需要知道的是在電池設(shè)備中，主要分為三大部分，分別為雙向AC－DC電能變換，數(shù)據(jù)處理單元，以及電池測試單元。本文主要剖析實(shí)現(xiàn)電池化成分容技術(shù)要點(diǎn)緊密相關(guān)的電池測試單元的功率變換部分。

功率變換

電池測試單元的功率部分主要包括模擬控制器，半橋驅(qū)動(dòng)，MOSFET，輸入輸出保護(hù)器。電能變換拓?fù)渥畛Ｓ玫木褪前霕蛘鞯腂uck／Boost變換電路，主要是因?yàn)殡娐方Y(jié)構(gòu)簡單，控制也不復(fù)雜，同時(shí)能滿足目前市面上低至0．5A或者更小以及高至上百安培的輸出電流的應(yīng)用場合，不同的是在大電流應(yīng)用場合，為了保證良好的散熱性能并減小體積，多采用多相Buck／Boost并聯(lián)的方式，無論單相還是兩相甚至多相，不變的是控制方案。

TL594分立方案

目前比較成熟的方案是TL594的模擬分立方案，德州儀器在之前推出過TL594方案的TI Design，如圖1所示，該方案成熟穩(wěn)定，且有性價(jià)比優(yōu)勢。

圖1 TI Design框圖

半橋驅(qū)動(dòng)器

當(dāng)測試單元的輸出電流在10A左右或以內(nèi)時(shí)，驅(qū)動(dòng)能力要求不大的條件下一般1A左右即可滿足要求，使用較為常見的有LM5109B和LM5106，表1。

當(dāng)輸出電流在幾十上百安時(shí)，考慮MOSFET的快速切換所需要的驅(qū)動(dòng)電流，UCC27282目前驅(qū)動(dòng)電流2．5A source／3．5A sink電流，且HS能承受的負(fù)壓較大，可靠性較高，因?yàn)槠渚哂械膇nterlock的功能，所以不會(huì)變換器半橋節(jié)點(diǎn)的di／dt的干擾而出現(xiàn)半橋直通的情況。

表1：驅(qū)動(dòng)器

LM5060與LM5069實(shí)現(xiàn)功率接口的保護(hù)器

當(dāng)電池充電時(shí)，系統(tǒng)如果沒有電流防倒灌保護(hù)，被測試電池將放電，會(huì)產(chǎn)生不可靠的的系統(tǒng)啟動(dòng)動(dòng)作，同時(shí)在系統(tǒng)過壓過流欠壓保護(hù)時(shí)，如果只有主電路MOSFET關(guān)閉，電池仍然有電流倒灌的路徑，因此附加輸入輸出接口保護(hù)器尤為重要。LM5060與LM5069適用于輸入輸出的接口的欠壓，過壓，浪涌電流等保護(hù)，參數(shù)如表2所示。

表2：負(fù)載開關(guān)參數(shù)表

LM5170－Q1集成方案

當(dāng)電流較大，需要使用多相交錯(cuò)并聯(lián)，而一顆TL594只能控制一相功率變換電流，同時(shí)需要外部給定給TL594同步信號(hào)，多相并聯(lián)增加了TL594分立元件方案復(fù)雜度。LM5170－Q1的方案內(nèi)部含有兩路控制環(huán)路，既可獨(dú)立工作也可以交錯(cuò)并聯(lián)，且集成過壓過流欠壓等保護(hù)，支持二極管仿真模式，同時(shí)也有防電流倒灌的保護(hù)電路。圖2為兩路并聯(lián)的典型應(yīng)用方案TI Design： TIDA－01041，輸出電流最大100A，且具有0．02％的電流精度與0．1％的電壓精度。

圖2： TIDA－01041

LM5170－Q1方案的優(yōu)勢在于不僅為信號(hào)鏈的設(shè)計(jì)留出了可自由拓展的空間，且集成度較高，為功率變換MOSFET的散熱提供了較大的空間。ti．com提供幾種不同電流大小的參考設(shè)計(jì)TID－A01041，TIDA－01042。

審核編輯：符乾江