保證系統(tǒng)的可靠性。功率器件
2025-01-06 17:05:481328

半導(dǎo)體在測試中遇到的問題

在半導(dǎo)體器件的實(shí)際部署中,它們會因功率耗散及周圍環(huán)境溫度而發(fā)熱,過高的溫度會削弱甚至損害器件性能。因此,測試對于驗(yàn)證半導(dǎo)體組件的性能及評估其可靠性至關(guān)重要。然而,半導(dǎo)體熱測試過程中常面臨諸多挑戰(zhàn)
2025-01-06 11:44:391580

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