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解析FQA36P15 P-Channel QFET? MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用

我快閉嘴 ? 2026-04-20 14:30 ? 次閱讀
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解析FQA36P15 P-Channel QFET? MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用

在電子工程領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于各種電源電路設(shè)計(jì)中。今天我們來深入解析Fairchild的FQA36P15 P-Channel QFET? MOSFET,了解其特性、參數(shù)以及適用場景。

文件下載:FQA36P15-D.PDF

公司背景與系統(tǒng)整合說明

Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購的零件編號需要改變,原編號中的下劃線(_)將改為破折號(-),大家可通過ON Semiconductor網(wǎng)站核實(shí)更新后的設(shè)備編號。

產(chǎn)品概述

FQA36P15是一款P-Channel增強(qiáng)模式功率MOSFET,采用Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)生產(chǎn)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計(jì),旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度,適用于開關(guān)模式電源、音頻放大器、直流電機(jī)控制和可變開關(guān)電源應(yīng)用等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特性

電氣特性

  • 高電流與電壓處理能力:具有 -36 A的連續(xù)漏極電流((T_C = 25°C))和 -150 V的漏源電壓,能夠滿足高功率應(yīng)用的需求。
  • 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=-10 V)、(I{D}=-18 A) 時(shí),(R_{DS(on)}) 最大為 90 mΩ,有助于降低功率損耗,提高效率。
  • 低柵極電荷:典型值為 81 nC,可實(shí)現(xiàn)快速開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗。
  • 低Crss:典型值為 110 pF,有助于減小米勒效應(yīng),提高開關(guān)性能。
  • 100%雪崩測試:確保器件在雪崩條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
  • 高結(jié)溫額定值:最大結(jié)溫為 175°C,能夠在高溫環(huán)境下正常工作。

熱特性

  • 低熱阻:結(jié)到外殼的熱阻 (R{θJC}) 最大為 0.51 °C / W,結(jié)到環(huán)境的熱阻 (R{θJA}) 最大為 40 °C / W,有利于熱量散發(fā),保證器件的穩(wěn)定性。

絕對最大額定值

Symbol Parameter FQA36P15 Unit
(V_{DSS}) 漏源電壓 -150 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_C = 25°C)) -36 A
連續(xù)漏極電流((T_C = 100°C)) -25.5 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 -144 A
(V_{GSS}) 柵源電壓 ± 30 V
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 1400 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 -36 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 29.4 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) -5.0 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_C = 25°C)) 294 W
25°C 以上降額 1.96 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 -55 至 +175 °C
(T_{L}) 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼 1/8" 處 5 秒) 300 °C

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (BV_{DSS}):在 (V{GS} = 0 V)、(I{D} = -250 μA) 時(shí),為 -150 V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù) (?BV_{DSS} / ?T_J):典型值為 -0.13 V/°C。
  • 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):在 (V{DS} = -150 V)、(V{GS} = 0 V) 時(shí),最大為 -10 μA;在 (V_{DS} = -120 V)、(T_C = 150°C) 時(shí),最大為 -100 μA。
  • 柵體泄漏電流 (I{GSSF}) 和 (I{GSSR}):分別在 (V{GS} = -25 V) 和 (V{GS} = 25 V) 時(shí),最大為 -100 nA 和 100 nA。

導(dǎo)通特性

  • 閾值電壓 (V_{GS(th)}):在 (V{DS} = V{GS})、(I_{D} = -250 μA) 時(shí),范圍為 -2.0 至 -4.0 V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS} = -10 V)、(I{D} = -18 A) 時(shí),典型值為 0.076 Ω,最大為 0.09 Ω。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):在 (V{DS} = -40 V)、(I{D} = -18 A) 時(shí),典型值為 19.5 S。

動(dòng)態(tài)特性

  • 輸入電容 (C_{iss}):在 (V{DS} = -25 V)、(V{GS} = 0 V)、(f = 1.0 MHz) 時(shí),典型值為 2550 pF,最大為 3320 pF。
  • 輸出電容 (C_{oss}):典型值為 710 pF,最大為 920 pF。
  • 反向傳輸電容 (C_{rss}):典型值為 110 pF,最大為 140 pF。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間 (t_{d(on)}):在 (V{DD} = -75 V)、(I{D} = -36 A)、(R_{G} = 25 Ω) 時(shí),典型值為 50 ns,最大為 110 ns。
  • 導(dǎo)通上升時(shí)間 (t_{r}):典型值為 350 ns,最大為 710 ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間 (t_{d(off)}):典型值為 155 ns,最大為 320 ns。
  • 關(guān)斷下降時(shí)間 (t_{f}):典型值為 150 ns,最大為 310 ns。
  • 總柵極電荷 (Q_{g}):在 (V{DS} = -120 V)、(I{D} = -36 A)、(V_{GS} = -10 V) 時(shí),典型值為 81 nC,最大為 105 nC。
  • 柵源電荷 (Q_{gs}):典型值為 19 nC。
  • 柵漏電荷 (Q_{gd}):典型值為 42 nC。

漏源二極管特性

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I_{S}):最大為 -36 A。
  • 最大脈沖漏源二極管正向電流 (I_{SM}):最大為 -144 A。
  • 漏源二極管正向電壓 (V_{SD}):在 (V{GS} = 0 V)、(I{S} = -36 A) 時(shí),最大為 -4.0 V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間 (t_{rr}):在 (V{GS} = 0 V)、(I{S} = -36 A)、(dI_{F} / dt = 100 A/μs) 時(shí),典型值為 198 ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}):典型值為 1.45 μC。

典型性能特性

文檔中還提供了一系列典型性能特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)等。這些曲線有助于工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。

封裝與訂購信息

FQA36P15采用TO-3PN封裝,包裝方式為管裝,每管30個(gè)。

總結(jié)

FQA36P15 P-Channel QFET? MOSFET憑借其優(yōu)異的電氣和熱特性,適用于多種高功率應(yīng)用場景。工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí),應(yīng)根據(jù)具體需求合理選擇器件,并結(jié)合文檔中的參數(shù)和特性曲線進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)。同時(shí),要注意ON Semiconductor的相關(guān)規(guī)定和注意事項(xiàng),確保產(chǎn)品的正確使用和可靠性。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過哪些與MOSFET相關(guān)的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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