CBB電容存在失效問(wèn)題嗎？

相對(duì)于常見(jiàn)的電容而言，人們對(duì)于CBB電容的認(rèn)知卻較為稀少。這就導(dǎo)致了在一些問(wèn)題上，人們對(duì)于CBB電容存在一定程度的誤解，本文將以CBB金屬化薄膜電容的失效問(wèn)題，來(lái)談一談人們對(duì)于其存在的誤解。感興趣的朋友們快來(lái)看一看吧。

很多人認(rèn)為CBB在電解液干枯的問(wèn)題上會(huì)與普通電解電容存在區(qū)別，也就是其在規(guī)定的條件下基本不會(huì)出現(xiàn)壽命的問(wèn)題，但實(shí)際上并非如此。

在一次高頻焊接機(jī)的制作中，逆變板部分發(fā)出“啦、啦、啦”的異響，設(shè)計(jì)者認(rèn)為是溫度過(guò)高熱脹冷縮引起的，并沒(méi)有懷疑過(guò)CBB電容出現(xiàn)問(wèn)題，而后經(jīng)過(guò)多次實(shí)驗(yàn)，近距離的聽(tīng)才發(fā)現(xiàn)是WIMACBB電容發(fā)出的聲音，而這個(gè)“啦、啦”聲就是典型的CBB放電自愈的聲音，清脆而頻繁。馬上對(duì)CBB電容做容量及耐壓測(cè)試，發(fā)現(xiàn)容量基本上都在標(biāo)稱(chēng)范圍內(nèi)，從3.2~3.3uF，標(biāo)稱(chēng)就是3.3uF，而對(duì)于600V的直流耐壓標(biāo)稱(chēng)測(cè)試，高壓測(cè)試儀最好的只能達(dá)到500V，很多都在300V都出現(xiàn)放電自愈現(xiàn)象，隨著越來(lái)越高就會(huì)發(fā)出“啦、啦”的聲響。

從實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)來(lái)看，同一批型號(hào)的拆機(jī)電容，容量越低的，耐壓越低，容量越高的，耐壓越高一些。這就說(shuō)明放電自愈損傷了電容金屬化的表面積，導(dǎo)致容量下降。在之后的拆解當(dāng)中發(fā)現(xiàn)CBB電容外表層損傷非常厲害，幾乎一片的放電引起的損傷，越到內(nèi)部，越好一些，這個(gè)可能跟外包裝密封程度，水汽進(jìn)入有關(guān)。

通過(guò)對(duì)資料的搜索，發(fā)現(xiàn)CBB電容處于長(zhǎng)期的工作環(huán)境時(shí)，會(huì)導(dǎo)致金屬化鍍層的蒸發(fā)從而縮小了容量，若工作溫度比較高的，還會(huì)導(dǎo)致金屬化鍍層的脫落現(xiàn)象。

從這些實(shí)驗(yàn)來(lái)看，導(dǎo)致CBB電容失效，容量降低，耐壓降低有以下幾點(diǎn)：

1、電容密封不夠，水汽進(jìn)入導(dǎo)致氧化，耐壓降低。

2、長(zhǎng)期瞬間電流過(guò)大，電壓過(guò)高，內(nèi)部放電自愈導(dǎo)致容量下降。

3、長(zhǎng)期高負(fù)荷工作，金屬鍍層的蒸發(fā)導(dǎo)致容量降低。

解決的方法如下：

1、采購(gòu)名牌電容，質(zhì)量有保證。

2、盡可能的高規(guī)格使用，比如安規(guī)電容X2一般標(biāo)稱(chēng)275VAC，但實(shí)際上瞬間測(cè)試上1KV都是可以承受的了，質(zhì)量非常好，拆機(jī)電容中，安規(guī)電容無(wú)論是高壓測(cè)試還是物理分解都非常漂亮。

3、并聯(lián)合理的壓敏電阻，防止沖擊電壓過(guò)高，據(jù)說(shuō)此法比較有效，有條件降低瞬間電流，一般在允許的范圍內(nèi)，串聯(lián)電阻。

本文根據(jù)實(shí)際情況出發(fā)，對(duì)CBB電容的失效問(wèn)題進(jìn)行全新的解讀。失效問(wèn)題不僅存在于普通電解電容，同樣也存在于CBB電容當(dāng)中，這里采用實(shí)例的方式為大家證明了這一問(wèn)題的存在，并給出了一些應(yīng)對(duì)建議。