隨著二維材料研究的蓬勃發(fā)展，其材料性能及器件工作機(jī)制都與傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料和器件有很大差異，光電流成像顯微系統(tǒng)成為研究材料性能和檢測(cè)材料光電流強(qiáng)度分布的重要設(shè)備，既可以用于測(cè)量光電材料的光電響應(yīng)信號(hào)，又可以表征材料的光電性質(zhì)。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

全自動(dòng)化

200nm-12000nm波段全響應(yīng)

多維度測(cè)量

電學(xué)儀表高度兼容

高穩(wěn)定性，操作便捷

光電流強(qiáng)大的綜合測(cè)試能力

系統(tǒng)基本功能：

1）I-V測(cè)試；

2）I-T測(cè)試；

3）響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；

4）噪聲測(cè)試；

5）光電流mapping；

6）反射譜測(cè)試。

托托科技致力于開(kāi)發(fā)具有高性能、高穩(wěn)定性和高靈活度的微區(qū)光電流成像顯微系統(tǒng)，系統(tǒng)采用雙層平臺(tái)機(jī)構(gòu)，空間大，提供更多組合可能性，可搭配激光合束模組、高精度 XY 運(yùn)動(dòng)臺(tái)、電磁場(chǎng)系統(tǒng)、低溫恒溫系統(tǒng)、鎖相放大器、光譜儀系統(tǒng)等。系統(tǒng)兼容磁場(chǎng)、電場(chǎng)、低溫，實(shí)現(xiàn)對(duì)二維材料磁、光、電、溫度、力的調(diào)制。我們提供完整的NI Labview 控制程序以方便用戶的使用。軟件包將所有系統(tǒng)中的測(cè)試設(shè)備統(tǒng)一控制，可以實(shí)現(xiàn)四種變量任意組合的光電流測(cè)試，即可以一次性測(cè)量不同變量下的光電流信號(hào)。

審核編輯黃宇