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探索SN54ABT18640和SN74ABT18640掃描測試設備:功能、架構(gòu)與應用

chencui ? 2026-04-23 09:05 ? 次閱讀
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探索SN54ABT18640和SN74ABT18640掃描測試設備:功能、架構(gòu)與應用

在電子設計領域,測試設備的性能和功能對整個系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性至關重要。今天我們要深入探討的是德州儀器(Texas Instruments)的兩款掃描測試設備——SN54ABT18640和SN74ABT18640,它們?yōu)?a target="_blank">電子工程師提供了強大的測試和控制能力。

文件下載:SN74ABT18640DLR.pdf

產(chǎn)品概述

SN54ABT18640和SN74ABT18640屬于德州儀器SCOPE?可測試性集成電路家族,同時也是Widebus?家族的成員。它們與IEEE標準1149.1 - 1990(JTAG)測試訪問端口和邊界掃描架構(gòu)兼容,采用了先進的EPIC - ΙΙB? BiCMOS設計,顯著降低了功耗。

封裝形式

  • SN54ABT18640采用380 - mil細間距陶瓷扁平(WD)封裝。
  • SN74ABT18640提供塑料收縮小外形(DL)和薄收縮小外形(DGG)封裝。

工作溫度范圍

  • SN54ABT18640適用于 - 55°C至125°C的全軍事溫度范圍。
  • SN74ABT18640的工作溫度范圍為 - 40°C至85°C。

功能特性

正常模式

在正常模式下,這兩款設備是18位反相總線收發(fā)器,可以作為兩個9位收發(fā)器或一個18位收發(fā)器使用。數(shù)據(jù)流向由方向控制(DIR)和輸出使能(OE)輸入控制,允許數(shù)據(jù)在A總線和B總線之間雙向傳輸。當OE為高電平時,設備被禁用,總線有效隔離。

測試模式

通過4線測試訪問端口(TAP)接口可以激活測試電路。在測試模式下,SCOPE?總線收發(fā)器的正常操作被抑制,測試電路被啟用,可根據(jù)IEEE標準1149.1 - 1990的協(xié)議執(zhí)行邊界掃描測試操作。測試電路還具備并行簽名分析(PSA)、偽隨機模式生成(PRPG)等功能。

測試架構(gòu)

TAP控制器

測試信息通過符合IEEE標準1149.1 - 1990的4線測試總線或TAP傳輸。TAP控制器監(jiān)控TCK和TMS信號,提取同步和狀態(tài)控制信號,為設備中的測試結(jié)構(gòu)生成適當?shù)钠峡刂菩盘?。TAP控制器是一個同步有限狀態(tài)機,包含16個狀態(tài),其中6個穩(wěn)定狀態(tài)和10個不穩(wěn)定狀態(tài)。

測試寄存器

設備包含一個8位指令寄存器和四個測試數(shù)據(jù)寄存器:

  • 邊界掃描寄存器(BSR):44位,用于存儲要應用到設備輸出引腳的測試數(shù)據(jù),以及捕獲設備輸入引腳和內(nèi)部邏輯輸出的數(shù)據(jù)。
  • 邊界控制寄存器(BCR):3位,用于實現(xiàn)基本SCOPE?指令集之外的額外測試操作,如PRPG、PSA和二進制計數(shù)。
  • 旁路寄存器:1位,可縮短系統(tǒng)掃描路徑的長度。
  • 設備識別寄存器(IDR):32位,用于識別設備的制造商、部件號和版本。

指令集

指令寄存器操作碼

指令寄存器(IR)決定設備要執(zhí)行的指令,包含操作模式、測試操作、要選擇的數(shù)據(jù)寄存器以及捕獲數(shù)據(jù)的來源等信息。支持的指令包括邊界掃描(EXTEST)、識別讀?。?a target="_blank">IDCODE)、采樣邊界(SAMPLE/PRELOAD)等。

邊界控制寄存器操作碼

邊界控制寄存器(BCR)的操作碼決定了在邊界運行測試(RUNT)指令執(zhí)行期間的測試操作,包括采樣輸入/切換輸出(TOPSIP)、偽隨機模式生成(PRPG)、并行簽名分析(PSA)等。

時序特性

所有測試操作都與TCK同步,數(shù)據(jù)在TCK的上升沿捕獲,在下降沿輸出。文檔中給出了詳細的時序要求和示例,包括時鐘頻率、脈沖持續(xù)時間、建立時間、保持時間等參數(shù)。

電氣特性

文檔提供了絕對最大額定值、推薦工作條件、電氣特性和開關特性等詳細信息,為工程師在設計電路時提供了重要的參考依據(jù)。

應用與思考

SN54ABT18640和SN74ABT18640在復雜電路板組件的測試中具有廣泛的應用前景。電子工程師在使用這些設備時,需要根據(jù)具體的應用場景和需求,合理選擇指令和測試模式,確保測試的準確性和有效性。同時,要注意設備的電氣特性和時序要求,避免因參數(shù)設置不當而導致測試結(jié)果不準確或設備損壞。

你在實際應用中是否遇到過類似的掃描測試設備?你對這些設備的性能和功能有什么獨特的見解嗎?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和想法。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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