雙T陷波器及失真度測試與調(diào)整
在測量放大器的失真度特性時，可以使用陷波器，其基本原理如下圖：
對陷波器的要求：對各次諧波的放大倍數(shù)基本相等，對各次諧波的相移基本相等，除了濾除基波，要對各次諧波的影響基本相同，而且基波要有足夠的衰減量，讓其濾波后的殘余量不影響諧波測量。
采用數(shù)字ADC測量然后做FFT分析的數(shù)字處理方法測量時，對ADC的性能要求較高，高精度測量時很難實現(xiàn)，比如做到0.01%精度測試時，一般ADC本身精度都達不到，此時采用雙T陷波器的模擬電路方案是不錯選擇，下圖是一級雙T陷波器：
其要求：R>>R6,則陷波中心頻率為1/(2piRC ), 諧波的放大倍數(shù)為1+R5/R6, 具體分析見后面視頻; 計算的電阻電容未必買得到，電路應該要優(yōu)化調(diào)整，調(diào)整方法可以采用李沙育圖形方法，實際基本電路如下：
通過調(diào)整圖中兩電位器，把李沙育圖形調(diào)整為一條水平線，具體原理方法見后面視頻解說。調(diào)好后，實際測試放大器失真時是根據(jù)測試精度要求級聯(lián)2~3級雙T陷波器，如下圖，具體測試見視頻講解：
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