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深入解析 onsemi NTR4003N 和 NVR4003N MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-19 10:35 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi NTR4003N 和 NVR4003N MOSFET

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的半導(dǎo)體器件,其性能直接影響著整個(gè)電路的表現(xiàn)。今天,我們就來詳細(xì)探討 onsemi 推出的 NTR4003N 和 NVR4003N 這兩款單通道 N 溝道小信號 MOSFET。

文件下載:NTR4003N-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTR4003N 和 NVR4003N 采用 SOT - 23 封裝,具備 30V 的耐壓和 0.56A 的電流處理能力。它們專為滿足各種應(yīng)用需求而設(shè)計(jì),尤其在筆記本電腦和便攜式設(shè)備中表現(xiàn)出色。

產(chǎn)品特性

驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)便利

低柵極電壓閾值(VGS(TH))是這兩款 MOSFET 的一大亮點(diǎn)。較低的閾值意味著在設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)電路時(shí)更加輕松,能夠降低電路的復(fù)雜度和成本。這對于追求小型化和低功耗的設(shè)備來說尤為重要,你是否在設(shè)計(jì)中也遇到過因柵極電壓閾值過高而導(dǎo)致的驅(qū)動(dòng)難題呢?

快速開關(guān)性能

低柵極電荷使得 MOSFET 能夠?qū)崿F(xiàn)快速開關(guān)。在高速電路中,快速開關(guān)可以減少開關(guān)損耗,提高電路的效率。想象一下,如果電路中的開關(guān)速度不夠快,會(huì)對整個(gè)系統(tǒng)的性能產(chǎn)生怎樣的影響呢?

靜電保護(hù)

ESD 保護(hù)的柵極設(shè)計(jì)增強(qiáng)了器件的可靠性。在實(shí)際應(yīng)用中,靜電可能會(huì)對 MOSFET 造成損壞,而 ESD 保護(hù)能夠有效防止這種情況的發(fā)生,延長器件的使用壽命。

出色的熱性能

SOT - 23 封裝提供了良好的熱性能。在長時(shí)間工作時(shí),能夠有效地將熱量散發(fā)出去,保證器件的穩(wěn)定性。對于一些對溫度敏感的應(yīng)用場景,這一特性顯得尤為關(guān)鍵。

高耐壓能力

最低 30V 的擊穿電壓額定值,使得這兩款 MOSFET 能夠在較高的電壓環(huán)境下安全工作,增加了其適用范圍。

汽車級應(yīng)用

NVR 前綴的產(chǎn)品適用于汽車和其他有特殊場地和控制變更要求的應(yīng)用,并且通過了 AEC - Q101 認(rèn)證,具備 PPAP 能力。這意味著它們在汽車電子等對可靠性要求極高的領(lǐng)域也能可靠運(yùn)行。

環(huán)保設(shè)計(jì)

這些器件無鉛且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),響應(yīng)了環(huán)保的號召,同時(shí)也滿足了一些對環(huán)保有嚴(yán)格要求的應(yīng)用場景。

應(yīng)用領(lǐng)域

筆記本電腦

  • 電平轉(zhuǎn)換器:在筆記本電腦的各種電路中,電平轉(zhuǎn)換是常見的需求。NTR4003N 和 NVR4003N 能夠?qū)崿F(xiàn)不同電平之間的轉(zhuǎn)換,確保信號的準(zhǔn)確傳輸。
  • 邏輯開關(guān):用于控制電路的通斷,實(shí)現(xiàn)邏輯功能。
  • 低端負(fù)載開關(guān):可以有效地控制負(fù)載的電源供應(yīng),提高系統(tǒng)的能效。

便攜式應(yīng)用

在便攜式設(shè)備中,對器件的尺寸和功耗要求較高。這兩款 MOSFET 的小尺寸和低功耗特性正好滿足了這些需求,能夠延長設(shè)備的電池續(xù)航時(shí)間。

電氣特性

最大額定值

參數(shù) 數(shù)值 單位
漏源電壓(VDSS) 30 V
柵源電壓(VGS) ±20 V
連續(xù)漏極電流(ID)(TA = 25°C) 0.5 A
連續(xù)漏極電流(ID)(TA = 85°C) 0.37(穩(wěn)態(tài)),0.40(t < 5s) A
功率耗散(PD)(穩(wěn)態(tài)) 0.69 W
功率耗散(PD)(t < 5s) 0.83 W
脈沖漏極電流(IDM)(tp = 10s) 1.7 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度(TJ,Tstg) -55 至 150 °C
源極電流(IS)(體二極管 1.0 A
焊接用引腳溫度(TL)(距外殼 1/8”,10s) 260 °C

需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其可靠性。

電氣特性細(xì)節(jié)

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓(V(BR)DSS):在 VGS = 0V,ID = 100μA 時(shí),最小值為 30V。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù)(V(BR)DSS / TJ):為 40mV/°C。
  • 零柵壓漏極電流(DSS):在 VGS = 0V,VDS = 30V,TJ = 25°C 時(shí),最大值為 1.0μA。
  • 柵源泄漏電流(IGSS):在 VDS = 0V,VGS = ±10V 時(shí),最大值為 ±1.0μA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓(VGS(TH)):在 VGS = VDS,ID = 250μA 時(shí),范圍為 0.8 - 1.4V。
  • 負(fù)閾值溫度系數(shù)(VGS(TH)/TJ):為 3.4mV/°C。
  • 漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on)):在 VGS = 4.0V,ID = 10mA 時(shí),典型值為 1.0 - 1.5Ω;在 VGS = 2.5V,ID = 10mA 時(shí),典型值為 1.5 - 2.0Ω。
  • 正向跨導(dǎo)(9FS):在 VDS = 3.0V,ID = 10mA 時(shí),典型值為 0.33S。

電荷和電容特性

  • 輸入電容(Ciss):在 VGS = 0V,f = 1.0MHz,VDS = 5.0V 時(shí),范圍為 21 - 42pF。
  • 輸出電容(Coss):范圍為 19.7 - 40pF。
  • 反向傳輸電容(Crss):范圍為 8.1 - 16pF。
  • 總柵極電荷(QG(TOT)):典型值為 1.15nC。
  • 閾值柵極電荷(QG(TH)):在 VGS = 5.0V,VDS = 24V 時(shí),典型值為 0.15nC。
  • 柵源柵極電荷(QGS):在 ID = 0.1A 時(shí),典型值為 0.32nC。
  • 柵漏電荷(QGD):典型值為 0.23nC。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間(td(on)):在 VGS = 4.5V,VDD = 5.0V,ID = 0.1A,RG = 50Ω 時(shí),典型值為 16.7ns。
  • 上升時(shí)間(tr):典型值為 47.9ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間(d(off)):典型值為 65.1ns。
  • 下降時(shí)間(tf):典型值為 64.2ns。

源漏二極管特性

  • 正向二極管電壓(VSD):在 TJ = 25°C,Is = 10mA 時(shí),范圍為 0.65 - 0.7V;在 TJ = 125°C 時(shí),典型值為 0.45V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間(RR):在 VGS = 0V,dlS/dt = 8A/μs,Is = 10mA 時(shí),典型值為 14ns。

熱阻額定值

參數(shù) 最大值 單位
結(jié)到環(huán)境熱阻(RBA)(穩(wěn)態(tài),注 1) 180 °C/W
結(jié)到環(huán)境熱阻(RBA)(t < 10s,注 1) 150 °C/W
結(jié)到環(huán)境熱阻(RBA)(穩(wěn)態(tài),注 2) 300 °C/W

注 1:表面安裝在 FR4 板上,使用 1 平方英寸焊盤尺寸(Cu 面積 = 1.127 平方英寸 [1oz] 包括走線)。注 2:表面安裝在 FR4 板上,使用最小推薦焊盤尺寸。

封裝與訂購信息

封裝

采用 SOT - 23 封裝,這種封裝尺寸小巧,適合在空間有限的設(shè)備中使用。同時(shí),其引腳排列也有多種樣式可供選擇,以滿足不同的應(yīng)用需求。

訂購信息

器件型號 封裝 包裝 數(shù)量
NTR4003NT1G(無鉛) SOT - 23 卷帶包裝 3000/卷
NTR4003NT3G(無鉛) SOT - 23 卷帶包裝 10000/卷
NVR4003NT3G(無鉛) SOT - 23 卷帶包裝 10000/卷

總結(jié)

onsemi 的 NTR4003N 和 NVR4003N MOSFET 以其出色的性能和豐富的特性,為電子工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)提供了更多的選擇。無論是在筆記本電腦、便攜式設(shè)備還是汽車電子等領(lǐng)域,它們都能發(fā)揮重要的作用。在實(shí)際應(yīng)用中,我們需要根據(jù)具體的需求,合理選擇器件,并注意其電氣特性和使用條件,以確保電路的穩(wěn)定運(yùn)行。你在使用 MOSFET 時(shí),有沒有遇到過一些特殊的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)。

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