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揭秘半導體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

h1654156072.2321 ? 來源:h1654156072.2321 ? 作者:h1654156072.2321 ? 2024-11-01 11:40 ? 次閱讀
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隨著科技的飛速發(fā)展,半導體工業(yè)已經(jīng)成為現(xiàn)代信息技術(shù)社會的支柱產(chǎn)業(yè)之一。在制造過程中,每一個環(huán)節(jié)都要求極高的精確度和穩(wěn)定性,這就對測量技術(shù)提出了巨大的挑戰(zhàn)。光譜共焦傳感器,作為一種新興的高精度非接觸式測量工具,正在這一領(lǐng)域中發(fā)揮越來越重要的作用。立儀科技小編在深入探討光譜共焦傳感器在半導體制造中的廣泛應用及其帶來的技術(shù)革新。

光譜共焦技術(shù)的基本原理

通過控制器中的寬光譜光源發(fā)出的復色光,經(jīng)過照明孔、分光棱鏡后,被物鏡色散,最后以不同波長的光投射到被測物體表面,能聚焦在表面的波長光線就會反射到對應的針孔中,最后通過表面焦點和圖像平面焦點間的共軛關(guān)系,從而計算出測距值。

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揭秘半導體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

半導體制造中的關(guān)鍵應用

1.晶圓翹曲度檢測

在半導體制造過程中,晶圓的翹曲度是一個常見的問題,它直接影響到光刻過程的精準度和最終產(chǎn)品的質(zhì)量。光譜共焦傳感器能夠提供高分辨率的三維形貌數(shù)據(jù),幫助工程師準確測量晶圓的翹曲程度,并進行必要的調(diào)整以確保產(chǎn)品質(zhì)量。


2.薄膜厚度測量

半導體設(shè)備中經(jīng)常涉及到多層薄膜的涂覆,每層的厚度都需要嚴格控制。
光譜共焦傳感器以其納米級的測量精度,成為控制薄膜涂覆質(zhì)量的理想工具。

3.設(shè)備振動監(jiān)測

半導體制造設(shè)備在運行中會產(chǎn)生微小振動,這些振動如果不及時校正,可能會影響產(chǎn)品的質(zhì)量。使用光譜共焦傳感器可以實時監(jiān)測設(shè)備的振動狀態(tài),確保生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性。

揭秘半導體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

立儀簡介

立儀科技是一家光譜共焦位移測量傳感器為主的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務一體化的精密光學測量國家級專精特新企業(yè)。

專注光譜共焦行業(yè)10年

公司于2014年成立,以打造高規(guī)格的光譜共焦位移傳感器并減少成本普及推廣為志向。經(jīng)過10年行業(yè)深耕,目前光譜共焦技術(shù)產(chǎn)品在測量精度、分辨率、測量角度、穩(wěn)定性和軟件算法等方面具有行業(yè)領(lǐng)先優(yōu)勢!

揭秘半導體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

突破技術(shù)封鎖

匯集光學、機械、軟件人才晝夜奮戰(zhàn),數(shù)年磨一劍,破除國外技術(shù)封鎖,開發(fā)出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的全球第一款入光出光獨立、全球第一款棱鏡光譜儀的光譜共焦位移傳感器等系列產(chǎn)品,并獲得了多項國家發(fā)明專利!

自主研發(fā),創(chuàng)新賦能

我們堅持自我研發(fā)與創(chuàng)新,致力成為光譜共焦高精度測量行業(yè)技術(shù)領(lǐng)導者,成就國貨之光。為提供高性能產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)服務,讓科技利益眾生,賦能企業(yè)高精度制造!

審核編輯 黃宇

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