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不同種類的半導(dǎo)體元器件測試儀的設(shè)計原理

電子森林 ? 來源:FPGA入門到精通 ? 作者:FPGA入門到精通 ? 2020-11-14 10:10 ? 次閱讀
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很多電子愛好者、初學(xué)者在碰到一個半導(dǎo)體器件的時候,需要確認(rèn)它的型號、功能以及管腳定義,才能夠正確使用它。但當(dāng)你從一塊印刷電路板上拆下一個器件,或者從元器件盒中拿出一個器件,除非能夠正確辨認(rèn)出上面的型號,找到對應(yīng)數(shù)據(jù)手冊文檔,否則就需要手工確認(rèn)它就是是那種類型的三極管、場效應(yīng)管、晶閘管、二極管電容、電感等。

當(dāng)然可以借助手邊的萬用表進(jìn)行初步判斷,但這費(fèi)事、費(fèi)力,而且不容易測量準(zhǔn)確。

▲ 不同種類的半導(dǎo)體元器件

近期從網(wǎng)絡(luò)上購買了一款GM328A V1.2電子器件測量模塊。功能還挺齊全,除了可以對常用到的電阻、電容、電感測量,而且可以快速判斷常見到的半導(dǎo)體器件的型號和部分參數(shù)。

本以為實現(xiàn)這個功能,模塊上需要集成很多復(fù)雜電路來完成。但觀察這個模塊,除了必要的接口、LCD之外,核心的就是一片ATMEGA328單片機(jī)。因此驚訝于它的功能實現(xiàn)上的簡潔明了。

▲ GM328A 模塊的正面和反面

在網(wǎng)絡(luò)上通過GM328A關(guān)鍵詞搜索,可以看到這是一個開源的電子項目。在AVR-Transistortester中給出了有von Markus Frejek這款設(shè)計最初雛形(2009)。后經(jīng)很多電子愛好者進(jìn)行更新。Karl-Heinz在2015年通過TransistorTester with AVR microcontroller and a little more對總結(jié)了他的軟件開發(fā)工作。特別是對這款基于ATMEGA單片機(jī)如何實現(xiàn)三極管等電子器件測量的原理進(jìn)行的詳細(xì)的討論。不僅滿足了我們的好奇心,其中所使用的一些基本測量 原理也對測量電子元器件提供了參考方案。

下面將其中主要測試原理進(jìn)行介紹,詳細(xì)方案和資料可以參見網(wǎng)絡(luò)原文。

02模塊原理圖

1.原理圖

下面是測量模塊和核心電路原理圖,市面上銷售的不同廠家模塊會在此基礎(chǔ)和有所增加和修改。

▲ 電路原理圖

電路下面關(guān)于電源控制部分比較經(jīng)典。通過晶體管T1,T2,T3完成電路的自動關(guān)機(jī),關(guān)機(jī)后的靜態(tài)功耗只有20nA(也就是T1的漏電流乘以T3的電流增益)。

電路圖右上方給出了用于元器件測試端子TP1, TP2, TP3的連接關(guān)系。每一個端口實際上與三個ATMEGA單片機(jī)管腳相連。

2.測試端口

對于ATMEGA單片機(jī)IO口,實際上對于現(xiàn)在大部分的單片機(jī)都類似,可以通過軟件配置將IO口配置成輸入、輸出、特殊功能等多種形式。下圖顯示了ATMEGA單片機(jī)典型IO口的等效電路形式。

▲ ATMEGA單片機(jī)IO口等效電路

使用端口控制寄存器中的PUD、PORT、DD等控制位,可以設(shè)置端口是否為輸出,是否接地,接VCC、上拉電阻是否接入等。端口的輸入功能(PIN)和ADC轉(zhuǎn)換(只有C端口)不受端口控制位的影響。

由于內(nèi)部是通過MOS管完成對GND,VCC的連接,所以圖中的19歐姆、22歐姆對應(yīng)MOS管的導(dǎo)通內(nèi)阻,是一個約數(shù)。

下圖顯示了三個測試端口(以TP2為例)對應(yīng)的單片機(jī)的等效電路。除了對應(yīng)單片機(jī)的端口不同,電路形式和參數(shù)都是一樣的。

▲ 測試端口等效電路

通過這個電路可以完成對測量端口狀態(tài)(懸空、接GND、接VCC)的轉(zhuǎn)換,同時接入GND, VCC有三種不同的阻值(直接接入,680Ω,470kΩ),PC端口可以完成對測量點的電壓測量。

如果是測量普通的三極管,可以通過配置三個測試端口不同的狀態(tài),搭建三極管的共射、共基、共集等形式的放大電路,從而可以測量三極管的電流放大倍數(shù)、基極導(dǎo)通電壓等參數(shù)。

03元器件測量

1.測量三極管

下面給出了分別測量NPN型三極管、PNP型三極管、N-JFET場效應(yīng)管的等效電路圖。通過測量晶體管三個電極的不同電位,再根據(jù)連入的電阻(680,470k)可以分別測量出三極管的基極、集電極、發(fā)射極的電流。由此,可以獲得三極管電流放大倍數(shù)參數(shù),JFET導(dǎo)通電壓等參數(shù)。

在原文中還給出了如何將三極管與晶閘管(Thyristor)、雙向?qū)ňчl管(TRIAC)如何進(jìn)行區(qū)分的判斷標(biāo)準(zhǔn)。

▲ 測量NPN型三極管電流放大倍數(shù)電路

▲ 測量PNP型三極管電路

▲ 測量N-JFET三極管電路

由于三極管種類型號眾多,通過ATMEGA單片機(jī)軟件,按照一定流程分別對三個測試點的模式進(jìn)行切換,逐步來確定待測三極管的正確種類、正確的管腳順序。然后在按照所組成的電路完成性能的測量。

下圖給出了軟件判斷的簡化流程圖。

▲ 測量判斷流程

2.測量二極管

在前面的判斷流程圖中,可以分別出連接器件為單向?qū)ǖ膬啥似骷_@可以通過判斷該器件與680Ω和470k歐姆串聯(lián)后,正反方向電流的變化來確認(rèn)。

電路可以測量出二極管的正向?qū)妷?,反向漏電流以及反向結(jié)電容的大小。

測量反向階電容所使用的方法和后面測量電容的方法相同。

3.測量電阻

對于低阻電阻(小于20kΩ),使用680Ω已知電阻與待測電阻進(jìn)行串聯(lián),通過測量分壓比可以獲得待測電阻的阻值。同樣,對于高阻電阻(大于20kΩ),則使用470kΩ進(jìn)行串聯(lián)分壓。

下面給出了測量的端口配置電路圖。

▲ 測量電阻形式1

4.測量電容和電感

測量電容是通過對電容進(jìn)行充放電來實現(xiàn)的。對于大容量電容,則采用固定充電時間,檢測充電電壓來計算。對于小容量電容,則通過測量電容充放電時間來完成測量。

▲ 測量電容進(jìn)行充放電

▲ 對電容進(jìn)行充放電的波形

▲ 通過比較器來測量低容量電容

▲ 對于22uF電容進(jìn)行充電和放電

對于小容量電容,還可以通過比較充電過沖電壓來測量電容等效串聯(lián)電阻,進(jìn)而可以計算出電容的品質(zhì)因數(shù)等參數(shù)。

對于電感的測量則是通過測量電感上電壓上升時間來完成。下圖給出了利用內(nèi)部的比較器來測量電壓變化時間的配置框圖。

▲ 利用比較器來測量電感

04其它情況

通過上面的簡單介紹,可以看出這款基于ATMEGA的IO端口特性所設(shè)計的測量電路具有很大的靈活性。這個開源的項目,經(jīng)由不同的愛好者的加入,它的功能逐步也豐富起來。

除了測量普通的器件,利用單片機(jī)多余的端口,還開發(fā)出測量電壓信號,測量頻率值,產(chǎn)生PWM脈沖,產(chǎn)生單個脈沖,模塊進(jìn)行自檢等輔助功能。

通過閱覽Karl-Heinz總結(jié)的文獻(xiàn),不僅讓我們看到他的精巧電路設(shè)計思路,同時也有他們進(jìn)行測試的數(shù)據(jù)分析,領(lǐng)略了這種硬件和軟件相結(jié)合后所產(chǎn)生的無窮的魅力。

責(zé)任編輯:xj

原文標(biāo)題:元器件測試儀的設(shè)計原理

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