硅光子學設備的測量需要光學以及高速數字功能。我們集成的SiPh解決方案允許對位于晶片上方的光纖進行亞微米處理，從而自動優(yōu)化光纖耦合位置。

硅光子學（SiPh）技術正在發(fā)現數據中心應用的早期應用，其中可能會出現汽車LIDAR等新興應用。在硅光子器件上成功測量的關鍵是探針，定位以及測試和測量技術的集成。

硅光子器件的測量需要光學和高速數字功能。我們的集成SiPh解決方案允許對位于晶片上方的光纖進行亞微米操作，自動優(yōu)化光纖耦合位置。Contact Intelligence技術使用機器視覺技術自動化Theta X，Y和Z軸校準和校準，從而實現開箱即用的測量，將過去幾天，幾周或幾個月的時間縮短到幾分鐘。當與自主DC和RF結合使用時，測量選項從光學光學擴展到包括PhotoDiodes，光學調制器等。

我們的SiPhTools應用程序填補了它們之間的空白Velox和第三方應用程序，如Keysight Photonics Application Suite，也可在Probe Station PC上運行。數據通過單個接口通過中央消息服務器中心流向最終用戶的測試執(zhí)行程序（例如，Keysight測試自動化平臺）。

我們的硅光子解決方案采用先進的光學對準算法與高速，高精度壓電控制相結合，可自動實現最佳的光纖耦合位置。通過Contact Intelligence實現，這一新解決方案可以快速縮短測試時間并縮短產品上市時間。新系統既可在動態(tài)工程環(huán)境中靈活運行，又可提供生產測試所需的穩(wěn)定性和可重復性。

審核編輯：符乾江