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前言

近年來，我國為推進科研儀器自主研發(fā)進程，先后設(shè)立了眾多重大專項項目，并取得一定進展。在新一輪科技革命和產(chǎn)業(yè)變革交織的背景下，國產(chǎn)替代的腳步還需進一步加速。

為促進國產(chǎn)科學(xué)儀器發(fā)展，打好科學(xué)儀器設(shè)備國產(chǎn)化攻堅戰(zhàn)，加強國產(chǎn)儀器企業(yè)和高校研究之間的交流互動。

2025年11月4日，中星聯(lián)華攜手復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院，舉行《ADC/DAC/PLL/SerDes與高速信號完整性解析》大講堂。

課堂深入淺出的為大家分享了ADC/DAC/PLL/SerDes芯片、高速信號完整性等相關(guān)內(nèi)容，現(xiàn)場學(xué)生反響熱烈，座無虛席，深受廣大師生歡迎。

聚焦理論知識，拓寬實戰(zhàn)視野

在本次大講堂中，中星聯(lián)華技術(shù)支持總監(jiān)蘇水金以其豐富的行業(yè)經(jīng)驗與扎實的專業(yè)素養(yǎng)圍繞

ADC/DAC/PLL/SerDes芯片、高速信號完整性等內(nèi)容，為廣大師生深入淺出地講解了ADC/DAC/PLL/SerDes概念及測試，ADC/DAC工作原理解析和選型；ADC/DAC測試項目解讀和測試案例分享；PLL基本概念，應(yīng)用場景和測試案例分享；高速串行總線發(fā)展趨勢和框架、SerDes芯片原理和構(gòu)架、編碼和測試、如何進行高速信號完整性分析和測試以及抖動、眼圖、均衡等內(nèi)容。

理論與實踐結(jié)合

現(xiàn)場進行了ADC/DAC/PLL/SerDes、高速串行信號基礎(chǔ)知識串講，介紹了當(dāng)前主流芯片的發(fā)展、ADC動態(tài)參數(shù)（SNR、SINAD、SFDR、THD、ENOB）和靜態(tài)參數(shù)（INL、DNL）測試、PLL 概念和測試、高速串行總線發(fā)展趨勢、實測案例等；高速SerDes芯片的內(nèi)部構(gòu)架PMD、PMA、PCS以及應(yīng)用場景，Serdes芯片TX和RX驗證測試；國內(nèi)外ADC、Serdes芯片水平差異以及應(yīng)用場景；以信號完整性為核心，展開講解了信號完整性問題的來源，SI、PI、EMI三大問題的具體原因，抖動、眼圖、CDR原理、FFE/CTLE/DFE均衡原理和參數(shù)設(shè)置、NRZ&PAM3&PAM4的基礎(chǔ)和應(yīng)用場景解析等內(nèi)容；并針對實際應(yīng)用和測試案例進行分析，為大家介紹了超低相噪微波信號源、高性能誤碼率測試儀等電子測試測量儀器的具體測試操作、關(guān)注指標(biāo)、實際測試經(jīng)驗、測試案例等。

科技點亮未來

感謝復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院精心組織此次技術(shù)交流活動，通過與現(xiàn)場的師生們交流，我司深切感受到了深切感受到了復(fù)旦大學(xué)的學(xué)術(shù)氛圍和專研精神。尤其在與各位同學(xué)互動時，大家提出了富有深度的技術(shù)問題。期待未來能有更多機會與復(fù)旦大學(xué)的師生們交流合作，希冀未來校企可以碰撞出更多科技的火花，共同探索最新的前沿技術(shù)！

未來，中星聯(lián)華將繼續(xù)深化與相關(guān)高校的合作，不斷拓展校企合作領(lǐng)域、創(chuàng)新合作模式，持續(xù)協(xié)助高校開展人才培養(yǎng)方案，為推動相關(guān)行業(yè)的發(fā)展注入源源不斷的活力。

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