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探索 onsemi FDN86501LZ N 溝道 MOSFET 的卓越性能

lhl545545 ? 2026-04-21 09:45 ? 次閱讀
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探索 onsemi FDN86501LZ N 溝道 MOSFET 的卓越性能

在電子工程領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于各類電路設(shè)計(jì)中。今天,我們將深入探討 onsemi 公司推出的 FDN86501LZ N 溝道 MOSFET,了解它的特性、性能以及應(yīng)用場(chǎng)景。

文件下載:FDN86501LZ-D.PDF

產(chǎn)品概述

FDN86501LZ 是一款采用 onsemi 先進(jìn) POWERTRENCH 工藝結(jié)合屏蔽柵技術(shù)生產(chǎn)的 N 溝道 MOSFET。這種工藝針對(duì)導(dǎo)通電阻( (r_{DS}(on)) )、開(kāi)關(guān)性能和耐用性進(jìn)行了優(yōu)化,使其在眾多應(yīng)用中表現(xiàn)出色。

產(chǎn)品特性

屏蔽柵 MOSFET 技術(shù)

  • 極低的導(dǎo)通電阻:采用高性能溝槽技術(shù),實(shí)現(xiàn)了極低的 (r_{DS}(on)) ,有助于減少功率損耗,提高電路效率。
  • 高功率和電流處理能力:能夠在廣泛使用的表面貼裝封裝中處理高功率和大電流,適用于各種大功率應(yīng)用場(chǎng)景。
  • 快速開(kāi)關(guān)速度:具備快速的開(kāi)關(guān)特性,可有效降低開(kāi)關(guān)損耗,提高系統(tǒng)的響應(yīng)速度。
  • 100% UIL 測(cè)試:經(jīng)過(guò) 100% 的非鉗位電感開(kāi)關(guān)(UIL)測(cè)試,確保了產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

環(huán)保特性

該器件符合 Pb - Free(無(wú)鉛)、Halide Free(無(wú)鹵化物)標(biāo)準(zhǔn),并且滿足 RoHS 指令要求,符合環(huán)保理念。

應(yīng)用領(lǐng)域

初級(jí) DC - DC 開(kāi)關(guān)

在 DC - DC 轉(zhuǎn)換電路中,F(xiàn)DN86501LZ 可作為初級(jí)開(kāi)關(guān),利用其低導(dǎo)通電阻和快速開(kāi)關(guān)速度,實(shí)現(xiàn)高效的電壓轉(zhuǎn)換。

負(fù)載開(kāi)關(guān)

在需要控制負(fù)載通斷的電路中,F(xiàn)DN86501LZ 能夠快速、可靠地實(shí)現(xiàn)負(fù)載的開(kāi)關(guān)操作,為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的電源供應(yīng)。

性能參數(shù)

最大額定值

符號(hào) 參數(shù) 額定值 單位
(V_{DS}) 漏源電壓 60 V
(V_{GS}) 柵源電壓 ±20 V
(I_{D})(連續(xù)) 連續(xù)漏極電流 2.6 A
(I_{D})(脈沖) 脈沖漏極電流 24 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 6 mJ
(P_{D}) 功率耗散 1.5 W
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 -55 至 150 °C

電氣特性

  • 截止特性:包括漏源擊穿電壓( (B{V D S S}) )、零柵壓漏極電流( (I{D S S}) )和柵源泄漏電流( (I_{G S S}) )等參數(shù),確保了器件在截止?fàn)顟B(tài)下的穩(wěn)定性。
  • 導(dǎo)通特性:柵源閾值電壓( (V{GS(th)}) )、導(dǎo)通電阻( (r{DS}(on)) )和正向跨導(dǎo)( (g_{fs}) )等參數(shù),反映了器件在導(dǎo)通狀態(tài)下的性能。
  • 動(dòng)態(tài)特性:輸入電容( (C{iss}) )、輸出電容( (C{oss}) )和柵極電阻( (R_{g}) )等參數(shù),影響著器件的開(kāi)關(guān)速度和響應(yīng)性能。
  • 開(kāi)關(guān)特性:上升時(shí)間( (t{r}) )、下降時(shí)間( (t{f}) )和總柵極電荷( (Q_{g}) )等參數(shù),決定了器件的開(kāi)關(guān)效率和速度。
  • 漏源二極管特性:源漏二極管正向電壓( (V{SD}) )和反向恢復(fù)時(shí)間( (t{rr}) )等參數(shù),對(duì)于二極管的整流性能至關(guān)重要。

熱特性

熱阻( (R_{theta J A}) )是衡量器件散熱性能的重要指標(biāo),它是結(jié)到殼和殼到環(huán)境熱阻的總和。在不同的安裝條件下,熱阻會(huì)有所不同。例如,當(dāng)安裝在 (1 in^2) 的 2 oz 銅焊盤上時(shí),熱阻為 80°C/W;當(dāng)安裝在最小焊盤上時(shí),熱阻為 180°C/W。

典型特性曲線

文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線有助于工程師更好地了解器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn),從而進(jìn)行合理的電路設(shè)計(jì)。

封裝和訂購(gòu)信息

FDN86501LZ 采用 SOT - 23/SUPERSOT - 23 3 引腳封裝,尺寸為 1.4x2.9。器件標(biāo)記為 8650,包裝規(guī)格為 7” 卷盤,帶寬度為 8 mm,每卷 3000 個(gè)。

總結(jié)

onsemi 的 FDN86501LZ N 溝道 MOSFET 憑借其先進(jìn)的工藝、卓越的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,成為電子工程師在電路設(shè)計(jì)中的理想選擇。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的設(shè)計(jì)要求,合理選擇器件,并注意其最大額定值和熱特性,以確保系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。你在使用 MOSFET 時(shí),是否也遇到過(guò)一些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。

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