FDD86113LZ N-Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET:高性能功率器件的解析
在電子工程師的設(shè)計(jì)世界里,功率MOSFET一直是至關(guān)重要的器件。今天,我們就來深入探討一款由Fairchild(現(xiàn)屬于ON Semiconductor)推出的N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET——FDD86113LZ。
文件下載:FDD86113LZ-D.pdf
一、品牌背景與系統(tǒng)整合
Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。在系統(tǒng)整合過程中,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。由于ON Semiconductor產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線(_)的零件命名,F(xiàn)airchild零件編號中的下劃線將改為破折號(-)。大家可以通過ON Semiconductor網(wǎng)站驗(yàn)證更新后的器件編號,最新的訂購信息可在www.onsemi.com上找到。
二、FDD86113LZ的特性
1. 先進(jìn)技術(shù)
采用了屏蔽柵MOSFET技術(shù)和高性能溝槽技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)極低的導(dǎo)通電阻 (r{DS(on)})。在 (V{GS}=10 V),(I{D}=4.2 A) 時(shí),最大 (r{DS(on)}=104 mΩ);在 (V{GS}=4.5 V),(I{D}=3.4 A) 時(shí),最大 (r_{DS(on)}=156 mΩ)。這種低導(dǎo)通電阻特性可以有效降低功耗,提高系統(tǒng)效率,大家在設(shè)計(jì)低功耗電路時(shí),它是不是一個(gè)不錯(cuò)的選擇呢?
2. ESD保護(hù)
具有典型的HBM ESD保護(hù)水平 > 6 kV,這意味著它在靜電環(huán)境下具有較好的穩(wěn)定性和可靠性,能減少因靜電放電對器件造成的損壞,降低了產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的故障率。
3. 封裝優(yōu)勢
采用廣泛使用的表面貼裝封裝(TO - 252 D - PAK),具備高功率和電流處理能力,方便在電路板上進(jìn)行安裝和布局,適合批量生產(chǎn)和自動(dòng)化組裝。
4. 測試與合規(guī)
經(jīng)過100% UIL測試,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),這保證了產(chǎn)品的質(zhì)量和環(huán)保性,讓工程師在設(shè)計(jì)時(shí)更加放心。
三、主要參數(shù)
1. 最大額定值
| 符號 | 參數(shù) | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DS}) | 漏源電壓 | 100 | V |
| (V_{GS}) | 柵源電壓 | ±20 | V |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | 5.5 | A |
| 連續(xù)漏極電流((T_{A}=25^{circ}C)) | 4.2 | A | |
| 脈沖漏極電流 | 15 | A | |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 12 | mJ |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 29 | W |
| 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) | 3.1 | W | |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 | -55 至 +150 | °C |
2. 熱特性
| 符號 | 參數(shù) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 結(jié)到外殼熱阻 | 4.3 | °C/W |
| (R_{θJA}) | 結(jié)到環(huán)境熱阻 | 96 | °C/W |
3. 電氣特性
涵蓋了關(guān)斷特性、導(dǎo)通特性、動(dòng)態(tài)特性、開關(guān)特性以及漏源二極管特性等多個(gè)方面。例如,關(guān)斷特性中的漏源擊穿電壓 (BV{DSS}) 在 (I{D}=250 μA),(V{GS}=0 V) 時(shí)為100 V;導(dǎo)通特性中的柵源閾值電壓 (V{GS(th)}) 在 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250 μA) 時(shí),最小值為1 V,典型值為1.5 V,最大值為3 V。這些參數(shù)為工程師在電路設(shè)計(jì)中提供了精確的參考依據(jù)。
四、典型特性曲線
文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線直觀地展示了器件在不同條件下的性能表現(xiàn),幫助工程師更好地理解器件的工作特性,從而優(yōu)化電路設(shè)計(jì)。例如,通過導(dǎo)通區(qū)域特性曲線,我們可以清晰地看到不同柵源電壓下漏極電流與漏源電壓的關(guān)系,這對于確定器件的工作點(diǎn)非常有幫助。
五、應(yīng)用領(lǐng)域
FDD86113LZ適用于DC - DC轉(zhuǎn)換等應(yīng)用場景。在DC - DC轉(zhuǎn)換電路中,其低導(dǎo)通電阻和良好的開關(guān)性能可以有效提高轉(zhuǎn)換效率,減少能量損耗,為電源系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行提供保障。
六、注意事項(xiàng)
ON Semiconductor對產(chǎn)品的使用有一些明確的規(guī)定。產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或具有相同或類似分類的外國醫(yī)療設(shè)備以及任何用于人體植入的設(shè)備。如果買家將產(chǎn)品用于此類非預(yù)期或未經(jīng)授權(quán)的應(yīng)用,需要承擔(dān)相應(yīng)的責(zé)任并賠償相關(guān)損失。同時(shí),所有的“典型”參數(shù)在不同應(yīng)用中可能會(huì)有所變化,實(shí)際性能也可能隨時(shí)間改變,工程師需要對每個(gè)客戶應(yīng)用的所有工作參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證。
FDD86113LZ N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET憑借其先進(jìn)的技術(shù)、優(yōu)秀的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,為電子工程師在功率電路設(shè)計(jì)中提供了一個(gè)可靠的選擇。但在使用過程中,我們也需要充分了解其特性和注意事項(xiàng),以確保設(shè)計(jì)的電路能夠穩(wěn)定、高效地運(yùn)行。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中有沒有使用過類似的MOSFET呢?遇到過哪些問題又是如何解決的呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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