深入解析TPS51116EVM評估模塊:DDR內(nèi)存供電的理想之選
在電子工程師的日常工作中,為DDR內(nèi)存模塊設(shè)計(jì)高效、穩(wěn)定的電源解決方案是一項(xiàng)常見且關(guān)鍵的任務(wù)。德州儀器(TI)的TPS51116EVM評估模塊,為DDR、DDR2和DDR3內(nèi)存模塊提供了一個(gè)完整的電源解決方案。接下來,我們將詳細(xì)探討這個(gè)評估模塊的特點(diǎn)、配置和性能。
文件下載:TPS51116EVM-001.pdf
一、TPS51116EVM概述
TPS51116EVM是一款雙輸出轉(zhuǎn)換器,專為DDR、DDR2和DDR3內(nèi)存模塊設(shè)計(jì)。它采用10 - A同步降壓轉(zhuǎn)換器為DDR內(nèi)存模塊提供核心電壓(VDDQ)。該評估模塊的供電電壓范圍為4.5 - 28 V,控制器偏置電源為4.75 - 5.25 V,這使得它既可以從單一的5 V電源啟動,也能在較寬的電源電壓范圍內(nèi)配合低功耗5 V偏置電源工作。
1.1 應(yīng)用領(lǐng)域
- 雙數(shù)據(jù)速率(DDR)高速RAM電源
- 高性能AGP視頻卡
- 筆記本、臺式機(jī)和服務(wù)器主板
- 高性能計(jì)算機(jī)
- 高內(nèi)存含量的消費(fèi)電子產(chǎn)品
1.2 功能特性
- VDDO開關(guān)穩(wěn)壓器輸出效率高達(dá)85%
- 雙開關(guān)穩(wěn)壓器/LDO輸出,為DDR核心和端接電壓供電
- 3 - A灌/拉端接電壓LDO穩(wěn)壓器
- 10 - mA端接參考電壓,用于DDR輸入?yún)⒖?/li>
- 用戶可選擇DDR、DDR2、DDR3或外部參考電源電壓
- 用戶可選擇開關(guān)穩(wěn)壓器或外部電源作為LDO端接穩(wěn)壓器的電源
- 提供用于測試S3和S5睡眠狀態(tài)的開關(guān)
二、電氣性能規(guī)格
| 參數(shù) | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| VVIN(電源電壓) | - | 4.5 | - | 28 | V |
| VV5IN(邏輯電源電壓) | - | 4.75 | - | 5.25 | V |
| VVDDQ(開關(guān)輸出電壓) - DDR模式 | - | 2.45 | 2.50 | 2.55 | V |
| VVDDQ(開關(guān)輸出電壓) - DDR2模式 | - | 1.75 | 1.80 | 1.85 | V |
| VVDDQ(開關(guān)輸出電壓) - DDR3模式 | - | 1.45 | 1.50 | 1.55 | V |
| VVDDQ(RIPp - p)(開關(guān)輸出電壓紋波) - DDR2模式,IDDQ = 10 A | - | 10 | - | 40 | mV |
| IVDDQ(開關(guān)輸出電流) - IVTT = 0 A | - | 0 | - | 10 | A |
| VVTT(端接電壓輸出) - VVDDQSNS = VVDDQ | - | - | VVDDQ/2 | - | V |
| Vtt(tol)(VTT輸出電壓相對于VTTREF的公差) | - | -40 | - | 40 | mV |
| Vttripple(p - p)(端接電壓紋波) | - | 0 | - | 20 | - |
| Vtt_Ref(參考電壓) - VVDDQSNS = VVDDQ | - | - | VVDDQ/2 | - | V |
| Vtt_Ref(tol)(參考電壓公差) - IVTTREF < 10 mA | - | -10 | - | 10 | mV |
| η(開關(guān)輸出效率) - IVTTREF = 0 mA,DDR2模式,IVDDQ = 10 mA,VIN = 12 V | - | 78% | - | - | - |
| η(開關(guān)輸出效率) - IVTTREF = 0 mA,DDR2模式,IVDDQ = 1 A | - | - | 88% | - | - |
| η(開關(guān)輸出效率) - IVTTREF = 0 mA,DDR2模式,IVDDQ = 7 A | - | - | 90% | - | - |
| η(開關(guān)輸出效率) - IVTTREF = 0 mA,DDR2模式,IVDDQ = 10 A | - | - | 88% | - | - |
三、原理圖與配置
3.1 跳線功能
| 標(biāo)準(zhǔn)的100 - mil間距的跳線JP1 - JP4為用戶提供了TPS51116EVM的配置選項(xiàng)。每個(gè)由三個(gè)或六個(gè)引腳組成的跳線組都配有一個(gè)100 - mil的分流器,用戶可以通過它選擇所需的操作模式。 | 跳線 | 選擇 | 默認(rèn)值 |
|---|---|---|---|
| JP1 | TPS51116 VDDQ放電方案,跟蹤、非跟蹤或無放電 | 跟蹤 | |
| JP2 | TPS51116使用的電流傳感模式 | RDS(on) | |
| JP3 | TPS51116使用的控制方案 | D - CAP模式 | |
| JP4 | 輸出電平 - DDR、DDR2、DDR3或外部可調(diào) | DDR2 |
3.2 睡眠狀態(tài)開關(guān)
開關(guān)SW1和SW2分別用于選擇S5和S3睡眠狀態(tài),用戶可以通過它們觀察TPS51116控制器對這些內(nèi)存睡眠狀態(tài)的反應(yīng)。
3.3 電阻和短路
電阻R8和短路R9允許用戶在無損RDS(on)和傳統(tǒng)電阻電流傳感之間進(jìn)行選擇。如果通過JP2選擇電阻傳感,則必須安裝R8并移除R9;如果通過JP2選擇RDS(on)傳感,則必須安裝R9,由于R9和R8并聯(lián),R8可以留在PCB上。
3.4 MOSFET選擇
TPS51116EVM上使用的MOSFET Q1和Q2的值是為了在3 - 28 V的筆記本電源系統(tǒng)工作范圍內(nèi)優(yōu)化開關(guān)穩(wěn)壓器的運(yùn)行而選擇的。在有穩(wěn)壓電源電壓的應(yīng)用中,可以優(yōu)化MOSFET以減少損耗并提高效率。
- 對于固定12 V電源的系統(tǒng),高端MOSFET的低占空比有利于選擇具有較高RDS(on)的MOSFET,以降低柵極電荷和加快開關(guān)時(shí)間。TI推薦使用Vishay SI4390作為Q1,SI4378作為Q2或等效的MOSFET。
- 對于開關(guān)穩(wěn)壓器和TPS51116的VDD電壓都使用單一5 V電源軌的應(yīng)用,高端MOSFET的占空比較高,因此適合選擇具有較低RDS(on)和稍高柵極電荷的MOSFET。TI推薦將Vishay SI4378用于Q1和Q2。
四、配置模式
4.1 用戶可選擇的配置模式
TPS51116EVM通過四個(gè)跳線塊、兩個(gè)開關(guān)和三個(gè)電阻來調(diào)整配置。需要注意的是,不要將跳線安裝在非指定位置。
4.2 JP1跟蹤放電模式
TPS51116EVM預(yù)配置為跟蹤放電模式。在該模式下,當(dāng)TPS51116通過打開S3和S5開關(guān)設(shè)置為放電時(shí),它會關(guān)閉兩個(gè)MOSFET,并通過內(nèi)部MOSFET從VDDQ輸出緩慢吸收電流。要將評估模塊編程為跟蹤放電模式,需將JP1跳線設(shè)置到較低的垂直位置。
4.3 JP1非跟蹤放電模式
要使TPS51116EVM在非跟蹤放電模式下運(yùn)行,TPS51116必須設(shè)置為自驅(qū)動LDO電源電壓模式,因?yàn)樗鼤腣DDQ輸出吸收高達(dá)3 A的電流,直到VVDDQ放電至300 mV。如果使用外部LDO電源,選擇非跟蹤放電模式可能會損壞TPS51116EVM。要將評估模塊編程為非跟蹤放電模式,需將JP1跳線設(shè)置到較高的垂直位置。
4.4 JP1無放電模式
在無放電模式下,TPS51116只需關(guān)閉電源MOSFET,讓輸出由負(fù)載或輸出電容的自放電來放電。要將評估模塊編程為無放電模式,需將JP1跳線設(shè)置到中心水平位置。
4.5 JP2 RDS(on)電流傳感
TPS51116EVM預(yù)配置為無損RDS(on)電流傳感模式。在該模式下,它使用低端MOSFET(Q2)的正向電壓降來監(jiān)測電感電流。如果檢測到故障,輸出電壓會隨著輸出電流的增加而下降;如果檢測到嚴(yán)重的過流故障,會觸發(fā)欠壓比較器。要進(jìn)行RDS(on)過流傳感,需在R9處放置一個(gè)0 - Ω電阻或短路,并將JP2跳線設(shè)置到較低位置。
4.6 JP2電阻電流傳感
TPS51116EVM也可以配置為電阻電流傳感模式。在該模式下,它通過R8上的電壓降來傳感電感電流。與RDS(on)電流傳感模式一樣,TPS51116會限制輸出電流,使VVDDQ下降并觸發(fā)欠壓比較器輸出。要將評估模塊編程為電阻電流傳感模式,需確保在R8位置安裝2 - W、6 mΩ的電阻,移除R9位置的任何電阻,并將JP2設(shè)置到較高位置。
4.7 JP3 D - CAP控制模式
TPS51116EVM預(yù)配置為TI的D - CAP模式。這種自適應(yīng)恒定導(dǎo)通時(shí)間半滯回控制方案結(jié)合了固定頻率穩(wěn)態(tài)操作和滯回控制的快速瞬態(tài)響應(yīng)的優(yōu)點(diǎn),并具有最小關(guān)斷時(shí)間,以防止電感飽和或100%占空比操作。要將評估模塊編程為D - CAP控制模式,需將JP3設(shè)置到較高位置。
4.8 JP3電流模式控制
TPS51116EVM也可以配置為更傳統(tǒng)的電流模式控制。在該模式下,跨導(dǎo)放大器的輸出連接到補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)。要將評估模塊編程為電流模式控制,需將JP3設(shè)置到較低位置。
4.9 JP4 DDR模式
要使TPS51116EVM在DDR模式下運(yùn)行,需將開關(guān)穩(wěn)壓器輸出電壓(VVDDQ)設(shè)置為2.5 V,LDO端接電壓(VVTT)設(shè)置為1.25 V。要將評估模塊編程為DDR模式,需將JP4跳線放置在中心垂直位置。
4.10 JP4 DDR2模式
TPS51116EVM預(yù)配置為DDR2模式,將開關(guān)穩(wěn)壓器輸出電壓(VVDDQ)設(shè)置為1.8 V,LDO端接電壓(VVTT)設(shè)置為0.9 V。要將評估模塊編程為DDR2模式,需將JP4跳線放置在右側(cè)水平位置。
4.11 JP4 DDR3或可調(diào)輸出電壓
TPS51116EVM可以配置為DDR3或可調(diào)輸出模式,用戶可以通過選擇R10和R11分壓器并使用內(nèi)部750 - mV參考來將VVDDQ設(shè)置在1.5 - 3.0 V之間。VTT輸出電壓會跟蹤該可調(diào)電壓。默認(rèn)的R10和R11值提供DDR3電壓電平,將開關(guān)穩(wěn)壓器電壓(VVDDQ)設(shè)置為1.5 V,LDO端接電壓(VVTT)設(shè)置為0.75 V。要將評估模塊編程為可調(diào)輸出電壓模式,需將JP4跳線放置在左側(cè)水平位置。
4.12 自驅(qū)動LDO電源電壓
TPS51116EVM預(yù)配置為自驅(qū)動LDO電源電壓模式。在該模式下,LDO直接由VVDDO開關(guān)穩(wěn)壓器的輸出供電,無需外部電源電壓。要將評估模塊編程為自驅(qū)動LDO電源電壓,需在R1位置放置一個(gè)短路。
4.13 外部LDO電源電壓
TPS51116EVM也可以配置為外部LDO電源電壓模式。在該模式下,LDO由TPS51116以外的外部電壓源供電,用戶可以通過移除R1位置的0 - Ω電阻并將外部電源應(yīng)用到評估模塊板上的LDOIN_EX引腳(J1)來選擇另一個(gè)電源軌為VLDOIN供電。
五、測試設(shè)置
5.1 DC電源(VIN)
VIN應(yīng)是一個(gè)能夠提供0 - 30 VDC和0 - 10 A電流、功率處理能力至少為35 W的DC電壓源。VIN應(yīng)連接在引腳VIN和VIN_GND之間,為開關(guān)穩(wěn)壓器供電。
5.2 5 - V DC電源(VDD)
VDD應(yīng)是一個(gè)能夠提供5 V、500 mA電流、功率處理能力至少為2.5 W的DC電壓源。VDD應(yīng)連接在引腳V5IN和V5IN_GND之間,為TPS51116提供工作電流,為S3和S5睡眠狀態(tài)開關(guān)以及JP1 - JP4配置跳線供電。
5.3 端接電壓源(VTT)
VTT源用于測試VTT LDO的灌電流能力。VTT必須能夠在5 V下提供3 A的電流。應(yīng)在VTT上串聯(lián)一個(gè)二極管,以防止電流流入VTT。VTT應(yīng)連接在引腳Vtt和Vtt_GND之間。VTT和LOAD3絕不能同時(shí)通電。
5.4 核心電壓負(fù)載(LOAD1)
LOAD1應(yīng)是一個(gè)設(shè)置為恒流模式的電子負(fù)載,能夠在2.5 V(DDR模式)或1.8 V(DDR2模式)下吸收0 - 10 A的電流。LOAD1應(yīng)連接在引腳VDDQ和VDDQ_GND之間。
5.5 端接電壓負(fù)載(LOAD2)
LOAD2應(yīng)是一個(gè)設(shè)置為恒流模式的電子負(fù)載,能夠在1.25 V(DDR模式)或0.9 V(DDR2模式)下吸收0 - 3 A的電流。LOAD2應(yīng)連接在引腳Vtt和Vtt_GND之間。LOAD2和VTT絕不能同時(shí)通電。
5.6 存儲單元參考電壓負(fù)載(LOAD3)
LOAD3應(yīng)是一個(gè)電子或電阻負(fù)載,從1.25 V(DDR模式)或0.9 V(DDR2模式)的VTTREF吸收小于10 mA的電流。LOAD3應(yīng)連接在引腳Vtt_Ref和V5IN_GND之間。
5.7 風(fēng)扇
由于該轉(zhuǎn)換器的一些組件在運(yùn)行時(shí)會發(fā)熱,且評估模塊未封閉以便探測電路節(jié)點(diǎn),因此建議使用一個(gè)能夠提供200 - 400 LFM風(fēng)量的小風(fēng)扇來降低組件溫度。
六、上電/下電測試程序
6.1 準(zhǔn)備工作
在ESD工作站工作,確保在給評估模塊通電之前,將任何腕帶、靴帶或墊子連接到接地參考點(diǎn)。同時(shí),應(yīng)佩戴靜電服和安全眼鏡。
6.2 連接設(shè)備
按照原理圖連接電源、負(fù)載、電壓表和電流表。
6.3 設(shè)置跳線
根據(jù)所需的操作配置設(shè)置100 - mil分流跳線。注意,在操作過程中不要嘗試更改跳線設(shè)置。
6.4 初始狀態(tài)設(shè)置
確保S3和S5設(shè)置為S4/S5狀態(tài),以確保在施加輸入電壓之前輸出初始處于禁用狀態(tài)。
6.5 上電過程
- 將VDD從0 VDC增加到5 VDC,使用V3驗(yàn)證VDD電壓在4.75 - 5.25 V之間。
- 將VIN從0 VDC增加到12 VDC,使用V1驗(yàn)證VIN電壓在11 - 13 V之間。
- 將S3和S5切換到S0狀態(tài)以啟用輸出。
6.6 負(fù)載測試
- 將LOAD1從0 ADC變化到10 ADC。
- 在啟動LOAD2之前,確保VTT關(guān)閉。
- 將LOAD2從0 A變化到3 A(在儀表A5上為0 A到 - 3 A),以測試LDO的源電流能力。
- 在打開VTT之前,將LOAD2設(shè)置為0 A。
- 改變VTT,使A5在0 A到 + 3 A之間變化,以測試LDO的灌電流能力。
- 將LOAD3從0 mA變化到10 mA,但不要超過10 mA。
- 將VIN從4.5 V變化到28 V。
- 將VDD從4.75 V變化到5.25 V。
- 使用S3和S5狀態(tài)開關(guān)測試睡眠狀態(tài)。
6.7 下電過程
- 將VIN增加到12 VDC。
- 將LOAD3減小到0 mA。
- 將LOAD2減小到0 A。
- 將LOAD3減小到0 A。
- 將VIN減小到0 V。
- 將VDD減小到0 V。
七、性能數(shù)據(jù)和特性曲線
7.1 效率
TPS51116EVM設(shè)計(jì)用于在從最大負(fù)載10 A到小于100 mA的非常輕負(fù)載的很寬負(fù)載電流范圍內(nèi)提供高效率。在非常輕負(fù)載下實(shí)現(xiàn)高效率非常重要,因?yàn)閮?nèi)存模塊在空閑狀態(tài)等待指令時(shí)消耗的電流非常少。
7.2 瞬態(tài)響應(yīng)
TPS51116EVM使用TI的D - CAP控制模式,能夠立即響應(yīng)負(fù)載瞬態(tài)。在D - CAP模式下,它可以在單個(gè)開關(guān)周期內(nèi)從標(biāo)稱占空比切換到最大占空比,并在輸出電壓恢復(fù)到調(diào)節(jié)值后立即返回標(biāo)稱占空
-
評估模塊
+關(guān)注
關(guān)注
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