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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動測試機,用于檢測集成電路功能之完整性, 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程, 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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噪聲指數(shù)(Noise Figure)主要測量的是組件的信噪比(Signal-to-noise Ratio, SNR)性能,信噪比是誤碼率(BER)和載波...
2018-05-23 標(biāo)簽:ate 3k 0
采用通用性和多線程的設(shè)計思想,研制一種通用測試平臺管理系統(tǒng),具體實現(xiàn)分為配置和運行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲定義等功能。運行根據(jù)配置參數(shù)按...
2018-05-23 標(biāo)簽:ate 3k 0
ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備
多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備,迎接集成電路融合時代的機遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地,從而持續(xù)推動全...
DFT全稱為Design for Test,可測性設(shè)計。就是說我們設(shè)計好一個芯片后,在仿真時可能99%的用例都通過了,怎么保證流片出來的實際芯片也能正常工作呢?
在改進功能的同時提供高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動測試設(shè)備(ATE)。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項準(zhǔn)確的測試并減少故障和錯誤的發(fā)生...
2023-06-29 標(biāo)簽:ATE自動測試設(shè)備 2.6k 0
電子設(shè)備測試的復(fù)雜性差異很大,從最簡單的類型(手動測試)到最復(fù)雜的大型自動測試設(shè)備(ATE)。在簡單的手動測試和大規(guī)模ATE之間,是低預(yù)算和中等規(guī)模的測...
如何校準(zhǔn)ATE引腳電子設(shè)備的電平設(shè)置DAC
以下是如何通過增益和偏移調(diào)整了解其功能、誤差和校準(zhǔn)來校準(zhǔn) ATE 引腳電子器件的電平設(shè)置 DAC。
2022-08-10 標(biāo)簽:dac數(shù)模轉(zhuǎn)換器ATE 2.2k 0
基于特征點法的視覺SLAM系統(tǒng)很難應(yīng)用于稠密建圖,且容易丟失動態(tài)對象。而基于直接法的SLAM系統(tǒng)會跟蹤圖像幀之間的所有像素,因此在動態(tài)稠密建圖方面可以取...
其一是實際環(huán)境中的動態(tài)物體不一定被預(yù)訓(xùn)練,另一是算法無法區(qū)分"動態(tài)物體"和"靜止但可能移動的物體"。
本文詳細介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法,該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負電壓軌,并且只需要一個雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個雙向(拉電流和...
大功率自動化測試設(shè)備 (ATE) 系統(tǒng)的開發(fā)為測試工程師帶來了眾多挑戰(zhàn)。但測試是必要的,它能夠確保產(chǎn)品的安全性以及產(chǎn)品達到所發(fā)布的性能規(guī)格。
2025-03-31 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)ATE測試設(shè)備 1.8k 0
傳統(tǒng)電源測試,需要工程師手動設(shè)置直流電子負載的參數(shù)進行拉載測試,人工記錄電源在不同負載狀態(tài)下的輸出參數(shù),再由操作者根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷電源是否合格,測試效率極其...
如何選擇和應(yīng)用機電繼電器實現(xiàn)多功能且可靠的信號切換
作者:Bill Schweber 投稿人:DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動測試設(shè)備 (ATE) 和安全設(shè)備等應(yīng)用越來...
高頻干簧繼電器:網(wǎng)絡(luò)分析儀的高效“搭檔”
無論是用于測量模擬連續(xù)波高頻的特性,還是快速數(shù)字脈沖的上升和下降時間,網(wǎng)絡(luò)分析儀已成為射頻領(lǐng)域不可或缺的工具。隨著技術(shù)的不斷進步,傳統(tǒng)的電磁繼電器已逐漸...
2025-04-02 標(biāo)簽:繼電器測試測量網(wǎng)絡(luò)分析儀 1.8k 0
ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法,專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負載、PMU和DPS。
在集成電路(IC)制造領(lǐng)域,測試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而,測試過程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通過優(yōu)化接口電路...
干簧繼電器:工業(yè)數(shù)據(jù)采集的可靠之選
在工業(yè)環(huán)境中,數(shù)據(jù)采集是一項充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)。傳感器(如熱電偶)通常輸出微弱的電壓信號,且往往位于偏遠位置。將這些信號完整無損地傳輸?shù)街飨到y(tǒng)進行放大、存儲...
2025-03-03 標(biāo)簽:測試測量數(shù)據(jù)采集ATE 1.5k 0
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