最近，有不少客戶在向我們咨詢的時提到一個問題，為什么做拉力測試時，斷點總是出現(xiàn)在焊球上方幾乎同一個位置，哪怕?lián)Q了金絲批次，調(diào)了設(shè)備參數(shù)，還是如此。大家摸不準到底是材料問題還是工藝問題。今天，科準測控小編就帶大家詳細拆解金絲鍵合中一個非常關(guān)鍵卻很容易被忽視的概念——熱影響區(qū)（Heat Affected Zone，簡稱HAZ），從原理到現(xiàn)象，從測試到管控，把這個問題剖析清楚。

一、什么是熱影響區(qū)（HAZ）？

在金絲球焊工藝中，放電棒（EFO，Electronic Flame Off）會釋放一個高壓電弧，將金絲末端瞬間熔化，表面張力使 molten gold 收縮成一個小球。這個球就是后續(xù)鍵合的焊球。

放電過程非常短暫（通常幾毫秒），但溫度極高。高溫不僅熔化金絲末端，還會沿著金絲向上傳導一段距離，導致焊球上方的一小段金絲被加熱但未熔化，這一段金絲的晶粒結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，力學性能下降，就形成了熱影響區(qū)（HAZ）。

圖片源自網(wǎng)絡(luò)

二、熱影響區(qū)的狀態(tài)

根據(jù)行業(yè)標準測試數(shù)據(jù)：

• HAZ的硬度比金絲其余部分低約20%
• HAZ的長度通常在38100μm（約1.54mil）之間

-在拉力測試中，斷裂幾乎總是發(fā)生在HAZ區(qū)域

下圖a可以直觀看到，焊球形成后，HAZ區(qū)域的晶粒明顯比遠離焊球的正常區(qū)域粗大。這就解釋了為什么斷點總是固定在那個位置。

三、HAZ帶來的實際生產(chǎn)問題

HAZ會直接導致一系列鍵合缺陷：

1. 高爾夫球桿形焊球

焊球與金絲中心發(fā)生偏移，焊球歪向一側(cè)，形似高爾夫球桿。

原因分析：尾線長度不當、EFO放電位置偏移、瓷嘴或工作臺在放電瞬間發(fā)生橫向運動。

后果：焊球不對稱，鍵合強度不足，后續(xù)弧線不穩(wěn)定。

2. 焊球上方頸縮

HAZ區(qū)域的金絲強度降低，在弧線成形或反向拱弧時，該區(qū)域發(fā)生急劇彎折，形成一個“折點”。

后果：該折點成為應(yīng)力集中區(qū)，極易斷裂。在TSOP、智能卡、堆疊芯片等低線弧應(yīng)用中尤其常見。

3. 引線框架連接條斷裂

在反向拱弧或后續(xù)塑封過程中，HAZ區(qū)域承受過大拉伸或剪切應(yīng)力，導致連接條斷開。

4. 金絲刮傷或印痕

雖然不完全是HAZ本身的問題，但HAZ強度降低后，對外部損傷更加敏感。瓷嘴磨損、線夾污染都會在HAZ區(qū)域留下印痕或刮傷，進一步降低可靠性。

四、如何管控HAZ？

只要有加熱，就有熱影響，所以HAZ無法完全消除，但可以管控和優(yōu)化。此外，很多金絲制造商也在持續(xù)改進材料：通過添加微量摻雜元素（如Be、Cu等），可以在不降低可焊性的前提下，縮小HAZ長度、提高HAZ強度。

五、如何評估****HAZ的影響？

推拉力測試機是評估HAZ影響最直接、最量化的工具。通過它，你可以做到：

1. 定位薄弱點

在拉力測試模式下，觀察斷點位置。如果90%以上的斷裂都發(fā)生在焊球上方同一區(qū)域，基本可以確定HAZ是主要問題。

2. 量化強度損失

測量不同EFO參數(shù)下的拉斷力值。如果HAZ區(qū)域的拉斷力顯著低于金絲標稱值，說明熱影響過大。

3. 驗證工藝改善效果

更換高摻雜金絲或調(diào)整EFO時間后，對比前后拉力數(shù)據(jù)，判斷改善是否有效。

4. 批次一致性檢查

不同批次的金絲，HAZ表現(xiàn)可能不同。推拉力測試機可以幫助你建立入廠檢驗標準，避免問題批次流入產(chǎn)線。

5. 滿足體系審核

ISO、IATF等質(zhì)量管理體系要求關(guān)鍵工藝參數(shù)可追溯。推拉力測試數(shù)據(jù)是最有力的證據(jù)。

無論是金絲、鋁絲、銅絲，還是25μm的細線、500μm的粗線，專業(yè)的推拉力測試機都能提供高精度、可重復的力學驗證。

以上就是科準測控小編關(guān)于熱影響區(qū)（HAZ）的原理、影響、管控的相關(guān)介紹了，希望對您有幫助。HAZ雖然無法完全消除，但可以被測量、被管控，如果您也有相關(guān)的需求或者對推拉力測試有需求，歡迎聯(lián)系科準測控，我們的技術(shù)團隊將為您提供專業(yè)的推拉力測試解決方案，讓每一根金絲、每一個焊球的強度，都清清楚楚、有據(jù)可查。

審核編輯 黃宇